公开(公告)号：FR2900278A1

公开(公告)日：2007-10-26

申请号：FR0651391

申请日：2006-04-20

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET ,  UNIV D AIX MARSEILLE I

Inventor： DREUX PHILIPPE ,  MERCIER OLIVIER

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/303

Abstract: L'invention concerne un procédé et un dispositif de test de paramètres de fabrication d'un circuit intégré, effectuant une étape d'activation d'un ensemble (51) de circuits de génération (60) d'une même grandeur (f), tous différents les uns des autres pour fournir des valeurs nominales différentes, et une étape de mesure (71) des valeurs courantes fournies par les différents circuits de génération.

公开(公告)号：FR2982965A1

公开(公告)日：2013-05-24

申请号：FR1160479

申请日：2011-11-17

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： DREUX PHILIPPE

IPC: G06F1/12 ,  H01L23/58 ,  H03K19/003

Abstract: L'invention concerne un circuit électronique (2) comportant deux oscillateurs en anneau (21, 22), dans lequel la sortie de chaque oscillateur en anneau est rebouclée en entrée de ce même oscillateur ainsi qu'en entrée de l'autre oscillateur. L'invention concerne également l'application d'un tel circuit à la détection d'une perturbation dynamique.