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公开(公告)号：EP3594999A1
公开(公告)日：2020-01-15
申请号：EP19184586.6
申请日：2019-07-05
Applicant: STMicroelectronics (Rousset) SAS
Inventor： SARAFIANOS, Alexandre , NICOLAS, Bruno , FRONTE, Daniele
Abstract: La présente description concerne une puce électronique comprenant : un premier caisson (106, 108) à l'intérieur duquel est située une première jonction PN ; un deuxième caisson (110) enterré au-dessous et disjoint du premier caisson ; une première région (120 ; 160) formant une deuxième jonction PN avec le deuxième caisson ; et un circuit (130) pour fournir un premier signal (A) en fonction d'au moins une différence de potentiel au sein de la première région.
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公开(公告)号：EP3525236A1
公开(公告)日：2019-08-14
申请号：EP19153676.2
申请日：2019-01-25
Applicant: STMicroelectronics (Rousset) SAS
Inventor： SARAFIANOS, Alexandre , NICOLAS, Bruno , FRONTE, Daniele
IPC: H01L23/58 , G06K19/073
Abstract: Procédé de détection d'une atteinte à l'intégrité d'un substrat semi-conducteur (P) d'un circuit intégré (CI) protégé par un enrobage, le substrat comprenant une face avant (FV) et une face arrière (FR), cette atteinte étant susceptible d'être effectuée depuis la face arrière (FR) du substrat, le procédé comprenant une détection d'une ouverture de l'enrobage en regard de la face arrière du substrat.
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公开(公告)号：EP3246944A1
公开(公告)日：2017-11-22
申请号：EP16198652.6
申请日：2016-11-14
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor： SARAFIANOS, Alexandre , NICOLAS, Bruno
CPC classification number: H03K19/17768 , G06F21/75 , G06F21/87 , G09C1/00 , H01L23/576 , H03K19/0033 , H03K19/17704 , H04L9/004 , H04L2209/12
Abstract: L'invention concerne un dispositif de protection d'un circuit intégré, comportant : des groupes d'éléments de détection d'un rayonnement (42) répartis dans un arrangement matriciel ; des portes logiques (44, 46) combinant des sorties des éléments de détection par ligne et par colonne, chaque sortie d'élément de détection étant reliée à une porte combinant une ligne et à une porte combinant une colonne ; et un circuit d'interprétation des signaux fournis par lesdites portes logiques et comportant un compteur d'événements et un élément de temporisation.
Abstract translation: 用于保护集成电路的设备技术领域本发明涉及一种用于保护集成电路的设备，包括：以矩阵布置分布的多组辐射检测元件（42） 组合栅极和列检测元件的输出的逻辑门（44,46），每个检测元件输出连接到组合栅极和列组合栅极的线; 以及用于解释由所述逻辑门提供的信号并包括事件计数器和延迟元件的电路。
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公开(公告)号：EP3570200A1
公开(公告)日：2019-11-20
申请号：EP19173952.3
申请日：2019-05-10
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor： SARAFIANOS, Alexandre , NICOLAS, Bruno , FRONTE, Daniele
Abstract: L'invention concerne une puce électronique comprenant une région résistive (102) et un premier commutateur (120) de sélection d'une première zone en contact avec la région résistive.
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