Abstract:
Halbleiterbauelement, umfassend:ein Gebiet aus monokristallinem Silizium (110) mit einer Verjüngungsstruktur (120) zum Empfangen von Licht;ein erstes vergrabenes Oxidgebiet (130), das mit einer ersten Seite an die Verjüngungsstruktur (120) angrenzt, wobei das erste vergrabene Oxidgebiet (130) das Licht zu einem ersten Ende der Verjüngungsstruktur (120) umlenken soll;ein Gebiet aus polykristallinem Silizium (132), das an eine zweite Seite des ersten vergrabenen Oxidgebiets (130) gegenüber der ersten Seite angrenzt; undeinen Fotodetektor, der an das Gebiet aus monokristallinem Silizium (110) angrenzt, wobei der Fotodetektor gekoppelt ist zum Empfangen des Lichts über das erste Ende und zum Generieren eines elektrischen Signals auf der Basis des Lichts,wobei eine Grabenstruktur zumindest teilweise durch eine Ausnehmung des ersten vergrabenen Oxids (130) zum Gebiet aus polykristallinem Silizium (132) ausgebildet ist, wobei eine Bodenseite des Fotodetektors an in der Grabenstruktur angeordnetes Silizium (126) angrenzt.
Abstract:
Techniques and mechanisms for providing efficient direction of light to a photodetector with a tapered waveguide structure. In an embodiment, a taper structure of a semiconductor device comprises a substantially single crystalline silicon. A buried oxide underlies and adjoins the monocrystalline silicon of the taper structure, and a polycrystalline Si is disposed under the buried oxide. During operation of the semiconductor device light is redirected in the taper structure and received via a first side of a Germanium photodetector. In another embodiment, one or more mirror structures positioned on a far side of the Germanium photodetector may provide for a portion of the light to be reflected back to the Germanium photodetector.
Abstract:
Techniken und Mechanismen zum Bereitstellen einer effizienten Lenkung von Licht zu einem Fotodetektor mit einer sich verjüngenden Wellenleiterstruktur. Bei einer Ausführungsform umfasst eine Verjüngungsstruktur eines Halbleiterbauelements ein im Wesentlichen einkristallines Silizium. Ein vergrabenes Oxid liegt unter dem monokristallinen Silizium der Verjüngungsstruktur und grenzt daran an, und ein polykristallines Si ist unter dem vergrabenen Oxid angeordnet. Während des Betriebs des Halbleiterbauelements wird Licht in der Verjüngungsstruktur umgelenkt und über eine erste Seite eines Germanium-Fotodetektors empfangen. Bei einer weiteren Ausführungsform können eine oder mehrere, auf einer fernen Seite des Germanium-Fotodetektors positionierte Spiegelstrukturen dafür sorgen, dass ein Teil des Lichts zum Germanium-Fotodetektor zurückreflektiert wird.