公开(公告)号：CN104487812A

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN201380027508.4

申请日：2013-05-15

Applicant: 阿凯尔海底有限公司

Inventor： 菲利普·迈克尔·巴戈利 ,  罗宾·斯莱特

IPC: G01J5/00 ,  G01J5/08 ,  G01J5/02 ,  G01J5/12 ,  G01J5/52 ,  G01K7/00 ,  G01N33/28

CPC classification number: G01J5/10 ,  G01J3/0243 ,  G01J5/0037 ,  G01J5/026 ,  G01J5/0806 ,  G01J5/0846 ,  G01J5/0875 ,  G01J5/0893 ,  G01J5/12 ,  G01J5/522 ,  G01J2005/0048 ,  G01J2005/0074 ,  G01N33/2823

Abstract: 用于测量原油的API比重的设备，其包括：用于油的管道(1)；在管道中的热电偶(4)，所述热电偶(4)用于测量与其接触的油的温度；在管道中的蓝宝石窗(3)；用于通过窗测量油之温度的红外温度计(5，6)；以及用于比较通过温度计测得的温度之测量结果以获得原油的发射率度量并且从而获得其API比重的装置(20)。

公开(公告)号：CN102221410B

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201110073043.9

申请日：2011-03-25

Applicant: 特斯托股份公司

Inventor： M·斯特拉特曼 ,  S·欣克尔 ,  D·奥尔 ,  P·查恩 ,  A·梅塞施米德

IPC: G01J5/10 ,  G01J5/02

CPC classification number: G01J5/522 ,  G01J5/02 ,  G01J5/025 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0859 ,  G01J5/089 ,  G01J2005/0074 ,  G01J2005/0077

Abstract: 在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3)，其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11)，其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13)，所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。

公开(公告)号：CN103968955A

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201410044846.5

申请日：2014-02-07

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 内井敏之 ,  森正

IPC: G01J5/10

CPC classification number: G01J5/0014 ,  G01J5/06 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/0896 ,  G01J5/602 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074 ,  G01K11/12

Abstract: 提供一种使用测定对象物的放射光谱高精度地测定温度的温度测定装置。根据实施方式，温度测定装置具有采光单元、提取单元、光强度计算单元以及温度测定单元。采光单元对测定对象物的放射光谱进行采光。提取单元从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光和具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光。光强度计算单元计算所述提取单元所提取出的各光的强度。温度测定单元基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度。

公开(公告)号：CN102221410A

公开(公告)日：2011-10-19

申请号：CN201110073043.9

申请日：2011-03-25

Applicant: 特斯托股份公司

Inventor： M·斯特拉特曼 ,  S·欣克尔 ,  D·奥尔 ,  P·查恩 ,  A·梅塞施米德

IPC: G01J5/10 ,  G01J5/02

CPC classification number: G01J5/522 ,  G01J5/02 ,  G01J5/025 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0859 ,  G01J5/089 ,  G01J2005/0074 ,  G01J2005/0077

Abstract: 在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3)，其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11)，其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13)，所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。

公开(公告)号：CN103968955B

公开(公告)日：2017-01-11

申请号：CN201410044846.5

申请日：2014-02-07

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 内井敏之 ,  森正

IPC: G01J5/10

CPC classification number: G01J5/0014 ,  G01J5/06 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/0896 ,  G01J5/602 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074 ,  G01K11/12

Abstract: 提供一种使用测定对象物的放射光谱高精度地测定温度的温度测定装置。根据实施方式，温度测定装置具有采光单元、提取单元、光强度计算单元以及温度测定单元。采光单元对测定对象物的放射光谱进行采光。提取单元从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光和具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光。光强度计算单元计算所述提取单元所提取出的各光的强度。温度测定单元基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度。

公开(公告)号：CN104122297A

公开(公告)日：2014-10-29

申请号：CN201410168287.9

申请日：2014-04-24

Applicant: 株式会社捷太格特

Inventor： 松本直树 ,  吉田航也 ,  松本顺

IPC: G01N25/72

CPC classification number: G01N25/72 ,  B23K26/032 ,  B23K31/125 ,  G01J2005/0074 ,  G01K15/005 ,  G01N21/63 ,  G01N21/71 ,  G01R31/048 ,  G01R31/308 ,  H01L2224/48472 ,  H01L2224/73257 ,  H01L2224/859

Abstract: 本发明提供一种光学非破坏检查装置以及光学非破坏检查方法，可测定的温度范围较宽的能在短时间内高可靠性地检查引线结合处等测定对象物，光学非破坏检查装置具备聚光准直装置、加热用激光源、加热用激光导光装置、红外线检测器、放射红外线导光装置、第一、第二修正用激光源、第一、第二修正用激光导光装置、第一、第二修正用激光检测器、第一、第二反射激光导光装置以及控制装置。控制装置控制加热用激光源、第一第二修正用激光源并基于来自红外线检测器的检测信号和来自第一、第二修正用激光检测器的检测信号，测定与加热时间对应的测定点的温度上升状态亦即温度上升特性，基于测定出的温度上升特性判定测定对象物的状态。

公开(公告)号：JP6100005B2

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：JP2013019295

申请日：2013-02-04

Applicant: 株式会社東芝

Inventor： 内井 敏之 ,  森 正

IPC: G01J5/58

CPC classification number: G01J5/0014 ,  G01J5/602 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074 ,  G01J5/06 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/0896 ,  G01K11/12

公开(公告)号：JP2014149263A

公开(公告)日：2014-08-21

申请号：JP2013019295

申请日：2013-02-04

Applicant: Toshiba Corp ,  株式会社東芝

Inventor： UCHII TOSHIYUKI ,  MORI TADASHI

IPC: G01J5/58

CPC classification number: G01J5/0014 ,  G01J5/06 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/0896 ,  G01J5/602 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074 ,  G01K11/12

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a temperature measuring device which accurately measures a temperature by using a radiation spectrum of a measurement object.SOLUTION: A temperature measuring device 20 has lighting means 3, extraction means 7, light intensity calculation means and temperature measurement means. The lighting means lights a radiation spectrum of a measurement object. The extraction means extracts light having a wavelength of an atomic beam spectrum and light having a wavelength within a wavelength region without atomic beam spectrum, from the radiation spectrum lit by the lighting means. The light intensity calculation means calculates the intensity of each light extracted by the extraction means. The temperature measurement means calculates a temperature of the measurement object on the basis of the intensity of each light calculated by the light intensity calculation means.

Abstract translation: 要解决的问题：提供一种通过使用测量对象的辐射光谱来精确测量温度的温度测量装置。解决方案：温度测量装置20具有点亮装置3，提取装置7，光强度计算装置和温度测量装置 。 照明装置点亮测量对象的辐射光谱。 提取装置从照明装置点亮的辐射光谱中提取具有原子光谱的波长的光和波长范围内没有原子束光谱的光。 光强度计算装置计算由提取装置提取的每个光的强度。 温度测量装置基于由光强度计算装置计算的每个光的强度来计算测量对象的温度。

公开(公告)号：WO2015002964A1

公开(公告)日：2015-01-08

申请号：PCT/US2014/045073

申请日：2014-07-01

Applicant: EXERGEN CORPORATION

Inventor： JARBOE, Jason, N.

IPC: G01J5/06 ,  G01J5/00

CPC classification number: G01K7/003 ,  G01J5/0003 ,  G01J5/061 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074

Abstract: Devices and corresponding methods are provided to measure temperature and/or emissivity of a target. Emissivity of the target need not be known or assumed, and any temperature difference between a sensor and the target need not be zeroed or minimized. No particular bandpass filter is required. Devices can include one or two sensors viewing the same target as the target views different respective viewed temperatures. The respective viewed temperatures can be sensor temperatures, and a single sensor can be set to each of the respective viewed temperatures at different times. An analyzer determines the temperature and/or emissivity of the target based on the respective viewed temperatures and on plural net heat fluxes detected by the sensors and corresponding to the respective viewed temperatures.

Abstract translation: 提供设备和相应的方法来测量目标的温度和/或发射率。 不需要知道或假设目标的发射率，传感器和目标之间的任何温度差不需要归零或最小化。 不需要特殊的带通滤波器。 设备可以包括观察与目标相同的目标的一个或两个传感器观看不同的相应观察温度。 相应的观察温度可以是传感器温度，并且可以在不同时间将单个传感器设置到各个相应的观察温度。 分析仪基于相应的观察温度和由传感器检测并对应于各个观察温度的多个净热通量来确定目标的温度和/或发射率。

公开(公告)号：WO1992012405A1

公开(公告)日：1992-07-23

申请号：PCT/EP1992000039

申请日：1992-01-08

Applicant: INTERUNIVERSITAIR MICRO ELEKTRONICA CENTRUM VZW ,  VANDENABEELE, Peter, Michael, Noel

Inventor： INTERUNIVERSITAIR MICRO ELEKTRONICA CENTRUM VZW

IPC: G01J05/00

CPC classification number: G01J5/0003 ,  G01J5/0007 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0834 ,  G01J5/0896 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074

Abstract: Method for measuring the temperature of an object that is heated by means of one or more radiation sources, wherein radiation generated by the object is received in at least one radiation pick-up and wherein the radiation sources are changed at least partially in intensity at a predetermined cyclic rate of change and wherein on the basis of the change in the radiation value measured by the radiation pick-up the degree of compensation for the reflectivity and/or emissivity of the object is determined.

Abstract translation: 用于测量通过一个或多个辐射源加热的物体的温度的方法，其中由所述物体产生的辐射被接收在至少一个辐射拾取器中，并且其中所述辐射源的强度至少部分地在 预定的循环变化率，并且其中基于由辐射拾取器测量的辐射值的变化，确定对象的反射率和/或发射率的补偿程度。