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公开(公告)号：FR2900278A1
公开(公告)日：2007-10-26
申请号：FR0651391
申请日：2006-04-20
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , UNIV D AIX MARSEILLE I
Inventor： DREUX PHILIPPE , MERCIER OLIVIER
IPC: H01L21/66 , G01R31/303
Abstract: L'invention concerne un procédé et un dispositif de test de paramètres de fabrication d'un circuit intégré, effectuant une étape d'activation d'un ensemble (51) de circuits de génération (60) d'une même grandeur (f), tous différents les uns des autres pour fournir des valeurs nominales différentes, et une étape de mesure (71) des valeurs courantes fournies par les différents circuits de génération.
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