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公开(公告)号：CN114641678B
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202180006125.3
申请日：2021-05-24
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 弗朗西斯科.保罗.德阿莱奥 , 哈维尔.米格尔桑切斯 , 石崎幸太郎 , 彼得.伦琴
Abstract: 根据本发明的第一方面，提供了一种使用检测系统测量目标的光学反射率R的方法，该检测系统包括彼此间隔开的光发射器和光检测器。该方法包括用光发射器照射目标，使用光检测器检测从目标反射的光，其中光检测器提供指示检测到的光的强度的电输出信号SS，以及根据下式确定目标的光学反射率R：#imgabs0#其中RR是参考标准的光谱反射率，SR是在参考标准就位的情况下的检测器电输出信号，SH是在光发射器和光检测器前面没有目标的情况下的检测器电输出信号，并且M是校准因子。
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公开(公告)号：CN114746729A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202180006868.0
申请日：2021-06-21
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 彼得.伦琴 , 石崎幸太郎 , 哈维尔.米格尔桑切斯
Abstract: 一种光学传感器。光学传感器包括基板、法布里‑珀罗干涉仪以及第一光电检测器和第二光电检测器。法布里‑珀罗干涉仪包括第一反射镜和第二反射镜，并且安装在基板上，使得光透射通过干涉仪到达基板。第一光电检测器和第二光电检测器被配置为检测透射通过标准具和基板的光。第一光电检测器对第一波长范围敏感，并且第二光电检测器对第二波长范围敏感，并且其中第一波长范围和第二波长范围各自对应于干涉仪的不同模式。
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公开(公告)号：CN114641678A
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202180006125.3
申请日：2021-05-24
Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司
Inventor： 弗朗西斯科.保罗.德阿莱奥 , 哈维尔.米格尔桑切斯 , 石崎幸太郎 , 彼得.伦琴
Abstract: 根据本发明的第一方面，提供了一种使用检测系统测量目标的光学反射率R的方法，该检测系统包括彼此间隔开的光发射器和光检测器。该方法包括用光发射器照射目标，使用光检测器检测从目标反射的光，其中光检测器提供指示检测到的光的强度的电输出信号SS，以及根据下式确定目标的光学反射率R：其中RR是参考标准的光谱反射率，SR是在参考标准就位的情况下的检测器电输出信号，SH是在光发射器和光检测器前面没有目标的情况下的检测器电输出信号，并且M是校准因子。
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