公开(公告)号：CN104185771A

公开(公告)日：2014-12-03

申请号：CN201380016049.X

申请日：2013-01-24

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 壁谷泰宏 ,  古田宽和 ,  原伸夫 ,  青木祥平 ,  滨野诚司

IPC: G01B11/00 ,  G01B9/02

CPC classification number: H01M10/0409 ,  B65H18/00 ,  B65H39/16 ,  B65H81/00 ,  B65H2553/41 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02091 ,  G01B11/00 ,  G01B11/14 ,  G01N21/4795 ,  G01N21/8901 ,  H01G4/005 ,  H01G4/32 ,  H01G13/02 ,  Y10T29/4911 ,  Y10T29/49119

Abstract: 本发明提供一种回卷装置，该回卷装置具备：分割部(303)，其将来自光源单元的放射光分割为照射在第一片与第二片的侧面部(204e)上的测定光和照射在参照面(311)上的参照光；干涉检测部(314)，其检测由所述参照面反射的所述参照光与由所述侧面部反射的所述测定光干涉而成的干涉光；位置检测部(314)，其根据由所述检测部检测到的所述干涉光而检测所述第一片与所述第二片的位置；判定部(100c)，其根据由所述位置检测部检测到的所述位置来判定所述回卷体的优劣。

公开(公告)号：CN104185771B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201380016049.X

申请日：2013-01-24

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 壁谷泰宏 ,  古田宽和 ,  原伸夫 ,  青木祥平 ,  滨野诚司

IPC: G01B11/00 ,  G01B9/02

CPC classification number: H01M10/0409 ,  B65H18/00 ,  B65H39/16 ,  B65H81/00 ,  B65H2553/41 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02091 ,  G01B11/00 ,  G01B11/14 ,  G01N21/4795 ,  G01N21/8901 ,  H01G4/005 ,  H01G4/32 ,  H01G13/02 ,  Y10T29/4911 ,  Y10T29/49119

Abstract: 本发明提供一种回卷装置，该回卷装置具备：分割部(303)，其将来自光源单元的放射光分割为照射在第一片与第二片的侧面部(204e)上的测定光和照射在参照面(311)上的参照光；干涉检测部(314)，其检测由所述参照面反射的所述参照光与由所述侧面部反射的所述测定光干涉而成的干涉光；位置检测部(314)，其根据由所述检测部检测到的所述干涉光而检测所述第一片与所述第二片的位置；判定部(100c)，其根据由所述位置检测部检测到的所述位置来判定所述回卷体的优劣。