公开(公告)号：DE102021128867A1

公开(公告)日：2022-06-02

申请号：DE102021128867

申请日：2021-11-05

Applicant: IBM

Inventor： XU JIAN ,  HU GUO QIANG ,  DING YUAN YUAN ,  LI FAN ,  LI JINFENG ,  ZHU JUN

IPC: G06V20/60 ,  G06V10/764

Abstract: Ein Prozessor kann ein Bild der Materialsammlung mit einer Mehrzahl von Objekten empfangen. Der Prozessor kann die Anomalie in der Mehrzahl von Objekten erkennen. Der Prozessor kann einen Begrenzungsrahmen für die Anomalie erzeugen. Der Prozessor kann einen oder mehrere Entnahmepunkte auf der Anomalie erzeugen. Der eine oder die mehreren Entnahmepunkte können an mindestens einem Schwerpunkt der Anomalie konfiguriert sein. Der Prozessor kann die Anomalie aus der Materialsammlung über den einen oder die mehreren Entnahmepunkte entfernen.

公开(公告)号：DE112020002213T5

公开(公告)日：2022-03-17

申请号：DE112020002213

申请日：2020-06-12

Applicant: IBM

Inventor： LI FAN ,  HU GUO QIANG ,  ZHU SHENG NAN ,  ZHU JUN ,  HUANG JING CHANG ,  JI PENG ,  DING YUAN YUAN

IPC: G06V10/98

Abstract: Es werden ein Verfahren, eine Vorrichtung und ein Computerprogrammprodukt zur Bildverarbeitung vorgeschlagen. In dem Verfahren wird ermittelt, ob ein erstes Bild einen Defekt angibt, der mit einem Zielobjekt verknüpft ist. In Reaktion auf die Ermittlung, dass das erste Bild den Defekt angibt, erhält man auf Grundlage des ersten Bildes ein zweites Bild, in dem der Defekt nicht vorhanden ist. Der Defekt wird durch den Vergleich des ersten Bildes mit dem zweiten Bild ermittelt. Auf diese Weise kann der mit dem Zielobjekt verknüpfte Defekt in dem Bild genau und effizient identifiziert oder segmentiert werden.