中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

27 records (took 0.032 seconds)

    Infrared imaging device, vehicle having the same installed therein, and infrared image adjustment device
    3.
    发明授权
    Infrared imaging device, vehicle having the same installed therein, and infrared image adjustment device 有权
    红外成像装置，其中安装相同的车辆和红外图像调节装置

    公开(公告)号：US07030377B2

    公开(公告)日：2006-04-18

    申请号：US11030659

    申请日：2005-01-06

    Applicant: Tsuyoshi Mekata ,  Taro Imagawa ,  Koji Morikawa

    Inventor： Tsuyoshi Mekata ,  Taro Imagawa ,  Koji Morikawa

    IPC: G01J5/02

    CPC classification number: G01J5/0022 ,  G01J5/061 ,  G01J5/522 ,  G01J5/62 ,  G01J2005/068 ,  G01J2005/526 ,  G08G1/16 ,  H04N5/33 ,  H04N5/3572 ,  H04N5/3651 ,  H04N5/3653 ,  H04N5/3655

    Abstract: In an infrared imaging device, shutting means 40 is configured so that it can be opened/closed and so as to shut off an infrared radiation coming into an optical system 20 when it is closed. During an imaging operation, the shutting means 40 is opened, and the optical system 20 causes an infrared radiation from an object 70 to form an image on an infrared detector 10. The infrared detector 10 outputs a signal according to the amount of infrared light received by each pixel. Correction means 30 corrects sensitivity variations among pixels, the influence of the infrared radiation from the optical system 20, etc. During a calibration operation, the shutting means 40 is closed, and the correction means 30 determines a correction coefficient for correcting fluctuations in the amount of infrared radiation from the optical system 20 by using the output of the infrared detector 10 imaging the shutting means 40.

    Abstract translation: 在红外成像装置中，关闭装置40被构造成能够打开/关闭，以便在关闭时关闭进入光学系统20的红外线辐射。 在成像操作期间，打开关闭装置40，并且光学系统20引起来自物体70的红外辐射，以在红外检测器10上形成图像。 红外线检测器10根据每个像素接收到的红外光的量输出信号。 校正装置30校正像素之间的灵敏度变化，来自光学系统20的红外辐射的影响等。在校准操作期间，关闭装置40关闭，并且校正装置30确定用于校正量的波动的校正系数 通过使用成像关闭装置40的红外检测器10的输出，来自光学系统20的红外辐射。

    THERMAL IMAGING CALIBRATION SYSTEM AND METHOD
    5.
    发明申请
    THERMAL IMAGING CALIBRATION SYSTEM AND METHOD 审中-公开
    热成像校准系统和方法

    公开(公告)号：US20160238454A1

    公开(公告)日：2016-08-18

    申请号：US15021571

    申请日：2014-08-12

    Applicant: SELEX ES LTD

    Inventor： Luke Alexander PILLANS

    IPC: G01J5/52 ,  H04N5/33 ,  G01J5/08

    CPC classification number: G01J5/522 ,  G01J5/0834 ,  G01J5/524 ,  G01J2005/0048 ,  G01J2005/0077 ,  G01J2005/526 ,  H04N5/33

    Abstract: A system and method for calibrating an imaging system includes a shutter that is moveable in to the optical path of the imaging system to generate an image of the shutter surface, which is flat and uniform. The shutter can be moved in and out of the optical path between first and second positions. The shutter is heated whilst in the second position and then returned to the first position. Data sets generated at two different temperatures enable the image generated by the imaging system in normal use to be to be adjusted for responsivity and variation in DC offset of the specific pixel array.

    Abstract translation: 用于校准成像系统的系统和方法包括可移动到成​​像系统的光路中的快门，以生成平坦且均匀的快门表面的图像。 快门可以在第一和第二位置之间移动进出光路。 快门在第二位置被加热，然后返回到第一位置。 在两个不同温度下生成的数据集使得正常使用中由成像系统产生的图像将被调整以适应特定像素阵列的DC偏移的响应性和变化。

    INFRARED IMAGING DEVICE, VEHICLE WITH THE SAME, AND INFRARED IMAGE ADJUSTING DEVICE
    8.
    发明公开
    INFRARED IMAGING DEVICE, VEHICLE WITH THE SAME, AND INFRARED IMAGE ADJUSTING DEVICE 审中-公开
    红外热像装置上使用这项装备的车辆，及装置调整红外图像

    公开(公告)号：EP1160550A1

    公开(公告)日：2001-12-05

    申请号：EP00900357.5

    申请日：2000-01-13

    Applicant: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.

    Inventor： MEKATA, Tsuyoshi ,  IMAGAWA, Taro ,  MORIKAWA, Koji

    IPC: G01J5/48

    CPC classification number: G01J5/0022 ,  G01J5/061 ,  G01J5/522 ,  G01J5/62 ,  G01J2005/068 ,  G01J2005/526 ,  G08G1/16 ,  H04N5/33 ,  H04N5/3572 ,  H04N5/3651 ,  H04N5/3653 ,  H04N5/3655

    Abstract: In an infrared imaging device, shutting means 40 is configured so that it can be opened/closed and so as to shut off an infrared radiation coming into an optical system 20 when it is closed. During an imaging operation, the shutting means 40 is opened, and the optical system 20 causes an infrared radiation from an object 70 to form an image on an infrared detector 10 . The infrared detector 10 outputs a signal according to the amount of infrared light received by each pixel. Correction means 30 corrects sensitivity variations among pixels, the influence of the infrared radiation from the optical system 20 , etc. During a calibration operation, the shutting means 40 is closed, and the correction means 30 determines a correction coefficient for correcting fluctuations in the amount of infrared radiation from the optical system 20 by using the output of the infrared detector 10 imaging the shutting means 40.

    Abstract translation: 在红外成像装置，关闭装置40被构造成这样做是可以被打开/关闭并且以便当它被关闭以切断到进入到光学系统20的红外辐射。 在关于成像手术中，关闭装置40被打开，并且该光学系统20只使红外辐射从在物体70上形成在红外检测器10的红外线检测器10的信号雅丁输出到红外光的接收量的图像 由每个像素。 校正装置30校正灵敏度变化的像素中，从光学系统20等的红外线辐射的影响在校准期间手术中，关闭装置40被关闭，并且所述校正装置30 bestimmt的校正系数用于在校正量的波动 通过使用红外线检测器10成像关闭的输出从光学系统20的红外辐射的装置40

    遮蔽板及び測定装置
    9.
    发明申请
    遮蔽板及び測定装置 审中-公开
    屏蔽板和测量装置

    公开(公告)号：WO2016190298A1

    公开(公告)日：2016-12-01

    申请号：PCT/JP2016/065278

    申请日：2016-05-24

    Applicant: 浜松ホトニクス株式会社

    Inventor： 中村　共則

    IPC: G01J5/48 ,  G01J5/00 ,  G01J5/06

    CPC classification number: G01J5/061 ,  G01J5/00 ,  G01J5/06 ,  G01J5/0831 ,  G01J5/0856 ,  G01J5/20 ,  G01J5/48 ,  G01J5/522 ,  G01J5/524 ,  G01J2005/065 ,  G01J2005/526

    Abstract: 遮蔽板は、測定対象の温度の非接触測定に用いられる遮蔽板であって、温度を調整可能な基材を備え、基材は、遮蔽板に形成された中心遮蔽部と、中心遮蔽部周りに形成された開口部と、基材の一方の面において中心遮蔽部を挟んで開口部と対向する部分を含むように形成され、赤外線を放射する黒体面と、を有する。

    Abstract translation: 该屏蔽板用于非接触式地测量待测物体的温度，并设置有能够调节温度的基板。 基板设置有形成在屏蔽板上的中心屏蔽部分; 围绕中心屏蔽部分形成的开口; 以及发射红外线的黑体表面，并且形成在基板的一个表面上，以夹住中心屏蔽部分并且包括面向开口的部分。

    VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM
    10.
    发明申请
    VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM 审中-公开
    用于非接触测定温度和红外测量系统的方法

    公开(公告)号：WO2018001734A1

    公开(公告)日：2018-01-04

    申请号：PCT/EP2017/064505

    申请日：2017-06-14

    Applicant: ROBERT BOSCH GMBH

    Inventor： FRANK, Michael ,  SENZ, Volkmar ,  BADEJA, Michael ,  RUMBERG, Axel ,  KRUEGER, Michael ,  DITTMER, Helge

    IPC: G01J5/08 ,  G01J5/02 ,  G01J5/06 ,  G01J5/52 ,  G01J5/62 ,  G01J5/00 ,  H04N5/33 ,  H04N5/365

    CPC classification number: G01J5/025 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/06 ,  G01J5/0834 ,  G01J5/0859 ,  G01J5/089 ,  G01J5/522 ,  G01J5/62 ,  G01J2005/0048 ,  G01J2005/0077 ,  G01J2005/0081 ,  G01J2005/065 ,  G01J2005/066 ,  G01J2005/526 ,  H04N5/33 ,  H04N5/357 ,  H04N5/3651 ,  H04N5/3655

    Abstract: Das vorgeschlagene Verfahren zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche (22), insbesondere zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperaturverteilung einer Oberfläche (22), geht aus von einem Infrarot-Messsystem (10, 10a), das zumindest aufweist: - ein Infrarot-Detektorarray (36) mit einer Mehrzahl von Messpixeln (62), die jeweils ein Messsignal zur Ermittlung eines von einer Intensität der einfallenden Infrarotstrahlung abhängigen Temperaturmesswerts T MP (64) bereitstellen, und - einen Verschlussmechanismus zum Unterbinden eines Einfalls von Infrarotstrahlung auf das Infrarot-Detektorarray (36), wobei das Verfahren zumindest folgende Schritte umfasst: - Bestimmen der Temperaturmesswerte T MP (64) einer Mehrzahl von Messpixeln (62); - Korrigieren von Temperaturmesswerten T MP (64) um jeweils eine Pixel-zugehörige Temperatur-Driftkomponente T drift (46). Erfindungsgemäß wird zumindest zeitweise ein Einfall von Infrarotstrahlung auf das Infrarot-Detektorarray (36) mittels des Verschlussmechanismus (58) des Infrarot-Messsystems (10, 10a) unterbunden, währenddessen Temperaturmesswerte T MP blind (66) ermittelt werden, und werden die Temperatur-Driftkomponenten T drift (46) unter Verwendung von Temperaturmesswerten TMP blind (66) bestimmt. Ferner wird ein mit dem Verfahren betriebenes Infrarot-Messsystem (10, 10a) vorgeschlagen.

    Abstract translation:

    用于表面BEAR表面（22）的温度的非接触确定用于表面BEAR表面（22）的温度分布的非接触确定所提出的方法，特别是基于红外线测量系统（10，10a）的 至少包括： - ;所述入射的红外辐射BEAR依赖性温度值的Ť的<的DEP吨一个具有多个测量的像素（62），每个具有用于确定强度＆AUML中的一个的测量信号的红外检测器阵列（36） 子系统和用于防止红外辐射在红外探测器阵列（36）上发生的快门机构，该方法至少具有以下内容 步骤包括：确定多个测量像素（62）的温度读数T（MP）（64）;以及 - 修正温度测量Ť的<子>的 MP 的 <子> （64）由一个像素YEARS＆OUML;元温度漂移成分T < sub>漂移（46）。 发明＆AUML;大街 至少暂时，红外辐射到红外探测器阵列（36）由所述红外线测量系统的锁定机构（58）的手段抑制瓦特BEAR的发生率（10，10A），在此期间的温度测量值的Ť的<子>的 MP 的 的盲的被确定（66），并且温度漂移分量的Ť的<子>的 使用温度读数TMP <盲> （66）计算漂移 ， 此外，提出了一种使用该方法操作的红外测量系统（10,10a）。

Patent Agency Ranking