公开(公告)号：DE112011103361T5

公开(公告)日：2013-08-01

申请号：DE112011103361

申请日：2011-11-18

Applicant: IBM

Inventor： EBBERS JONATHAN P ,  SHUMA STEPHEN G ,  GOODNOW KENNETH J ,  TWOMBLY PETER A

IPC: G06F21/00

Abstract: Es werden Strukturen und Verfahren zum Durchführen einer zerstörungsfreien und sicheren Deaktivierung von Funktionalität eines integrierten Schaltkreises (IC) bereitgestellt. Eine Struktur (100) zum Ermöglichen einer zerstörungsfreien und sicheren Deaktivierung und Reaktivierung des integrierten Schaltkreises (IC) enthält eine mikroelektromechanische Struktur „MEMS” (105), die zunächst in einen Chipfreigabezustand gesetzt ist. Die Struktur enthält außerdem einen Aktivierungsschaltkreis (110), der steuerbar ist, um die MEMS-Einheit auf der Grundlage einer erkannten vorbestimmten Bedingung des IC in einen Fehlerzustand zu setzen. Der IC wird deaktiviert, wenn sich die MEMS-Einheit (105) im Fehlerzustand befindet.

公开(公告)号：GB2500149A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：GB201311064

申请日：2011-11-18

Applicant: IBM

Inventor： EBBERS JONATHAN P ,  GOODNOW KENNETH J ,  SHUMA STEPHEN G ,  TWOMBLY PETER A

IPC: G06F21/87 ,  G06F21/00 ,  G06F21/70

Abstract: Structures and methods are provided for performing non-destructive and secure disablement of integrated circuit (IC) functionality. A structure (100) for enabling non-destructive and secure disablement and re-enablement of the IC includes a micro- electrical mechanical structure "MEMS" (105) initially set to a chip enable state. The structure also includes an activation circuit (110) operable to set the MEMS device, (105) to an error state based on a detected predetermined condition of the IC. The IC is disabled when the MEMS device (105) is in the error state.