Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate which is not easily curved and is excellent in heat radiation efficiency, and to provide a power semiconductor module. SOLUTION: The power semiconductor module 1 is disclosed. One embodiment includes the multilayer substrate 3 having a plurality of metal layers 11, 12 and 13 and a plurality of ceramic layers 21 and 22, where the ceramic layers are located between the metal layers. The power semiconductor module 1 may be pressed directly against a heat sink 9 with the multilayer substrate 3 ahead. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a current/temperature measurement method and a current/temperature measuring device in an electronic power circuit. SOLUTION: In the current/temperature measurement method, parasitic components R1, R2, such as a half-bridge circuit (HB) in a three-phase converter, are used. First, a measurement value obtained inaccurately from the parasitic components R1, R2 is compensated during a manufacturing process, such as an electrical final inspection in an electronic power circuit, regarding the current/temperature dependency or voltage dependency of the components. An evaluation process performed during operation includes a process for compensating the temperature or current dependency in the sensor components R1, R2 by using two mutually, linearly, independent measurements and appropriate arithmetic operation in an evaluation unit AE. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
Abstract:
The invention relates to a power semiconductor assembly comprising a support (50), a first semiconductor chip (10) and a second semiconductor chip (20). The first semiconductor chip (10) has a first main connection (11) and a second main connection (12) that are disposed on opposite sides of the first semiconductor chip (10). The second semiconductor chip (20) has a first main connection (21) and a second main connection (22) that are disposed on opposite sides of the second semiconductor chip (20). The first side (51) of the carrier (50) is provided with a metallized structure (60) that has a first section (61) and a spaced-apart second section (62). The first semiconductor chip (10) is disposed on the first side (51) of the carrier (50) and is mechanically and electrically connected to the first section (61) via its second main connection (12). The second semiconductor chip (20) is disposed on the first side (51) of the carrier (50) and is mechanically and electrically connected to the second section (62) via its second main connection (22). The first connection (11) of the semiconductor chip (10) and the first main connection (21) of the second semiconductor chip (20) are electrically connected to each other and to a first connection contact (71) provided for connecting an external load (100) or an external supply voltage.
Abstract:
The invention relates to a power converter arrangement (1) comprising at least one power converter (2) and at least one power converter housing (3), the power converter having a power component (21) with at least one power semiconductor element (22) and the power converter housing having an interior space (31) inside of which the power semiconductor element of the power component of the power converter is placed. At least one additional power component (81) of the power converter is placed in the interior space of the power converter housing, and an electric contact surface of the power semiconductor element and the additional power component of the power converter are electrically insulated from one another with the aid of an electrical insulation film (7) placed on said power semiconductor element. The power component is, for example, a power circuit breaker. The power circuit breaker is placed inside the power converter housing in an unhoused manner. An encapsulation of the power circuit breaker with silicone is unnecessary. This results in a simple and compact design.
Abstract:
Lot umfassend ein Weichlot mit einem Schmelzpunkt von weniger als 450°C, in das eine Anzahl von Teilchen (408) eingebettet ist, die jeweils eine Länge (l408) größer 50 µm aufweisen und die in ihrer Gesamtheit einen Anteil von mindestens 20 Vol% aber von weniger als 60 Vol% des Lotes (600) ausmachen, wobei die Teilchen (408) aus einer intermetallischen Phase gebildet oder mit einer intermetallischen Phase beschichtet sind.
Abstract:
Eine Schaltung und ein Verfahren zum Ansteuern eines Leistungshalbleiterbauelements enthalten das Empfangen und Verarbeiten eines Steuersignals, um ein verarbeitetes Steuersignal bereitzustellen, das Auswerten von zumindest eines von einer Spannung über Laststrecke des Leistungshalbleiters und einem Strom durch die Laststrecke des Leistungshalbleiters, Bereistellen zumindest eines analogen Rückkopplungssignals, das zumindest eines von der Spannung über der Laststrecke des Leistungshalbleiters und dem Strom durch die Laststrecke des Leistungshalbleiters repräsentiert, Auswerten zumindest von einem von der Spannung über der Laststrecke des Leistungshalbleiters und dem Strom durch die Laststrecke des Leistungshalbleiters, Bereitstellen zumindest eines digitalen Rückkopplungssignals, das zumindest eines von der Spannung über der Laststrecke des Leistungshalbleiters und dem Strom durch die Laststrecke des Leistungshalbleiters repräsentiert, und Erzeugen von zumindest eines von einem Steuerungsausgangsstrom oder einer Steuerungsausgangsspannung abhängig von dem verarbeiteten Steuersignal, dem zumindest einen analogen Rückkopplungssignal und dem zumindest einen digitalen Rückkopplungssignal.
Abstract:
Leistungshalbleitermodul, das aufweist: ein Zwischenkreiskondensator (CDC) zur Glättung einer gleichgerichteten Eingangs-Wechselspannung (VDC), zumindest ein Leistungshalbleiterbauelement (40), und zumindest einem Bandleiterpaar (101) mit einem ersten Bandleiter (101a) und einem zweiten Bandleiter (101b), das den Zwischenkreiskondensator (CDC) mit dem Leistungshalbleiterbauelement (40) verbindet, wobei der erste Bandleiter (101a) parallel zu dem zweiten Bandleiter (101b) liegt, die beiden Bandleiter (101a, 101b) durch eine dünne Isolationsschicht (102) getrennt sind und in entgegengesetzter Richtung Strom (iDC) führen, um die Streuinduktivität des Bandleiterpaars (101) zu reduzieren, gekennzeichnet durch ein transformatorisch an das Bandleiterpaar (101) gekoppeltes Dämpfungsglied (LD, RD), das zumindest eine Leiterschleife (LD) und einen in Serie zu der eine Leiterschleife (LD) geschalteten ohmschen Widerstand (RD) aufweist, wobei die Leiterschleife (LD) zumindest teilweise durch Öffnungen in dem ersten und/oder zweiten Bandleiter (101a, 101b) verläuft und derart angeordnet ist, dass sie von einem Magnetfeld durchsetzt wird, welches von einem Laststrom (iDC) durch das Bandleiterpaar (101) verursacht wird.
Abstract:
Eine Treiberschaltung umfasst eine Treiberausgangsstufe und einen Operationsverstärker. Die Treiberausgangsstufe weist einen High-Pegel-Spannungseingang und einen Low-Pegel-Spannungseingang auf und ist zum Erzeugen einer Ausgangsspannung ausgebildet, die auf eine an die Treiberausgangsstufe angelegte Gate-Spannung reagiert. Der Operationsverstärker ist zum Einstellen der an die Treiberausgangsstufe angelegten Gate-Spannung ausgebildet, so dass die Ausgangsspannung einem Steuersignal entspricht, das am Operationsverstärker eingegeben wird. Eine erste Versorgungsspannung, die mit dem High-Pegel-Spannungseingang der Treiberausgangsstufe verbunden ist, ist größer als ein Maximalwert des Steuersignals, und eine zweite Versorgungsspannung, die mit dem Low-Pegel-Spannungseingang der Treiberausgangsstufe verbunden ist, ist kleiner als ein Minimalwert des Steuersignals.
Abstract:
Eine Schaltungsanordnung weist eine Anzahl von wenigstens zwei Halbleiterchips (1) auf, die in einer Reihe (31) hintereinander angeordnet sind. Eine jeder der Halbleiterchips (1) weist einen Halbleiterkörper (10) auf, sowie einen ersten und einen zweiten Lastanschluss (11, 12). Die ersten Lastanschlüsse (11) sind elektrisch leitend miteinander verbunden, und die zweiten Lastanschlüsse (12) sind ebenfalls elektrisch leitend miteinander verbunden. Die Anordnung weist weiterhin eine erste Laststrom-Sammelleiterbahn (71) auf, sowie einen mit dieser elektrisch leitend verbundenen externen Anschluss (101). Für jeden der Halbleiterchips (1) ist wenigstens ein elektrischer Verbindungsleiter (4) vorhanden, der an einer ersten Verbindungsstelle (41) mit dem ersten Lastanschluss (11) des betreffenden Halbleiterchips (1) elektrisch leitend verbunden ist, sowie an einer zweiten Verbindungsstelle (42) mit der ersten Laststrom-Sammelleiterbahn (71). Für jeden ersten und zweiten der Halbleiterchips (1), deren zweite Verbindungsstellen (42) entlang der ersten Laststrom-Sammelleiterbahn (71) unmittelbar benachbarte sämtlicher zweiter Verbindungsstellen (42) bilden und die so zueinander angeordnet sind, dass sich die zweite Verbindungsstelle (421, 422, 423) des ersten der Halbleiterchips (11, 12, 13) entlang der ersten Laststrom-Sammelleiterbahn (71) zwischen der zweiten Verbindungsstelle (422, 423, 424) des zweiten der Halbleiterchips (12, 13, 14) und dem externen Anschluss (101) befindet, weist die Gesamt-Induktivität (L2, L3, L4) sämtlicher Verbindungsleiter (4), mit denen der erste Lastanschluss (11) des zweiten der Halbleiterchips (12, 13, 14) an die erste Laststrom-Sammelleiterbahn (71) angeschlossen ist, wenigstens das Zweifache der Induktivität () auf, die der zwischen der zweiten Verbindungsstelle (421, 422, 423) des ersten der Halbleiterchips (11, 12, 13) und der zweiten Verbindungsstelle (422, 423, 424) des zweiten der Halbleiterchips (12, 13, 14) ausgebildete Abschnitt (71-2, 71-3, 71-4) der erste Laststrom-Sammelleiterbahn (71) besitzt.
Abstract:
Ein Halbleitermodul (100) umfasst ein Gehäuse (6) mit zwei Außenwandabschnitten (61), die an entgegengesetzten Seiten des Gehäuses (6) angeordnet sind, einen Deckel (62), der sich von einem der Außenwandabschnitte (61) zu dem anderen der Außenwandabschnitte (61) erstreckt, sowie eine zwischen den Außenwandabschnitten (61) angeordnete und von diesen beabstandete erste Schachtwand (63), die einen ersten Schacht (65) begrenzt. Weiterhin weist das Halbleitermodul (100) einen Schaltungsträger (20) mit einer Oberseite (201) auf, sowie einen Halbleiterchip (8), der in dem Gehäuse (6) und auf der Oberseite (201) des Schaltungsträgers (20) angeordnet ist. Ein elektrisch leitendes erstes Anschlusselement (91, 92) verläuft durch den ersten Schacht (65) und erstreckt sich aus dem Gehäuse (6) heraus. Zwischen dem Schaltungsträger (20) und dem Deckel (62) sowie teilweise zwischen dem ersten Anschlusselement (91, 92) und der ersten Schachtwand (63) befindet sich eine erste Vergussmasse (51), die den ersten Schacht (65) in Zusammenwirkung mit dem ersten Anschlusselement (91, 92) abdichtet. An ihrer dem Schaltungsträger (20) zugewandten Seite weist die erste Schachtwand (63) ein unteres Ende (631) auf, das in die erste Vergussmasse eintaucht (51). Weiterhin befindet sich zwischen der ersten Vergussmasse (51) und dem Deckel (62) sowie teilweise zwischen dem ersten Anschlusselement (91, 92) und der ersten Schachtwand (63) eine zweite Vergussmasse (52), die den ersten Schacht (65) in Zusammenwirkung mit dem ersten Anschlusselement (91, 92) abdichtet. In dem Gehäuse (6) sind außerdem ein oder mehrere Volumenbereiche (60) vorhanden, die jeweils unmittelbar an die erste Vergussmasse (51) angrenzen und mit Gas gefüllt sind.