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公开(公告)号：FR3068548A1
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：FR1755922
申请日：2017-06-28
Inventor： BINET VINCENT , CHESNEAU DAVID
IPC: H03K3/013
Abstract: Comparateur (COMP) comprenant une interface d'entrée (E1, Eref) pour recevoir des signaux d'entrée (si, s2), une interface de sortie (SCOMP) pour délivrer un signal de sortie (sCOMP), des moyens de comparaison (100) couplés entre l'interface d'entrée et l'interface de sortie, des moyens d'amplification (1,2) connectés entre l'interface d'entrée (E1, Eref) et les moyens de comparaison (100), et des moyens de neutralisation (200) configurés pour neutraliser tout changement d'état du signal de sortie à compter de chaque instant de changement d'état du signal de sortie pendant une deuxième durée de propagation (Tpe) égale à une durée de propagation de signaux à l'intérieur des moyens d'amplification (1, 2).
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2.发明专利
公开(公告)号：FR3097387B1
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：FR1906167
申请日：2019-06-11
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： JOLY YOHAN , BINET VINCENT , CUENCA MICHEL
Abstract: Le circuit intégré (CI) comporte au moins une paire différentielle de transistors (NP, NM), un générateur de courant de polarisation (GIdiff) configuré pour générer un courant de polarisation (2*Idiff) sur un nœud de polarisation (Nd) couplé à une borne de source de chaque transistor (NP, NM) de ladite paire différentielle par un élément résistif respectif (R1, R2). Un générateur de courant de compensation (GItrim) est configuré pour générer un courant de compensation (Cd*Itrim) dans l’un des deux éléments résistifs (R1, R2), de façon à compenser une différence entre des valeurs effectives des tensions de seuil des transistors de ladite paire différentielle (NP, NM). Figure pour l’abrégé : Fig 1
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公开(公告)号：FR3083654B1
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：FR1856189
申请日：2018-07-05
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： JOLY YOHAN , BINET VINCENT
IPC: H03K5/24
Abstract: Le comparateur (CMP) comportant un étage cascode replié (CASCR) ayant une sortie positive (OUT+) et négative (OUT-), comprend : - un moyen de régulation (300) de tension de mode commun comportant des éléments résistifs (R1, R2) respectivement situés entre chacune desdites sorties (OUT+, OUT-) et un nœud de mode commun (MCBias) ; - un moyen de compensation (210, 220) configuré pour régler un écart (Voff+, Voff-) entre les tensions sur les sorties, configuré pour générer un courant de compensation (Ioff+, Ioff-) constant et permanent dans les deux éléments résistifs (R1, R2) ; - un moyen d’hystérésis (100) configuré pour décaler (Vhyst) des tensions sur les sorties, configuré pour générer un courant d’hystérésis dans les deux éléments résistifs (R1, R2). Figure de l’abrégé : figure 4
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公开(公告)号：FR3083654A1
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：FR1856189
申请日：2018-07-05
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： JOLY YOHAN , BINET VINCENT
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公开(公告)号：FR3116604B1
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：FR2012056
申请日：2020-11-24
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： BINET VINCENT , GAILHARD BRUNO
Abstract: Un procédé de calibrage d'un capteur de température comprenant une source de courant et un oscillateur en anneau générant un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant de la température, le procédé comprenant l'acquisition (S1, S2) d'une première mesure de fréquence de créneaux à une première température à partir du signal en créneaux, formant un premier point de mesure, et d'une seconde mesure de fréquence de créneaux à une seconde température à partir du signal en créneaux, formant un second point de mesure, et la détermination (S4) des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, ladite relation affine étant définie par un coefficient de proportionnalité utilisé modifié par rapport à un coefficient de proportionnalité mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure et le second point de mesure. Figure pour l'abrégé : figure 3
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：FR3119950A1
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：FR2101421
申请日：2021-02-15
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： ORTET SEBASTIEN , BINET VINCENT
Abstract: Démarrage d'une alimentation à découpage La présente description concerne un convertisseur de tension (1) configuré pour fonctionner dans un mode de fonctionnement de type modulation de fréquence d'impulsion durant une phase de démarrage. Figure pour l'abrégé : Fig. 1
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公开(公告)号：FR3119499A1
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：FR2100872
申请日：2021-01-29
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： ORTET SEBASTIEN , BINET VINCENT
Abstract: Synchronisation d'un dispositif électronique La présente description concerne un dispositif comprenant une alimentation à découpage configurée pour avoir un premier mode de fonctionnement synchronisé par un premier signal d'horloge généré par un premier circuit de génération de signal d'horloge (48) et un deuxième mode de fonctionnement asynchrone, dans lequel le premier circuit de génération (48) est configuré pour que le premier signal soit maintenu à une valeur constante durant le deuxième mode de fonctionnement. Figure pour l'abrégé : Fig. 6
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公开(公告)号：FR3116680A1
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：FR2012048
申请日：2020-11-24
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： BINET VINCENT , CUENCA MICHEL , GIRARDEAU LUDOVIC
Abstract: Oscillateur La présente description concerne un dispositif (2) comprenant : un générateur (100) de premières rampes (Vc1) et un deuxième générateur (102) de deuxièmes rampes (Vc2) ; un circuit (COMP') configuré pour fournir un premier signal (out1) représentatif de la comparaison de chaque première rampe (Vc1) avec une consigne (Vref') et pour fournir un deuxième signal (out2) représentatif de la comparaison de chaque deuxième rampe (Vc2) avec la consigne ; un circuit (210) configuré, sur la base de ces signaux (out1, out2), pour : arrêter une première rampe (Vc1) et démarrer une deuxième rampe (Vc2) quand la première rampe atteint la consigne (Vref'), et arrêter une deuxième rampe (Vc2) et démarrer une première rampe (vc1) quand la deuxième rampe atteint la consigne (Vref') ; et un circuit (200) configuré pour moduler la consigne (Vref') à partir d'une valeur maximale de la dernière rampe (Vc1, Vc2) comparée à la consigne. Figure pour l'abrégé : Fig. 3
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9.发明专利
公开(公告)号：FR3097387A1
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：FR1906167
申请日：2019-06-11
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： JOLY YOHAN , BINET VINCENT , CUENCA MICHEL
Abstract: Le circuit intégré (CI) comporte au moins une paire différentielle de transistors (NP, NM), un générateur de courant de polarisation (GIdiff) configuré pour générer un courant de polarisation (2*Idiff) sur un nœud de polarisation (Nd) couplé à une borne de source de chaque transistor (NP, NM) de ladite paire différentielle par un élément résistif respectif (R1, R2). Un générateur de courant de compensation (GItrim) est configuré pour générer un courant de compensation (Cd*Itrim) dans l’un des deux éléments résistifs (R1, R2), de façon à compenser une différence entre des valeurs effectives des tensions de seuil des transistors de ladite paire différentielle (NP, NM). Figure pour l’abrégé : Fig 1
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公开(公告)号：FR3116604A1
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：FR2012056
申请日：2020-11-24
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： BINET VINCENT , GAILHARD BRUNO
Abstract: Un procédé de calibrage d'un capteur de température comprenant une source de courant et un oscillateur en anneau générant un signal en créneaux avec une fréquence de créneaux dépendant de la température, le procédé comprenant l'acquisition (S1, S2) d'une première mesure de fréquence de créneaux à une première température à partir du signal en créneaux, formant un premier point de mesure, et d'une seconde mesure de fréquence de créneaux à une seconde température à partir du signal en créneaux, formant un second point de mesure, et la détermination (S4) des données de relation représentatives d'une relation affine entre des mesures de fréquences de créneaux et des températures, ladite relation affine étant définie par un coefficient de proportionnalité utilisé modifié par rapport à un coefficient de proportionnalité mesuré d'une relation affine mesurée liant le premier point de mesure et le second point de mesure. Figure pour l'abrégé : figure 3
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