公开(公告)号：EP3220628A4

公开(公告)日：2017-10-18

申请号：EP15861720

申请日：2015-07-08

Applicant: SHIMADZU CORP

Inventor： HIROSE RYUTA ,  KARASAWA TOMOHIRO ,  TOMINAGA HIDEKI

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/46 ,  H04N5/357 ,  H04N5/3745 ,  H04N5/378

CPC classification number: G01J1/46 ,  G01J3/2803 ,  G01J2001/446 ,  H04N5/3575 ,  H04N5/3741 ,  H04N5/37457 ,  H04N5/378

Abstract: Provided is a photodetector 10 including: a plurality of photoelectric conversion elements 101 arranged within a photosensitive-element area 11 constituting one photosensitive element; the plurality of detection circuits 14 each of which is provided for one of the plurality of photoelectric conversion elements 101, each of the detection circuits including a capacitor 102; and a signal processing section 19 for totaling output signals produced by the plurality of detection circuits 14.

公开(公告)号：JP2014240803A

公开(公告)日：2014-12-25

申请号：JP2013123794

申请日：2013-06-12

Applicant: 株式会社島津製作所 ,  Shimadzu Corp

Inventor： KARASAWA TOMOHIRO ,  TAKUBO KENJI ,  KAWAGUCHI YASUNORI

IPC: G01N3/20

Abstract: 【課題】試験片内に光を照射し、その透過光を検出することにより、透過光の光量変化から試験片の破断を検知する装置において、試験片が撓んでも誤った検知を行うことなく常に正確な破断検知を行うことのできる破断検知装置を提供する。【解決手段】試験片10内に光を照射する照射系40の一部または全部と、試験片10を経た透過光を検出する検出系50の一部または全部を、試験片10の破断予想位置を挟んでその両側に装着することにより、試験片10の撓みに係わらず当該試験片10における前記照射系40および検出系50の装着面と、照射系40および検出系50との位置関係を一定に維持する。【選択図】図1

Abstract translation: 要解决的问题：提供一种利用光照射测试件内部并检测透射光的断裂检测装置，以根据透射光量的变化来检测试件的断裂，并且能够始终准确地执行 断裂检测即使在试件弯曲的情况下也没有错误检测。解决方案：照射系统40的一部分或全部，用光照射测试片10的内部，并且检测系统50的一部分或全部检测透射光 通过试验片10被安装在可疑断裂试验片10的部位的两侧，由此照射系统40的安装面与试验片10和照射系统40的检测系统50的位置关系 检测系统50保持恒定，而与试片10的弯曲无关。