公开(公告)号：EP1582963A1

公开(公告)日：2005-10-05

申请号：EP05102502.1

申请日：2005-03-30

Applicant: ST MICROELECTRONICS S.A.

Inventor： MARINET, Fabrice ,  BOTELLA, Camille

IPC: G06F1/00 ,  G07F7/10

CPC classification number: G06F21/77 ,  G06F21/75 ,  G06K19/073 ,  G06K19/07363 ,  H01L23/576 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: L'invention concerne un circuit de détection d'attaque par contact d'une puce de circuit intégré comprenant un moyen (1) d'application d'un signal aléatoire à une première borne (V) d'au moins un premier chemin conducteur (2) formé dans au moins un premier niveau de métallisation de la puce, un moyen (4) de comparaison du signal appliqué avec un signal présent sur une deuxième borne (W) du chemin, et un moyen (3) pour retarder l'instant de comparaison par rapport à l'instant d'application, d'une durée (T) supérieure ou égale au retard de propagation (τ) apporté par le premier chemin.

Abstract translation: 电路具有发生器（1），将随机信号施加到形成在芯片的金属化层中的导电路径（2）的端子（V）。 同步信号被施加到另一路径（3）的输入端。 相对于在终端（V）上施加随机信号的时间，延迟同步信号，持续时间（T）高于或等于路径（2）的传播延迟。 对于包括检测电路的集成电路芯片，还包括独立权利要求。