公开(公告)号：FR2965645B1

公开(公告)日：2012-10-12

申请号：FR1058043

申请日：2010-10-05

Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2 ,  ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO ,  BARD JEAN-MICHEL

IPC: G06F11/36 ,  G06F15/76 ,  H01L21/66

公开(公告)号：FR2965645A1

公开(公告)日：2012-04-06

申请号：FR1058043

申请日：2010-10-05

Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2 ,  ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PAGANI ALBERTO ,  BARD JEAN-MICHEL

IPC: G06F11/36 ,  G06F15/76 ,  H01L21/66

Abstract: On décrit une méthode de test d'au moins un dispositif DUT (15) équipé d'un circuit de test intégré (20) et en communication avec au moins un testeur ATE (30) où l'on envoie des messages / instructions / signaux de test / informations (INF) exclusivement du testeur ATE (30) au dispositif DUT (15). On décrit aussi une architecture de test (35) pour implémenter une telle méthode de test.