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公开(公告)号：DE102018126009B4
公开(公告)日：2022-05-19
申请号：DE102018126009
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA
Abstract: Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Deck- oder Tragglases (24) in einem Mikroskop (10, 78), das ein einem Probenraum (14) zugewandtes Objektiv (12) aufweist,wobei in dem Probenraum (14) zwei optische Medien (26, 28) an zwei entgegengesetzte Oberflächen (64, 68) des Deck- oder Tragglases (24) grenzen und dadurch zwei teilreflektierende Grenzflächen bilden, die in unterschiedlichen Abständen von dem Objektiv (12) angeordnet sind,wobeider Querschnitt eines Messlichtbündels (34) mithilfe einer Aperturblende (38) begrenzt wird, die eine dezentriert mit Abstand zur optischen Achse (O3) des Objektivs (12) angeordnete Blendenöffnung (39) hat, so dass das Messlichtbündel (34) in einen Teilbereich einer Eintrittspupille (52) des Objektivs (12) geleitet wird, der gegenüber der Mitte der Eintrittspupille (52) versetzt ist, und durch das Objektiv (12) unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas (24) gelenkt wird,zwei räumlich voneinander getrennte Reflexionslichtbündel (54a, 54b) erzeugt werden, indem das Messlichtbündel (34) jeweils zum Teil an den beiden Grenzflächen reflektiert wird,die beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) durch das Objektiv (12) empfangen und auf einen positionssensitiven Detektor (60) geleitet werden,die Einfallsorte der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) auf dem positionssensitiven Detektor (60) erfasst werden, undauf Grundlage der erfassten Einfallsorte der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) die Dicke des Deck- oder Tragglases (24) ermittelt wird.
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公开(公告)号：DE102018126002B4
公开(公告)日：2020-10-08
申请号：DE102018126002
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA
Abstract: Verfahren zur Bestimmung des Brechungsindex eines optischen Mediums in einem Mikroskop (10, 78), das ein einem Probenraum (14) zugewandtes Objektiv (12) aufweist,wobei das optische Medium mit dem zu bestimmenden Brechungsindex eines von zwei optischen Medien (26, 28) ist, die in dem Probenraum (14) an zwei entgegengesetzte Oberflächen (64, 68) eines Deck- oder Tragglases (24) grenzen und dadurch zwei teilreflektierende Grenzflächen bilden, die in unterschiedlichen Abständen von dem Objektiv (12) angeordnet sind,dadurch gekennzeichnet, dassein Messlichtbündel (34) durch das Objektiv (12) unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas (24) gelenkt wird,zwei räumlich voneinander getrennte Reflexionslichtbündel (54a, 54b) erzeugt werden, indem das Messlichtbündel (34) jeweils zum Teil an den beiden Grenzflächen reflektiert wird,die beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) durch das Objektiv (12) empfangen und auf einen positionssensitiven Detektor (60) gelenkt werden,die Intensitäten der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) mittels des positionssensitiven Detektors (60) erfasst werden, undauf Grundlage der erfassten Intensitäten der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) der Brechungsindex des optischen Mediums ermittelt wird.
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3.发明专利
公开(公告)号：DE102018126007A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018126007
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA , WEISS ALEXANDER
Abstract: Ein Verfahren zur Korrektion eines sphärischen Abbildungsfehlers eines Mikroskops (10) mit einem Objektiv (12) und einem Deck- oder Tragglas (16), bei dem ein in dem Objektiv (12) angeordnetes Korrektionsmittel zum Korrigieren des sphärischen Abbildungsfehlers vorgesehen ist, wobei durch das Mikroskop (10) der Brechungsindex eines an das Deck- oder Tragglas (16) grenzenden optischen Mediums (22) und/oder die Dicke des Deck- oder Tragglases (16) entlang der optischen Achse des Objektivs (12) ermittelt wird, auf Grundlage des Brechungsindex des optischen Mediums (22) und/oder der Dicke des Deck- oder Tragglases (16) der sphärische Abbildungsfehler ermittelt wird, und auf Grundlage des sphärischen Abbildungsfehlers eine Stellgröße ermittelt wird, anhand derer das Korrektionsmittel (14) so eingestellt wird, dass der sphärische Abbildungsfehler korrigiert ist.
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公开(公告)号：DE102019108611B3
公开(公告)日：2020-08-06
申请号：DE102019108611
申请日：2019-04-02
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , HITZLER SEBASTIAN , SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Beschrieben ist eine Zuführvorrichtung für ein Immersionsmedium zur Verwendung mit einem Objektiv, durch das ein Präparat mikroskopisch abbildbar ist, umfassend eine an dem Objektiv lösbar oder fest angebrachte Kappe, die einen Aufnahmeraum für das Immersionsmedium begrenzt, wobei die Kappe eine Austrittsöffnung aufweist, die auf ein dem Präparat zugewandtes optisches Element des Objektivs ausgerichtet ist und durch die das in dem Aufnahmeraum gehaltene Immersionsmedium einem Zielraum, der sich zwischen dem optischen Element des Objektivs und dem Präparat befindet, zuführbar ist, und einen in der Kappe integrierten Sensor mit einer Elektrodenstruktur zum Erfassen der zugeführten Menge an Immersionsmedium. Die Elektrodenstruktur umschließt die Austrittsöffnung zumindest teilweise und hat einen räumlichen Erfassungsbereich, der sich in radialer Richtung von der Austrittsöffnung weg erstreckt.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102018126009A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018126009
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA
Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Deck- oder Tragglases (24) in einem Mikroskop (10, 78), das ein einem Probenraum (14) zugewandtes Objektiv aufweist. In dem Probenraum (14) grenzen zwei optische Medien (26, 28) an zwei entgegengesetzte Oberflächen (64, 68) des Deck- oder Tragglases (24) grenzen und bilden dadurch zwei teilreflektierende Grenzflächen, die in unterschiedlichen Abständen von dem Objektiv (12) angeordnet sind. Ein Messlichtbündel (34) wird durch das Objektiv (12) unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas (24) gelenkt. Zwei räumlich voneinander getrennte Reflexionslichtbündel (54a, 54b) werden erzeugt, indem das Messlichtbündel (34) jeweils zum Teil an den beiden Grenzflächen reflektiert wird. Die beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) werden durch das Objektiv (12) empfangen und auf einen positionssensitiven Detektor (60) geleitet. Die Einfallsorte der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) auf dem positionssensitiven Detektor (60) werden erfasst. Auf Grundlage der erfassten Einfallsorte der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) wird die Dicke des Deck- oder Tragglases (24) ermittelt.
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公开(公告)号：DE102018126002A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018126002
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA
Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zur Bestimmung des Brechungsindex eines optischen Mediums in einem Mikroskop (10, 78), das ein einem Probenraum (14) zugewandtes Objektiv (12) aufweist, wobei das optische Medium mit dem zu bestimmenden Brechungsindex eines von zwei optischen Medien (26, 28) ist, die in dem Probenraum (14) an zwei entgegengesetzte Oberflächen (64, 68) eines Deck- oder Tragglases (16) grenzen und dadurch zwei teilreflektierende Grenzflächen bilden, die in unterschiedlichen Abständen von dem Objektiv (12) angeordnet sind. Bei dem Verfahren wird ein Messlichtbündel (34) durch das Objektiv (12) unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas (16) gelenkt, werden zwei räumlich voneinander getrennte Reflexionslichtbündel (54a, 54b) erzeugt, indem das Messlichtbündel (34) jeweils zum Teil an den beiden Grenzflächen reflektiert wird, werden die beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) durch das Objektiv (12) empfangen und auf einen positionssensitiven Detektor (60) gelenkt, werden die Intensitäten der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) mittels des positionssensitiven Detektors (36) erfasst, und wird auf Grundlage der erfassten Intensitäten der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) der Brechungsindex des optischen Mediums berechnet.
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公开(公告)号：DE102016115856B4
公开(公告)日：2020-01-02
申请号：DE102016115856
申请日：2016-08-25
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： DEISSLER BENJAMIN , WEISS ALBRECHT , WEISS ALEXANDER
Abstract: Verfahren zur Bildgebung in einem Mikroskop (200) mit schiefer Beleuchtung, wobei ein Objekt von einem schräg auf die Objektebene (204) des Mikroskops (200) einfallenden Beleuchtungsstrahlengang (211), beleuchtet wird und ein mikroskopisches Bild des Objekts und ein entsprechendes digitales Bildsignal erzeugt werden,dadurch gekennzeichnet,dass das digitale Bildsignal mittels digitaler Bildverarbeitung unter Verwendung eines Faltungskerns zur Kontraststeigerung bearbeitet und hieraus ein kontrastgesteigertes digitales Bild erzeugt wird, wobei ein Faltungskern verwendet wird,dessen Orientierung in Relation zur Richtung der schiefen Beleuchtung ausgerichtet ist, um die Kontraststeigerung weiter zu erhöhen.
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公开(公告)号：DE102019109832B3
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102019109832
申请日：2019-04-12
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA
Abstract: Lichtblattmikroskop, umfassend ein Deck- oder Tragglas, das in einem Probenraum des Lichtblattmikroskops angeordnet ist und eine Oberfläche hat, die eine teilreflektierende Grenzfläche definiert; ein Optiksystem mit einem dem Deck- oder Tragglas zugewandten Objektiv; eine Beleuchtungseinrichtung, die ausgebildet ist, ein Lichtblatt zu erzeugen; einen Sensor; und einen Prozessor. Das Lichtblattmikroskop bildet eine Messvorrichtung zum Erfassen einer Messgröße. Die Messvorrichtung ist ausgebildet, das Lichtblatt durch das Optiksystem unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas zu lenken, ein Reflexionslichtbündel zu erzeugen, indem das Lichtblatt zum Teil an der Grenzfläche reflektiert wird, und das Reflexionslichtbündel durch das Optiksystem zu empfangen und auf den Sensor zu lenken. Der Sensor ist ausgebildet, die Intensität und/oder den Einfallsort des Reflexionslichtbündels zu erfassen. Der Prozessor ist ausgebildet, auf Grundlage der erfassten Intensität und/oder des Einfallsorts des Reflexionslichtbündels die Messgröße zu ermitteln.
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公开(公告)号：DE102016115856A1
公开(公告)日：2018-03-01
申请号：DE102016115856
申请日：2016-08-25
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： DEISSLER BENJAMIN , WEISS ALBRECHT , WEISS ALEXANDER
Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bildgebung in einem Mikroskop (200) mit schiefer Beleuchtung, wobei ein Objekt von einem schräg auf die Objektebene (204) des Mikroskops (200) einfallenden Beleuchtungsstrahlengang (211) beleuchtet wird sowie ein mikroskopisches Bild des Objekts und ein entsprechendes digitales Bildsignal erzeugt werden, wobei das digitale Bildsignal mittels digitaler Bildverarbeitung unter Verwendung eines Faltungskerns zur Kontraststeigerung bearbeitet und hieraus ein kontrastgesteigertes digitales Bild erzeugt wird.
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