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公开(公告)号:DE102005063680B3
公开(公告)日:2021-06-17
申请号:DE102005063680
申请日:2005-03-18
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: GUGEL HILMAR DR , SEYFRIED VOLKER DR
Abstract: Ein Phasenfilter (1) für einen Lichtstrahl in einem Mikroskop, insbesondere für die STED-Mikroskopie, mit mindestens einem ersten Teilbereich (18) und mindestens einem bezüglich des mindestens einen ersten Teilbereichs (18) komplementären zweiten Teilbereich (19), wobei mit dem mindestens einen ersten Teilbereich (18) wechselwirkendes Licht und mit dem mindestens einen zweiten Teilbereich (19) wechselwirkendes Licht - nach der Wechselwirkung - um 180° verschiedene Phasen aufweisen, ist im Hinblick auf eine besonders hohe Auflösung eines mit dem Phasenfilter (1) betriebenen Mikroskops derart ausgestaltet und weitergebildet, dass die Teilbereiche (18, 19) derart relativ zueinander angeordnet sind, dass sie komplementär drehsymmetrisch bezüglich einer Drehung um 360°/(2*n) mit n>2 um eine Drehachse (22) sind, wobei durch eine derartige Drehung der mindestens eine erste Teilbereich (18) in seinen komplementären mindestens einen zweiten Teilbereich (19) übergeht.
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公开(公告)号:DE102006009831B4
公开(公告)日:2013-07-04
申请号:DE102006009831
申请日:2006-03-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: DYBA MARCUS DR , GUGEL HILMAR DR
Abstract: Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben, wobei die zu untersuchende Probe (1) durch ein Objektiv (3, 13) beleuchtet wird und wobei die Probe (1) eine Substanz umfasst, die wiederholt von einem ersten Zustand (Z1, A) in einen zweiten Zustand (Z2, B) überführbar ist, wobei sich die ersten und die zweiten Zustände (Z1, A; Z2, B) in mindestens einer optischen Eigenschaft voneinander unterscheiden, umfassend die Schritte, dass die Substanz in einem zu erfassenden Probenbereich (P) zunächst in den ersten Zustand (Z1, A) gebracht wird und dass mittels eines optischen Signals (4) der zweite Zustand (Z2, B) induziert wird, wobei innerhalb des zu erfassenden Probenbereichs (P) räumlich begrenzte Teilbereiche gezielt ausgespart werden, und wobei das optische Signal (4) in Form einer Fokuslinie (10) mit einem Querschnittsprofil mit mindestens einer Intensitätsnullstelle (5) mit seitlich benachbarten Intensitätsmaxima (9) bereitgestellt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Fokuslinie (10) mittels einer linienförmigen Ausleuchtung in einer zur Pupille (P1) des Objektivs (3, 13) konjugierten Pupillenebene (P3) – Pupillenlinie (14) – und durch Phasenmodulation entlang der Pupillenlinie (14) erzeugt wird, wobei die Phasenmodulation derart vorgenommen wird, dass entlang der Pupillenlinie (14) ein oder mehrere Phasensprünge eingeführt werden.
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公开(公告)号:DE102005013116B4
公开(公告)日:2022-05-25
申请号:DE102005013116
申请日:2005-03-18
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: GUGEL HILMAR DR , SEYFRIED VOLKER DR
Abstract: Phasenfilter (1) für einen Lichtstrahl in einem Mikroskop, mit mindestens einem ersten Teilbereich (18) und mindestens einem bezüglich des mindestens einen ersten Teilbereichs (18) komplementären zweiten Teilbereich (19), wobei mit dem mindestens einen ersten Teilbereich (18) wechselwirkendes Licht und mit dem mindestens einen zweiten Teilbereich (19) wechselwirkendes Licht - nach der Wechselwirkung - um 180° verschiedene Phasen aufweisen, und wobei die Teilbereiche (18, 19) derart relativ zueinander angeordnet sind, dass sie bezüglich einer Spiegelung an einer ersten Achse (20) komplementär symmetrisch sind, wobei durch die Spiegelung der mindestens eine erste Teilbereich (18) in seinen komplementären mindestens einen zweiten Teilbereich (19) übergeht, und dass sie bezüglich einer Spiegelung an einer zur ersten Achse (20) senkrechten Achse (21) spiegelsymmetrisch sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Anordnung (18, 19) der Teilbereiche eine Rotationssymmetrie um eine weitere Achse (23) aufweist.
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公开(公告)号:DE102006009832B4
公开(公告)日:2013-07-04
申请号:DE102006009832
申请日:2006-03-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: GUGEL HILMAR DR , DYBA MARCUS DR
Abstract: Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben, wobei die zu untersuchende Probe (1) eine Substanz umfasst, die wiederholt von einem ersten Zustand (Z1, A) in einen zweiten Zustand (Z2, B) überführbar ist, wobei sich die ersten und die zweiten Zustände (Z1, A; Z2, B) in mindestens einer optischen Eigenschaft voneinander unterscheiden, umfassend die Schritte, dass die Substanz in einem zu erfassenden Probenbereich (P) zunächst in den ersten Zustand (Z1, A) gebracht wird und dass mittels eines optischen Signals (4) der zweite Zustand (Z2, B) induziert wird, wobei innerhalb des zu erfassenden Probenbereichs (P) räumlich begrenzte Teilbereiche gezielt ausgespart werden, und wobei das optische Signal (4) gleichzeitig in mehreren Brennpunkten gebündelt wird und die Brennpunkte in verschiedene Orte der Probe (1) fokussiert werden, dadurch gekennzeichnet, dass die Pupillenfunktionen der einzelnen Brennpunkte moduliert werden, wobei die Modulation derart durchgeführt wird, dass in jedem Brennpunkt mindestens eine Intensitäts-Nullstelle (5) entsteht.
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公开(公告)号:DE102011000905A1
公开(公告)日:2012-08-30
申请号:DE102011000905
申请日:2011-02-24
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: WARKEN FLORIAN , GUGEL HILMAR DR
IPC: G02B21/06
Abstract: Eine Beleuchtungseinrichtung (20) für ein Mikroskop (40) hat eine zumindest einen breitbandigen Laserlichtpuls (30) erzeugende Lasereinheit (24), wobei unterschiedliche Wellenlängen aufweisende Lichtanteile (71, 72, 73, 74, 75, 76) des breitbandigen Laserlichtpulses (30) zeitlich zueinander versetzt sind. Eine Kompensationseinheit (36) im Strahlengang des breitbandigen Laserlichtpulses (30) versetzt die Lichtanteile (71, 72, 73, 74, 75, 76) des breitbandigen Laserlichtpulses (30) derart zeitlich, dass sie die Kompensationseinheit (36) zeitgleich oder näherungsweise zeitgleich verlassen.
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公开(公告)号:DE102006011556B4
公开(公告)日:2020-03-26
申请号:DE102006011556
申请日:2006-03-10
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: GUGEL HILMAR DR
IPC: G01N21/64
Abstract: Verfahren zum hochaufgelösten optischen Abtasten einer Probe, vorzugsweise unter Verwendung eines Laser-Raster-Fluoreszenzmikroskops,wobei die Probe eine Substanz (S1) umfasst, die in unterschiedliche Energiezustände - angeregter und abgeregter Zustand - versetzbar ist,wobei die Probe zur bereichsweisen Erzeugung des angeregten Energiezustandes mit Licht einer Wellenlänge (3) des Anregungsspektrums (1) der Substanz (S1) beleuchtet wird,wobei die Probe zur Erzeugung des abgeregten Zustandes in einem Fokusrandbereich der Anregung mit Licht einer geeigneten Abregungswellenlänge (4) beleuchtet wird, undwobei von der Probe ausgehendes Emissionslicht, das aus spontanem Zerfall verbliebener angeregter Energiezustände resultiert, mittels einer Detektionseinrichtung nachgewiesen wird,wobei die Probe mindestens eine weitere Substanz (S2) umfasst, die in einen angeregten Energiezustand und in einen abgeregten Zustand überführbar ist, wobei sich Anregungsspektrum (5) und Abregungswellenlänge (8) von denen der ersten Substanz (S1) unterscheiden, wobei beim Abtasten der Probe die Schritte der Anregung und/oder der Abregung und/oder der Detektion für die einzelnen Substanzen (S1, S2) zeitlich voneinander getrennt durchgeführt werden,wobei die zeitliche Abfolge entsprechend der Größe der jeweiligen Abregungswellenlängen (4, 8) der Substanzen (S1, S2) derart festgelegt wird, dass bei jedem Rasterschritt jeweils mit der Substanz (S2) mit der größten Abregungswellenlänge (8) begonnen wird,wobei eine sequentielle Aufnahme der einzelnen Substanzen (S1, S2) punktweise oder zeilenweise vorgenommen wird, undwobei während der Beleuchtung der Probe mit einer Abregungswellenlänge(4) einer Substanz (S1) die Detektion von Emissionslicht einer anderen Substanz (S2), deren Anregungsspektrum (5) die eingestrahlte Abregungswellenlänge (4) umfasst, unterdrückt wird.
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公开(公告)号:DE102006009830B4
公开(公告)日:2019-06-13
申请号:DE102006009830
申请日:2006-03-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: GUGEL HILMAR DR , DYBA MARCUS DR , SEYFRIED VOLKER DR
Abstract: Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben, wobei die zu untersuchende Probe (1) eine Substanz umfasst, die wiederholt von einem ersten Zustand (Z1, A) in einen zweiten Zustand (Z2, B) überführbar ist, wobei sich die ersten und die zweiten Zustände (Z1, A; Z2, B) in mindestens einer optischen Eigenschaften voneinander unterscheiden, umfassend die folgenden Schritte:a) Mittels eines Schaltsignals (2) wird die Substanz in einem zu erfassenden Probenbereich (P) in den ersten Zustand (Z1, A) gebracht,b) mittels eines optischen Signals (4) wird der zweite Zustand (Z2, B) induziert,wobei innerhalb des zu erfassenden Probenbereichs (P) räumlich begrenzte Teilbereiche gezielt ausgespart werden,c) mittels eines Testsignals (7) werden die verbliebenen ersten Zustände (Z1, A 1, A2, A3) ausgelesen, undd) die Schritte a) bis c) werden wiederholt, wobei das optische Signal (4) zur Rasterung der Probe (1) bei jeder Wiederholung verschoben wird, dadurch gekennzeichnet, dass die einzelnen Schritte a) bis d) in einer an die jeweilige Messsituation angepassten Reihenfolge durchgeführt werden,wobei innerhalb des Gesamtzyklus umfassend die Schritte a) bis d) ein Teilzyklus umfassend eine Teilmenge der Schritte a) bis d) wiederholt ausgeführt wird.
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8.
公开(公告)号:DE102007039498B4
公开(公告)日:2017-08-03
申请号:DE102007039498
申请日:2007-08-21
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: SEYFRIED VOLKER DR , GUGEL HILMAR DR , THOMSEN CARSTEN L
IPC: G02B21/06
Abstract: Verfahren zur Beleuchtung und/oder Bestrahlung eines Objekts oder einer Probe (8) zum Zweck der Bildaufnahme oder Analyse mit einer das Beleuchtungslicht aussendenden Laserlichtquelle (2), wobei das Laserlicht unmittelbar oder über eine Glasfaser in einen Beleuchtungsstrahlengang (4) eingekoppelt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserlichtquelle (2) auf ein Triggersignal hin unmittelbar vor dem eigentlichen Bedarf oder unmittelbar vor der Bildaufnahme schnell eingeschaltet wird, dass zum Einschalten der Laserlichtquelle (2) eine Pumpquelle (13, 16, 17) der Laserlichtquelle (2) bestromt wird, dass eine Regeleinrichtung (18) mit einem Regelkreis den Strom der Pumpquelle (13, 16, 17) in Abhängigkeit von der Ausgangsleistung der Laserlichtquelle (2) regelt und dass die Laserlichtquelle (2) einen dauerhaft betriebenen Seedlaser (12) und mindestens einen nachgeordneten Laserverstärker (14, 15) umfasst.
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