公开(公告)号：FR2821202A1

公开(公告)日：2002-08-23

申请号：FR0102333

申请日：2001-02-21

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA

Inventor： BEAUJOIN MARC ,  ALOFS THOMAS ,  ARMAGNAT PAUL

IPC: G11C29/00 ,  G11C29/38

公开(公告)号：FR2969765A1

公开(公告)日：2012-06-29

申请号：FR1005130

申请日：2010-12-27

Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2 ,  ST MICROELECTRONICS SA

Inventor： LEBOURG PHILIPPE ,  ARMAGNAT PAUL ,  DRONIOU THOMAS

IPC: G01R31/28

Abstract: L'invention est relative à un procédé de test en registre à décalage d'un circuit intégré comprenant les étapes suivantes mises en oeuvre par le circuit lui-même : à la mise sous tension du circuit, surveiller les séquences de bits apparaissant sur une borne d'exploitation (IO) configurée pour recevoir de l'extérieur des données série à la cadence d'un signal d'horloge extérieur (CK) appliqué sur une borne d'horloge ; mettre le circuit en mode de test si une séquence de bits est identifiée à une séquence d'initialisation de test (CFG) ; connecter des bascules du circuit (20) en registre à décalage (SC-EN) et connecter le registre à décalage pour recevoir un vecteur de test en série (SC-IN) à partir de la broche d'exploitation (IO) ; commuter la direction de transfert de ladite borne d'exploitation (IO) en mode sortie pour fournir vers l'extérieur des données numériques en série à la cadence du signal d'horloge ; et connecter le registre à décalage pour fournir son contenu, en tant que jeu de résultats de test, en série (SC-OUT) sur ladite borne d'exploitation.

公开(公告)号：DE602007012379D1

公开(公告)日：2011-03-24

申请号：DE602007012379

申请日：2007-03-07

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA

Inventor： LE-GALL HERVE ,  ARMAGNAT PAUL ,  PONT JEAN-CHRISTOPHE

IPC: G01R31/317 ,  H04L7/033

公开(公告)号：FR2821202B1

公开(公告)日：2003-06-20

申请号：FR0102333

申请日：2001-02-21

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA

Inventor： BEAUJOIN MARC ,  ALOFS THOMAS ,  ARMAGNAT PAUL

IPC: G11C29/00 ,  G11C29/38

公开(公告)号：DE602007007829D1

公开(公告)日：2010-09-02

申请号：DE602007007829

申请日：2007-01-25

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA

Inventor： ARMAGNAT PAUL

IPC: G01R31/3185

公开(公告)号：FR2896884A1

公开(公告)日：2007-08-03

申请号：FR0600787

申请日：2006-01-27

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA

Inventor： ARMAGNAT PAUL

IPC: G01R31/317

Abstract: Un circuit électronique comprenant- un groupe de dispositifs, ledit groupe de dispositifs comprenant un dispositif de test de scan permettant de tester au moins une partie du circuit électronique, et- une machine d'états permettant de transférer des données depuis un plot d'entrée dédié à ladite machine d'états vers les dispositifs du groupe de dispositifs, ladite machine d'états étant adaptée pour supporter une pluralité de protocoles de transfert de données, le choix du protocole à utiliser étant effectué en fonction au moins d'un signal reçu sur ledit plot d'entrée.