TMR-Kopf-Aufbau mit isolierenden Schichten zum Vermindern von Kurzschlüssen

    公开(公告)号:DE102016100042A1

    公开(公告)日:2016-07-07

    申请号:DE102016100042

    申请日:2016-01-04

    Applicant: IBM

    Abstract: Eine Vorrichtung gemäß einer Ausführungsform enthält eine Wandler-Struktur mit: einer unteren Abschirmung, in deren oberer Oberfläche sich Ausnehmungen befinden; einer oberen Abschirmung, die über der unteren Abschirmung gebildet ist; einem Sensor, bei dem ein Stromfluss senkrecht zur Ebene erfolgt, zwischen der oberen und der unteren Abschirmung, wobei die Ausnehmungen an gegenüberliegenden Seiten des Sensors ausgebildet sind; und einer ersten isolierenden Schicht in den Ausnehmungen in der oberen Oberfläche der unteren Abschirmung. Eine Vorrichtung gemäß einer weiteren Ausführungsform enthält eine Wandler-Struktur mit: einer unteren Abschirmung; einer oberen Abschirmung, die über der unteren Abschirmung gebildet ist, wobei die obere Abschirmung in ihrer unteren Oberfläche Ausnehmungen hat; einem Sensor, bei dem ein Stromfluss senkrecht zur Ebene erfolgt, zwischen der oberen und der unteren Abschirmung, wobei die Ausnehmungen an gegenüberliegenden Seiten des Sensors positioniert sind; und einer ersten isolierenden Schicht in der unteren Oberfläche der oben Abschirmung.

    Abriebtestverfahren und -vorrichtungen

    公开(公告)号:DE102013200213A1

    公开(公告)日:2013-09-05

    申请号:DE102013200213

    申请日:2013-01-10

    Applicant: IBM

    Abstract: Ein System gemäß einer Ausführungsform weist einen Träger zum Aufnehmen eines Moduls; einen Transportmechanismus zum Führen eines Bandes über eine Bandtragefläche des Moduls; und eine Messeinheit zum Messen eines Ausmaßes Abnutzung einer Beschichtung auf einer Bandtragefläche des Moduls auf. Ein Modul gemäß einer Ausführungsform weist einen Körper mit einer Bandtragefläche, wobei der Körper ein ungefähres Bandtrageflächenprofil und Abmessungen als ein Modul von Interesse aufweist; und eine Beschichtung auf der Bandtragefläche auf. Ein Verfahren gemäß einer Ausführungsform weist Messen einer anfänglichen Dicke auf einer Bandtragefläche eines Moduls in einem Träger; Führen eines Bandes über die Bandtragefläche; und Messen einer verbleibenden Dicke der Beschichtung, in Abständen auf.

Patent Agency Ranking