公开(公告)号：DE102021128930A1

公开(公告)日：2022-06-09

申请号：DE102021128930

申请日：2021-11-08

Applicant: IBM

Inventor： DOUSKEY STEVEN MICHAEL ,  FORLENZA ORAZIO PASQUALE ,  KUSKO MARY P ,  MOTIKA FRANCO ,  SALEM GERARD MICHAEL

IPC: G01R31/3187

Abstract: Ein Verfahren umfasst ein Ausführen eines Tests an einer ersten Struktur und einer zweiten Struktur einer eingebauten Selbsttestschaltung. Sowohl die erste wie die zweite Struktur enthalten eine Mehrzahl von Flipflops, die als eine Mehrzahl von Blockketten angeordnet sind. Das Verfahren umfasst auch ein Entladen eines ersten Ergebnisses des Tests von der Mehrzahl von Blockketten der ersten Struktur und eines zweiten Ergebnisses des Tests von der Mehrzahl von Blockketten der zweiten Struktur. Das Verfahren umfasst ferner auf Grundlage einer fehlenden Übereinstimmung des ersten Ergebnisses mit dem zweiten Ergebnis ein Ermitteln, dass die Mehrzahl von Blockketten der ersten Struktur ein fehlerhaftes Flipflop enthält.