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公开(公告)号：CN113646616A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202080025047.7
申请日：2020-03-25
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 示例系统包括限定腔和孔的外壳、设置在腔内的光电检测器、设置在孔和光电检测器之间的腔内的电压可调干涉仪、设置在腔内的第一光源和电子控制设备。电子控制设备可操作以改变施加到干涉仪的输入电压，并且同时使第一光源向干涉仪发射光并使用光电检测器测量从干涉仪反射的光。电子控制设备还可操作以基于从干涉仪反射并由光电检测器测量的光来确定校准的输入电压。电子控制设备还可操作以将校准的输入电压施加到干涉仪，并且同时使用光电检测器获得一个或多个光谱测量。
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公开(公告)号：CN113227730A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN201980085288.8
申请日：2019-12-17
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 在示例方法中，向样本区域发射光，并且在干涉仪处接收样本光。样本光的子集从干涉仪被透射到检测器。透射样本光的子集包括确定参考温度和与样本光的子集的波长范围对应的参考电压。透射样本光的子集还包括确定环境温度，确定与参考温度和环境温度之间的差对应的偏置电压，以及向干涉仪施加与参考电压和偏置电压之和对应的输入电压。由检测器测量样本光的子集，并且基于测量结果确定光的光谱分布。
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公开(公告)号：CN112513691A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN201980049809.4
申请日：2019-07-26
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 一种光电模块，包括滤光器，并且可以具有相对较小的总高度。该模块包括用于滤光器的半导体管芯，其中管芯在其下侧具有空腔。空腔提供了容纳诸如光传感器或光发射器的光电器件的空间。这种布置可以降低模块的总高度，从而有助于将其集成到其中空间宝贵的主机设备中。
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公开(公告)号：CN113692524B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202080025211.4
申请日：2020-03-25
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 一种示例系统包括第一光源、第二光源、光电检测器和电子控制设备。电子控制设备可操作以使第一光源向对象发射波长范围内的第一光，以及使用光电检测器测量从对象反射的第一光。电子控制设备还可操作以使第二光源发射包括波长范围内的多个发射峰的第二光，以及使用光电检测器测量第二光。电子控制设备还可操作以基于所测量的第一光和所测量的第二光来确定关于对象的光谱信息。
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公开(公告)号：CN113692524A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202080025211.4
申请日：2020-03-25
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 一种示例系统包括第一光源、第二光源、光电检测器和电子控制设备。电子控制设备可操作以使第一光源向对象发射波长范围内的第一光，以及使用光电检测器测量从对象反射的第一光。电子控制设备还可操作以使第二光源发射包括波长范围内的多个发射峰的第二光，以及使用光电检测器测量第二光。电子控制设备还可操作以基于所测量的第一光和所测量的第二光来确定关于对象的光谱信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113677933A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202080025212.9
申请日：2020-03-25
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 哈维尔.米格尔桑切斯
IPC: F21V25/02 , H01S5/00 , H01S5/068 , F21Y115/30
Abstract: 一种照明系统(200)包括照明设备(202)；光学元件(206)，其被定位成接收来自照明设备(202)的光(208)；透明材料层(210)，布置在光学元件(206)上，并被定位成接收来自照明设备(202)的光(208)；以及联锁电路(220)，其被配置为测量透明材料层(210)的电阻率，并基于测量的电阻率控制照明设备(202)的操作。
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公开(公告)号：CN114746729A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202180006868.0
申请日：2021-06-21
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 彼得.伦琴 , 石崎幸太郎 , 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 一种光学传感器。光学传感器包括基板、法布里‑珀罗干涉仪以及第一光电检测器和第二光电检测器。法布里‑珀罗干涉仪包括第一反射镜和第二反射镜，并且安装在基板上，使得光透射通过干涉仪到达基板。第一光电检测器和第二光电检测器被配置为检测透射通过标准具和基板的光。第一光电检测器对第一波长范围敏感，并且第二光电检测器对第二波长范围敏感，并且其中第一波长范围和第二波长范围各自对应于干涉仪的不同模式。
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公开(公告)号：CN113167645A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN201980075162.2
申请日：2019-11-13
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 詹姆斯.艾勒森 , 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 一种示例系统包括光源、第一光谱仪、第二光谱仪和电子控制模块。光源可操作以在照射场中在第一波长范围内发射光。第一光谱仪可操作以在第二波长范围内并且在第一检测场中测量从对象反射的第一样本光。第二光谱仪可操作以在第三波长范围内并且在第二检测场中测量从对象反射的第二样本光。电子控制模块可操作以基于所测量的第一样本光和所测量的第二样本光来确定系统和对象之间的距离，以及基于所测量的第一样本光和所测量的第二样本光来确定对应于对象的光的光谱分布。
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公开(公告)号：CN115023593A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202180010166.X
申请日：2021-06-21
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 一种法布里‑珀罗干涉仪系统上的集成检测器。一种光学传感器。光学传感器包括基板和法布里‑珀罗干涉仪。基板由半导体形成。法布里‑珀罗干涉仪包括第一反射镜和第二反射镜，并且安装在基板上，使得光透射通过干涉仪到基板。基板被掺杂，使得光通过干涉仪透射到的基板的区域形成光电二极管。
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公开(公告)号：CN114641678A
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202180006125.3
申请日：2021-05-24
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 弗朗西斯科.保罗.德阿莱奥 , 哈维尔.米格尔桑切斯 , 石崎幸太郎 , 彼得.伦琴
Abstract: 根据本发明的第一方面，提供了一种使用检测系统测量目标的光学反射率R的方法，该检测系统包括彼此间隔开的光发射器和光检测器。该方法包括用光发射器照射目标，使用光检测器检测从目标反射的光，其中光检测器提供指示检测到的光的强度的电输出信号SS，以及根据下式确定目标的光学反射率R：其中RR是参考标准的光谱反射率，SR是在参考标准就位的情况下的检测器电输出信号，SH是在光发射器和光检测器前面没有目标的情况下的检测器电输出信号，并且M是校准因子。
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