Abstract:
La présente invention concerne le domaine de l'instrumentation analytique par rayons X (RX). Elle concerne plus précisément un dispositif de délivrance d'un faisceau de rayons X à haute énergie, typiquement supérieure à 4 keV, pour des applications analytiques par rayons X.
Abstract:
L'invention concerne selon un premier aspect un ensemble optique réflectif multicouche destiné à réfléchir des rayons X sous faible angle d'incidence en produisant un effet optique bidimensionnel, l'ensemble optique comportant: . un composant présentant une surface réféchissante conformée de manière à produire un premier effet optique selon une première direction de l'espace, . ansi que des moyens permettant de produire un deuxième effet optique selon une deuxième direction de l'espace, différente de la première direction, caractérisé en ce que lesdits moyens permettant de produire un deuxième effet optique sont portés par ladite surface réfléchissante. L'invention propose selon un second aspect un procédé de fabrication d'un tel ensemble optique.
Abstract:
La présente invention concerne un ensemble optique réflectif multicouche (10) à gradient latéral dont la surface réfléchissante est destinée à réfléchir des rayons X incidents sous faible angle d'incidence en produisant un effet optique bidimensionnel, caractérisé par le fait que ladite surface réfléchissante est constituée d'une surface unique, ladite surface réfléchissante étant conformée selon deux courbures correspondant à deux directions différentes. La présente invention concerne également un procédé de fabrication d'un tel ensemble optique, caractérisé en ce que le procédé comprend le revêtement d'un substrat présentant déjà une courbure, et la courbure de ce substrat selon une deuxième direction différente. L'invention concerne enfin un dispositif de génération et de conditionnement de rayons X pour des applications de réflectométrie RX dispersive en angle comprenant un ensemble optique tel que mentionné ci-dessus couplé à une source rayons X de telle sorte que les rayons X émis par la source sont conditionnés en deux dimensions afin d'adapter le faisceau émis par la source à destination d'un échantillon, les rayons X ayant des angles d'incidences différents sur l'échantillon considéré.
Abstract:
L'invention concerne selon un premier aspect un procédé d'altération des propriétés réflectives de régions désirées d'une structure multicouche (30) destinée à être exposée à un rayonnement de longueur d'onde donnée et à modifier de manière désirée ledit rayonnement par réflexion, ledit procédé d'altération mettant en oeuvre l'exposition de la structure à un faisceau (20) énergétique, caractérisé en ce que le procédé comprend le contrôle de l'exposition des régions désirées de la structure multicouche audit faisceau de particules, de manière à déplacer de manière désirée dans le spectre de longueur d'onde la valeur du pic de réflectivité de chaque région de la structure. L'invention concerne selon un second aspect un masque réflectif de lithographie, un miroir pour rayons X, réalisés par un tel procédé, et l'utilisation de ce procédé pour rectifier les propriétés optiques d'une structure multicouche.
Abstract:
The invention refers to an X-ray scattering apparatus (10), comprising: - a sample vacuum chamber (26); - a sample holder (20) placed inside the sample vacuum chamber (26) for aligning and/or orienting a sample (18) to be analyzed by X-ray scattering; - an X-ray beam delivery system (11) comprising a 2D X-ray source and a 2D monochromator and being arranged upstream of the sample holder (20) for generating and directing an X-ray beam along a beam path in a propagation direction (Y) towards the sample holder (20); - an X-ray detector (22), placed inside a diffraction chamber connected to the sample vacuum chamber (26), wherein the X-ray detector (22) is arranged downstream of the sample holder (20) and is movable, in particular in a motorized way, along the propagation direction such as to detect the X-ray beam and X-rays scattered at different scattering angles from the sample (18); - wherein the X-ray beam delivery system (11) is configured to focus the X-ray beam onto a focal spot on or near the X-ray detector (22) when placed at its distal position having the largest distance from the sample holder (20) or to produce a parallel beam, - a Bonse Hart monochromator module (12) positioned upstream of the sample holder (20) and being equipped with a motorized monochromator holder; - a Bonse Hart analyzer module (14) positioned downstream of the sample holder (20) and being equipped with a motorized analyzer holder (14a); wherein both the motorized monochromator holder and the motorized analyzer holder (14a) are configured such as to simultaneously position their respective modules (12, 14) in an active position in the X-ray beam for USAXS measurements and in an inactive position out of the X-ray beam for SAXS measurements, characterized in that the X-ray scattering apparatus (10) furthermore comprises a storage chamber (32) integral with or connected to the sample vacuum chamber (26) and/or the diffraction chamber, and that the motorized analyzer holder (14a) is furthermore configured to position the Bonse Hart analyzer module (14) in a storage position in the storage chamber (32). The invention furthermore refers to an X-ray scattering method carried out using the X-ray scattering apparatus.
Abstract:
L'invention concerne un système (1) de délivrance de faisceau de rayons X comprenant un bloc source (100) émettant un faisceau source de rayons X, des moyens de conditionnement (500) permettant de conditionner le faisceau source en direction d'un échantillon. Le système (1) comporte des moyens de stabilisation (800) agencés de manière à stabiliser thermiquement une zone du système (1) située en aval du bloc source (100), pour limiter des transferts thermiques vers les moyens de conditionnement en vue de prévenir des perturbations thermiques au niveau des moyens de conditionnement (500).
Abstract:
The invention relates to a dual Ion Beam Sputtering method for depositing onto a substrate (S) material generated by the sputtering of a target (121-123) by a sputtering ion beam (110), said method comprising the operation of an assistance ion beam (130) directed onto said substrate in order to assist the deposition of material, said method being characterized in that during the operation of said assistance beam said sputtering beam is also operated in association with said assistance beam, and during said operation of the sputtering beam in association with the assistance beam the sputtering beam crosses a desired part of the assistance beam in order to transport contaminants associated to said desired part of the assistance beam away from said substrate.
Abstract:
L'invention concerne un dispositif de délivrance d'un faisceau de rayons-X pour l'analyse d'un échantillon (50), comprenant : - un bloc source (100) comprenant des moyens d'émission de rayons-X; - un bloc optique (200) placé en aval du bloc source (100), ledit bloc optique (200) comprenant un composant optique monochromateur (210) ayant une surface réfléchissante (212) prévue pour conditionner des rayons-X émis par le bloc source (100) selon un effet optique monodimensionnel ou bidimensionnel; et - des moyens de définition (300) des rayons-X comprenant : o un organe (310) anti-diffusant de délimitation spatiale des rayons-X conditionnés par le composant optique monochromateur (210), placé en aval du composant optique monochromateur (210) et comprenant une ou plusieurs plaques (311) ayant des portions (313) agencées pour former un orifice de délimitation (312), lesdites portions (313) étant revêtues d'un matériau monocristallin limitant la diffusion de rayons-X; o un organe (320) de coupure des rayons-X émis par le bloc source (100), comprenant des moyens d'absorption de rayons-X agencés dans le dispositif de délivrance pour couper les faisceaux directs de rayons-X susceptibles d'atteindre l'organe (310) anti-diffusant de délimitation spatiale sans conditionnement par le composant optique monochromateur (210).
Abstract:
L'invention concerne un ensemble optique comprenant un empilement d'une pluralité de coques réflectives (10;20), chaque coque réflective comprenant un substrat (11) ayant une face arrière (111) comprenant une pluralité de nervures (111 ) formant entretoise et une face avant (112), et un revêtement réflecteur (12) pour rayons X déposé sur la face avant (112) du substrat (11), caractérisé en ce que chaque coque réflective (10) comprend en outre une couche d'adhésion (13) déposée sur le revêtement réflecteur (12), la couche d'adhésion (13) étant une couche mince formée dans un matériau inorganique permettant une adhésion moléculaire avec la face arrière du substrat (21) de la coque réflective adjacente (20). L'invention concerne également un procédé de fabrication d'un tel ensemble optique.
Abstract:
In a method for producing a replication master (10) having a surface with low roughness, comprising the steps of forming said master (10) such as to have a desired external surface shape corresponding to a counterform of a surface of an object (18, 20) to be produced by replication and treating said external surface of said master (10) to obtain a predetermined surface roughness value, it is proposed that said method furthermore comprises the step of coating at least a part of said master (10) with a soluble smoothening layer (16). The invention further relates to a replication master (10) for producing a smooth object (18, 20) having a low surface roughness, wherein at least a part of said master (10) is coated with a soluble smoothening layer (16).