公开(公告)号：FR2958470A1

公开(公告)日：2011-10-07

申请号：FR1052328

申请日：2010-03-30

Applicant: ST MICROELECTRONICS CROLLES 2

Inventor： TORRAS FLAQUER JOSEP ,  DAVEAU JEAN-MARC ,  NAVINER LIRIDA ,  ROCHE PHILIPPE

IPC: H03K19/00 ,  G06F11/30

Abstract: La détermination d'une information de fiabilité d'un circuit électronique comprenant un réseau nodal de composants comportant au moins un chemin de reconvergence entre une source de corrélation et un puits, comprend au niveau de chaque composant (PTS) du chemin une élaboration d'une matrice de probabilités conditionnelles (CPM) dont le conditionnement est lié à au moins un nœud (SC1, SC2, SC3) du chemin situé en amont dudit composant.