Comparator circuit assembly especially for semiconductor component
    1.
    发明专利
    Comparator circuit assembly especially for semiconductor component 审中-公开
    比较器电路组件特别适用于半导体元件

    公开(公告)号:JP2006217612A

    公开(公告)日:2006-08-17

    申请号:JP2006022540

    申请日:2006-01-31

    Inventor: ACHARYA PRAMOD

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a comparator circuit assembly, especially a comparator/receiver circuit assembly and a semiconductor component having such a circuit assembly.
    SOLUTION: The comparator/receiver circuit assembly has: first and second transistors (8, 9) in which control input parts are mutually connected; a third transistor (10) connected to the first transistor (8) and in which an input signal (VIN) is applied to a control input part; and a fourth transistor (11) connected to the second transistor (9) and in which a reference signal (VREFmod) is applied to a control input part, wherein the control input part of the third transistor (10) is connected to the first and second transistors (8, 9) via a coupling device (22). The semiconductor component has such a circuit assembly.
    COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题:提供比较器电路组件,特别是具有这种电路组件的比较器/接收器电路组件和半导体部件。 解决方案:比较器/接收器电路组件具有:第一和第二晶体管(8,9),其中控制输入部分相互连接; 连接到第一晶体管(8)的第三晶体管(10),其中输入信号(VIN)被施加到控制输入部分; 以及连接到所述第二晶体管(9)的第四晶体管(11),并且其中参考信号(VREFmod)被施加到控制输入部分,其中所述第三晶体管(10)的控制输入部分连接到所述第一晶体管 第二晶体管(8,9)经由耦合器件(22)。 半导体部件具有这样的电路组件。 版权所有(C)2006,JPO&NCIPI

    2.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102005026195A1

    公开(公告)日:2006-01-05

    申请号:DE102005026195

    申请日:2005-06-07

    Inventor: ACHARYA PRAMOD

    Abstract: The invention is aimed at providing a novel semi-conductor component, as well as a novel process for reading test data. There is a process for reading test data is made available, including reading test data generated during a semi-conductor component test procedure from at least one test data register of a semi-conductor component, storing the test data in at least one useful data memory cell provided on the semi-conductor component, and reading the test data from the at least one useful data memory cell.

    Schaltkreis und Verfahren zum Schalten einer Verbindung

    公开(公告)号:DE102008023126B4

    公开(公告)日:2012-08-30

    申请号:DE102008023126

    申请日:2008-05-09

    Abstract: Schaltkreis, der folgendes umfasst: einen an eine erste Versorgungsspannung (VSS) gekoppelten Anschluss (201); einen geschalteten Bus (210; 315), der mehrere Knoten umfasst; mehrere Schalter (220; 318), wobei jeder einzelne der Schalter (220; 318) zwischen einen der Knoten und den Anschluss (201) gekoppelt ist, eine an den geschalteten Bus (210; 315) gekoppelte Spannungsdetektorschaltung (250; 360) zum Detektieren der Spannung des geschalteten Busses (210; 315), und eine an den geschalteten Bus (210; 315) gekoppelte Thyristorschaltung, wobei der Schaltkreis ausgelegt ist, einen der folgenden Zustände einzunehmen: einen verbundenen Zustand, in dem alle Schalter geschlossen sind; einen getrennten Zustand, in dem alle Schalter offen sind, und lossen und zweite Schalter offen sind, und wobei während des verbundenen Zustands die Thyristorschaltung eine der ersten Versorgungsspannung (VSS) entsprechende erste Ausgangsspannung (TIE0) und eine einer zweiten Versorgungsspannung (VDD) entsprechende zweite Ausgangsspannung...

    6.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE10001648C2

    公开(公告)日:2002-03-14

    申请号:DE10001648

    申请日:2000-01-17

    Abstract: An integrated circuit containing a number of subcircuits is described. Each of the subcircuits contains a driver circuit for driving in each case one controllable voltage source on the basis of a reference value. The driver circuit has a memory unit for storing a reference value and a terminal for outputting a first reference value or for inputting a second reference value. A signal line, which is used for transmitting a signal, is connected to the terminal of the driver circuit of each of the subcircuits. The driving by the driver circuit is effected in each subcircuit on the basis of a common reference value that is transmitted via the signal line. Thus, the time needed for setting the reference values for all subcircuits is relatively short.

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