电子部件试验装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101750558A

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN200910226544.9

    申请日:2009-11-25

    CPC classification number: G01R31/2601 G01R31/2867

    Abstract: 本发明提供一种电子部件试验装置,在电子部件的试验中,能够使试验作业高效化,并能够确保较高的试验精度。电子部件试验装置具备:插座(1),对连接端子(14)供给电源来使其驱动电子部件(15);电子部件搭载构件(3),搭载电子部件(15);以及温度调节构件,与电子部件搭载构件(3)接触,将电子部件(15)保持为规定的温度;电子部件搭载构件(3)具备:导热板(8),搭载电子部件(15),并与温度调节构件接触;以及电子部件盖(11),覆盖电子部件(15);在导热板(8)上设有贯通孔(6)。

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