公开(公告)号：CN100505201C

公开(公告)日：2009-06-24

申请号：CN200610067324.2

申请日：2006-03-15

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 早水勲 ,  西川透 ,  立柳昌哉 ,  田中彰一

IPC: H01L21/66 ,  H01S3/13 ,  G01J1/00

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0271 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明揭示一种光学器件的试验装置。即使是外部连接端子接触面的位置与半导体激光元件的发光出射方向之间的位置关系不同的形态的光学器件，也可以兼用试验装置进行试验。

公开(公告)号：CN1835201A

公开(公告)日：2006-09-20

申请号：CN200610067324.2

申请日：2006-03-15

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 早水勲 ,  西川透 ,  立柳昌哉 ,  田中彰一

IPC: H01L21/66 ,  H01S3/13 ,  G01J1/00

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0271 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明揭示一种光学器件的试验装置。即使是外部连接端子接触面的位置与半导体激光元件的发光出射方向之间的位置关系不同的形态的光学器件，也可以兼用试验装置进行试验。