公开(公告)号：CN107210174A

公开(公告)日：2017-09-26

申请号：CN201680007531.0

申请日：2016-01-18

Applicant: 西门子公司

Inventor： O.海德 ,  A.盖斯勒 ,  S.戈斯曼

IPC: H01J35/06 ,  H01J35/10

CPC classification number: H01J1/304 ,  H01J3/021 ,  H01J9/025 ,  H01J31/08 ,  H01J35/065 ,  H01J35/10 ,  H01J35/14

Abstract: 本发明涉及一种用于在外磁场（50）中产生X射线辐射的设备，外磁场可以通过磁场装置产生。该设备（1）包括用于产生电子束（30）的阴极（10）以及用于使电子束（30）的电子减速并且用于产生X射线束（50）的阳极（20）。该设备（1）此外包括用于产生电场的装置，所述电场由阳极（20）朝阴极（10）的方向指向并且与外磁场（50）基本上共线，其中阴极（10）包括冷阴极作为电子发射体（12），所述冷阴极无源地借助场致发射提供自由电子。

公开(公告)号：EP0031732A3

公开(公告)日：1982-06-02

申请号：EP80304758

申请日：1980-12-30

Applicant: AMERICAN STERILIZER COMPANY

Inventor： NG, Sing Tai

IPC: H01J31/08 ,  H01L31/10 ,  G01T01/164

CPC classification number: G01T1/1645 ,  H01J31/08 ,  H01L31/119

Abstract: A light and charged particle image intensifier (10) receives incident image conveying light or charged particles {«incident beam») (12) and provides to data processing and video equipment signals from which the image conveyed by the incident beam (12) can be constructed and displayed. The beam (12) that is being processed includes visible light reflected from objects and X-ray radiation that has been passed through an object such as a human body. The image intensifier includes a scintillator (14) and photocathode unit (16) for converting the incident beam (12) to photoelectrons (18) and a charge-coupled device («CCD») (52) for detecting the photoelectrons (18) and transmitting to the data processing and video equipment information relating to the quantity or energy level as well as the location of the electrons (18) impinging on the sensing areas (54 or Sl to SN) of the CCD (52). From this information, the data processing and video equipment can reconstruct the image conveyed by the incident beam (12). The sensitivity of the device is increased either by imposing an electric field across the photocathode (16) and the CCD (52) to accelerate the photoelectrons or by placing a micro channel processor («MCP») (20) between the photocathode (16) and the CCD (52) to increase the number of electrons that impinge on the CCD (52). Alternately, a silicon diode target (42) can be used instead of a CCD (52) to intercept the electrons and an electron beam gun (44) can be used to detect the location and intensity of the charges created on the target (42) by the impinging electrons. Finally, a grid (24) having a number of windows can be used instead of a CCD (52) or a silicon target (42) to detect the location of the electron streams and a photoanode (25) can detect their intensity.

Abstract translation: 光和带电粒子图像增强器接收输入光或带电粒子（“入射光束”）的入射图像，并提供数据处理和视频设备信号，可由其构建和显示由入射光束传送的图像。 正在处理的光束包括从物体反射的可见光和已经通过诸如人体的物体的X射线辐射。 图像增强器包括用于将入射光束转换成光电子的闪烁体和光电阴极单元以及用于检测光电子的电荷耦合器件（“CCD”），并且还向数据处理和视频设备发送与数量或能级相关的信息 作为撞击CCD感测区域的电子的位置。 从该信息，数据处理和视频设备可以重建由入射光束传送的图像。 通过在光电阴极和CCD之间施加电场以加速光电子，或通过在光电阴极和CCD之间放置微通道板（“MCP”）以增加撞击的电子数量来增加器件的灵敏度 CCD。 或者，可以使用硅二极管靶代替CCD来截取电子，并且可以使用电子束枪来检测由撞击电子在靶上产生的电荷的位置和强度。 最后，可以使用具有多个窗口的网格来代替CCD或硅靶来检测电子流的位置，并且光​​电阳极可以检测其强度。

公开(公告)号：EP0036340B1

公开(公告)日：1984-12-27

申请号：EP81400193.9

申请日：1981-02-06

Applicant: THOMSON-CSF

Inventor： Guyot, Lucien

IPC: H01J29/39 ,  G01T1/29 ,  H01L31/02

CPC classification number: G01T1/2928 ,  H01J29/44 ,  H01J31/08 ,  H01L27/14831 ,  H01L31/119

公开(公告)号：EP0031732A2

公开(公告)日：1981-07-08

申请号：EP80304758.8

申请日：1980-12-30

Applicant: AMERICAN STERILIZER COMPANY

Inventor： NG, Sing Tai

IPC: H01J31/08 ,  H01L31/10 ,  G01T1/164

CPC classification number: G01T1/1645 ,  H01J31/08 ,  H01L31/119

Abstract: A light and charged particle image intensifier (10) receives incident image conveying light or charged particles {«incident beam») (12) and provides to data processing and video equipment signals from which the image conveyed by the incident beam (12) can be constructed and displayed. The beam (12) that is being processed includes visible light reflected from objects and X-ray radiation that has been passed through an object such as a human body. The image intensifier includes a scintillator (14) and photocathode unit (16) for converting the incident beam (12) to photoelectrons (18) and a charge-coupled device («CCD») (52) for detecting the photoelectrons (18) and transmitting to the data processing and video equipment information relating to the quantity or energy level as well as the location of the electrons (18) impinging on the sensing areas (54 or Sl to SN) of the CCD (52). From this information, the data processing and video equipment can reconstruct the image conveyed by the incident beam (12). The sensitivity of the device is increased either by imposing an electric field across the photocathode (16) and the CCD (52) to accelerate the photoelectrons or by placing a micro channel processor («MCP») (20) between the photocathode (16) and the CCD (52) to increase the number of electrons that impinge on the CCD (52). Alternately, a silicon diode target (42) can be used instead of a CCD (52) to intercept the electrons and an electron beam gun (44) can be used to detect the location and intensity of the charges created on the target (42) by the impinging electrons. Finally, a grid (24) having a number of windows can be used instead of a CCD (52) or a silicon target (42) to detect the location of the electron streams and a photoanode (25) can detect their intensity.

Abstract translation: 光和带电粒子图像增强器接收输入光或带电粒子（“入射光束”）的入射图像，并提供数据处理和视频设备信号，可由其构建和显示由入射光束传送的图像。 正在处理的光束包括从物体反射的可见光和已经通过诸如人体的物体的X射线辐射。 图像增强器包括用于将入射光束转换成光电子的闪烁体和光电阴极单元以及用于检测光电子的电荷耦合器件（“CCD”），并且还向数据处理和视频设备发送与数量或能级相关的信息 作为撞击CCD感测区域的电子的位置。 从该信息，数据处理和视频设备可以重建由入射光束传送的图像。 通过在光电阴极和CCD之间施加电场以加速光电子，或通过在光电阴极和CCD之间放置微通道板（“MCP”）以增加撞击的电子数量来增加器件的灵敏度 CCD。 或者，可以使用硅二极管靶代替CCD来截取电子，并且可以使用电子束枪来检测由撞击电子在靶上产生的电荷的位置和强度。 最后，可以使用具有多个窗口的网格来代替CCD或硅靶来检测电子流的位置，并且光​​电阳极可以检测其强度。

公开(公告)号：EP0036340A1

公开(公告)日：1981-09-23

申请号：EP81400193.9

申请日：1981-02-06

Applicant: THOMSON-CSF

Inventor： Guyot, Lucien

IPC: H01J29/39 ,  G01T1/29 ,  H01L31/02

CPC classification number: G01T1/2928 ,  H01J29/44 ,  H01J31/08 ,  H01L27/14831 ,  H01L31/119

Abstract: Ce dispositif est constitué par plusieurs registres à décalages à transfert de charges (r 1 ,r 2 ...) intégrés sur le même substrat semiconducteur (2) et disposés les uns au-dessus des autres selon l'axe Oy. Les électrodes de transfert des charges (4) sont communes à tous les registres et. chaque paquet de charges injecté sous une électrode ayant reçu l'impact de particules est transféré selon l'axe Ox jusque sous une zone diffusée (5) commune à tous les registres ce qui provoque le passage de courants (i' et i' 2 ) dans deux électrodes (e 1 , e 2 ) reliées aux extrémités de la zone diffusée selon l'axe Ox.

公开(公告)号：WO2016120104A1

公开(公告)日：2016-08-04

申请号：PCT/EP2016/050862

申请日：2016-01-18

Applicant: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT

Inventor： HEID, Oliver ,  GEISLER, Andreas ,  GOSSMANN, Svetlana

IPC: H01J35/06

CPC classification number: H01J1/304 ,  H01J3/021 ,  H01J9/025 ,  H01J31/08 ,  H01J35/065 ,  H01J35/10 ,  H01J35/14

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Erzeugung von Röntgenstrahlung in einem äußeren Magnetfeld (50), das durch eine Magnetfeldeinrichtung erzeugbar ist. Die Vorrichtung (1) umfasst eine Kathode (10) zur Erzeugung eines Elektronen- strahls (30) sowie eine Anode (20) zum Abbremsen der Elektronen des Elektronenstrahls (30) und zum Erzeugen eines Röntgenstrahls (50). Ferner umfasst die Vorrichtung (1) eine Einrichtung zum Erzeugen eines von der Anode (20) in Richtung der Kathode (10) gerichteten und zu dem äußeren Magnetfeld (50) im Wesentlichen kollinearen elektrischen Felds, wobei die Kathode (10) als Elektronenemitter (12) eine Kaltkathode umfasst, welche passiv mittels Feldemission freie Elektronen bereitstellt.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于在一个外部磁场（50），其可以通过磁场来产生产生的X辐射的装置。 所述装置（1）包括用于产生电子束（30）和用于减速的电子束（30）的电子和用于产生X射线束（50）的阳极（20）的阴极（10）。 此外，装置（1）包括用于产生阳极（20），在所述阴极的方向定向，所述（10）中的一个，并且外部磁场（50）是基本共线的电场，其中，所述阴极（10）作为电子发射器（12 ）包括冷阴极，它提供了场致发射的自由电子的被动装置。

公开(公告)号：WO2005073681A1

公开(公告)日：2005-08-11

申请号：PCT/JP2005/000531

申请日：2005-01-18

Applicant: 浜松ホトニクス株式会社 ,  木下 勝之

Inventor： 木下 勝之

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J11/00 ,  H01J31/08 ,  H01J31/502 ,  H01J31/503

Abstract: 　ストリーク装置は、一端側に設けられ電子ビームＥを出力する電子ビーム源２０、及び、他端側に設けられ電子ビームを像に変換する出力部６０を有する真空容器１０と、真空容器内に設けられ電子ビームを加速する加速部３０と、加速部により加速された電子ビームに被計測光Ｒを集光して照射する照射光学系４０と、加速部と出力部との間に設けられ、被計測光と相互作用した電子ビームを、その相互作用により生じた電子ビームの変位方向に略直交する方向に掃引する掃引部５０とを備える。これにより、高時間分解能化が可能なストリーク装置が実現される。

Abstract translation: 条纹装置包括：真空容器（10），其具有布置在容器（10）的一端的用于输出电子束E的电子束源（20）和布置在容器的另一端的输出单元（60） （10），用于将电子束转换成图像; 布置在所述真空容器中用于加速所述电子束的加速单元（30） 照射光学系统（40），用于将被测量的光R会聚并施加到由加速单元加速的电子束; 以及布置在所述加速单元和所述输出单元之间的扫掠单元（50），用于在与所述相互作用产生的电子束的位移方向基本正交的方向上扫掠与待测量的光相互作用的电子束。 因此，可以实现具有高时间分辨率的条纹装置。

公开(公告)号：WO1994006147A1

公开(公告)日：1994-03-17

申请号：PCT/RU1993000199

申请日：1993-08-12

Applicant: TOVARISHESTVO S OGRANICHENNOI OTVETSTVENNOSTYU FI ,  SADCHIKHIN, Alexandr Veniaminovich ,  TSYGANKOV, Vasily Viktorovich ,  KATSAP, Viktor Naumovich

Inventor： TOVARISHESTVO S OGRANICHENNOI OTVETSTVENNOSTYU FI

IPC: H01J31/08

CPC classification number: H01S3/0959 ,  H01J31/08

Abstract: The invention can be used in the production of electron beam tubes. The fundamental problem addressed by the invention is that of enhancing the efficiency and power of electron beam tubes while reducing the quantity of X-rays emitted by them. The problem is solved according to the invention by providing the tube with an electroconductive base (9) on which is mounted a semiconductor layer (6), and an element (12) by which the surface of the laser target facing the electron gun (2) is electrically connected to the base (9), the electron gun (2) and associated control system being configured obliquely to the semitransparent reflecting layer (5) at an angle (gamma)

Abstract translation: 本发明可用于生产电子束管。 本发明解决的根本问题是提高电子束管的效率和功率，同时减少它们发射的X射线量。 根据本发明，通过为管提供导电基底（9），其上安装有半导体层（6）和元件（12），通过该元件（12）将激光靶的表面面向电子枪（2） ）电连接到基座（9），电子枪（2）和相关联的控制系统以角度（γ）= = - （α）倾斜配置到半透明反射层（5），其中：（γ ）=电子枪（2）的轴线与垂直于层（6）的角度; （α）=电子枪（2）的轴线与连接梁的偏转中心与最远离所述偏转中心的层（6）上的点的线之间的角度。

公开(公告)号：US4471378A

公开(公告)日：1984-09-11

申请号：US108681

申请日：1979-12-31

Applicant: Sing Tai Ng

Inventor： Sing Tai Ng

IPC: H04N5/30 ,  G01T1/164 ,  H01J31/08 ,  H01J31/26 ,  H01J31/49 ,  H01J31/50 ,  H01L31/119 ,  H04N5/32 ,  H04N5/33

CPC classification number: G01T1/1645 ,  H01J31/08 ,  H01L31/119

Abstract: A light and charged particle image intensifier receives incident image conveying light or charged particles ("incident beam") and provides to data processing and video equipment signals from which the image conveyed by the incident beam can be constructed and displayed. The beam that is being processed includes visible light reflected from objects and X-ray radiation that has been passed through an object such as a human body. The image intensifier includes a scintillator and photocathode unit for converting the incident beam to photoelectrons and a charge-coupled device ("CCD") for detecting the photoelectrons and transmitting to the data processing and video equipment information relating to the quantity or energy level as well as the location of the electrons impinging on the sensing areas of the CCD. From this information, the data processing and video equipment can reconstruct the image conveyed by the incident beam. The sensitivity of the device is increased either by imposing an electric field across the photocathode and the CCD to accelerate the photoelectrons or by placing a micro channel plate ("MCP") between the photocathode and the CCD to increase the number of electrons that impinge on the CCD. Alternately, a silicon diode target can be used instead of a CCD to intercept the electrons and an electron beam gun can be used to detect the location and intensity of the charges created on the target by the impinging electrons. Finally, a grid having a number of windows can be used instead of a CCD or a silicon target to detect the location of the electron streams and a photoanode can detect their intensity.

Abstract translation: 光和带电粒子图像增强器接收输入光或带电粒子（“入射光束”）的入射图像，并提供数据处理和视频设备信号，由该入射光束可以构造和显示由入射光束传送的图像。 正在处理的光束包括从物体反射的可见光和已经通过诸如人体的物体的X射线辐射。 图像增强器包括用于将入射光束转换为光电子的闪烁体和光电阴极单元以及用于检测光电子的电荷耦合器件（“CCD”），并向数据处理和视频设备传输与数量或能级有关的信息 作为撞击CCD感测区域的电子的位置。 从该信息，数据处理和视频设备可以重建由入射光束传送的图像。 通过在光电阴极和CCD之间施加电场以加速光电子或通过在光电阴极和CCD之间放置微通道板（“MCP”）以增加撞击的电子数量来增加器件的灵敏度 CCD。 或者，可以使用硅二极管靶代替CCD来截取电子，并且可以使用电子束枪来检测由撞击电子在靶上产生的电荷的位置和强度。 最后，可以使用具有多个窗口的网格来代替CCD或硅靶来检测电子流的位置，并且光​​电阳极可以检测它们的强度。

公开(公告)号：US3564154A

公开(公告)日：1971-02-16

申请号：US3564154D

申请日：1964-03-09

Applicant: IIT RES INST

Inventor： CAMRAS MARVIN

IPC: G11B5/49 ,  G11B11/10 ,  G11B11/115 ,  H01J29/10 ,  H01J31/08 ,  H04N5/78 ,  H04N5/782 ,  G11B5/32 ,  H01J31/04 ,  H04N1/24

CPC classification number: G11B5/4907 ,  G11B11/10 ,  G11B11/115 ,  H01J29/10 ,  H01J31/08 ,  H04N5/7805 ,  H04N5/782

Abstract: An electron beam head for reproducing magnetically recorded video signals wherein magnetic fields from the record medium are channeled to the interior of the envelope to deflect the primary electrons transversely to the scanning direction of the beam. In one embodiment, the sensing electrodes are at opposite sides of the magnetic field region at an end wall of the envelope, while in another embodiment the primary electron beam passes through the openings in a grid of magnetic wires so as to interact with the magnetic fields therebetween, electrostatic deflecting means serving to deflect the electron beam through a substantial angle as it leaves the grid so as to impinge on sensing electrodes remote from the grid. In a third embodiment, secondary electrons are conducted into a branch tube extending from the main envelope and a single electrode senses the degree of deflection of the secondary electrons by the magnetic fields permeating the secondary emission region.