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公开(公告)号：CN111340751B
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN201911199992.4
申请日：2019-11-29
Applicant: 国立大学法人东京大学 , 株式会社三丰
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明提供一种X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置。该X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置从通过X射线CT获取到的体数据中提取CT值固定的体素来生成等值面网格(M)，在网格(M)的各顶点(p)处计算顶点(p)的CT值的梯度向量(g)，在计算出的梯度向量(g)的正负方向上生成多个采样点(S)，计算所生成的各采样点(S)处的CT值的梯度范数(N)，使顶点移动至计算出的梯度范数为最大值(Nm)的采样点(Sm)，由此修正等值面的顶点(p)。
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公开(公告)号：CN112556611A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202010946721.7
申请日：2020-09-10
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：载置工序，将校正治具载置于旋转台；移动位置获取工序，使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动，向校正治具照射X射线，并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置；相对位置计算工序，对其余的球进行移动位置获取工序，根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔；特征位置计算工序；变换矩阵计算工序；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而变形，例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
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公开(公告)号：CN111340751A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201911199992.4
申请日：2019-11-29
Applicant: 国立大学法人东京大学 , 株式会社三丰
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明提供一种X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置。该X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置从通过X射线CT获取到的体数据中提取CT值固定的体素来生成等值面网格(M)，在网格(M)的各顶点(p)处计算顶点(p)的CT值的梯度向量(g)，在计算出的梯度向量(g)的正负方向上生成多个采样点(S)，计算所生成的各采样点(S)处的CT值的梯度范数(N)，使顶点移动至计算出的梯度范数为最大值(Nm)的采样点(Sm)，由此修正等值面的顶点(p)。
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公开(公告)号：CN112461165B
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202010940511.7
申请日：2020-09-09
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04 , G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：前段特征位置计算工序，将配置于N个部位的球的平行移动进行多次，确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置；单独矩阵计算工序，针对球分别计算单独投影矩阵；单独位置计算工序，基于单独投影矩阵来计算球各自的移动位置；坐标统一工序，计算球的特定的相对位置间隔；后段特征位置计算工序；变换矩阵计算工序，计算投影变换矩阵；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而发生变形，也能够通过简单的工序容易地计算例如将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113932741A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202110724806.5
申请日：2021-06-29
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校准方法，包括以下工序：载置工序，将校准治具载置于旋转台；特征位置计算工序，向校准治具照射X射线，根据X射线图像检测器的输出来确定重心位置；变换矩阵计算工序，根据重心位置和已知的相对位置间隔，来计算投影变换矩阵；旋转检测工序，使旋转台以规定角度旋转2次以上，重复进行特征位置计算工序和变换矩阵计算工序；以及中心位置计算工序，基于投影变换矩阵来计算旋转台的旋转中心位置。由此，能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
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公开(公告)号：CN118794391A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410438232.9
申请日：2024-04-12
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/14
Abstract: 本发明涉及自动测量系统和用于自动测量系统的控制方法。自动测量系统包括：测量传感器工具，其检测待测量物体的表面以测量待测量物体的尺寸或形状；移动机构，其相对于待测量物体相对地移动测量传感器工具；和观察相机，其对待测量物体进行成像。从通过观察相机对待测量物体进行成像而得到的图像数据中获取待测量点的位置和取向、姿态，在考虑观察相机与测量传感器工具之间的位置和姿态的偏离量的情况下，通过移动机构使测量传感器工具接近待测量点，并通过测量传感器工具获取待测量点的测量值。
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公开(公告)号：CN112461871A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202010920049.4
申请日：2020-09-04
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046 , G01B15/00
Abstract: 本发明提供一种测量用X射线CT装置。测量用X射线CT装置在X射线源与X射线检测器之间具备用于搭载测定对象的旋转台以及扫描机构，该测量用X射线CT装置在预先校正X射线源的焦点、X射线检测器和旋转台的旋转中心的几何位置关系的基础上向测定对象照射X射线来进行CT扫描，由此获取投影图像，并通过对该投影图像进行CT重建来生成测定对象的三维像，所述测量用X射线CT装置具备：基准框架，其具有不易受环境变动所影响的材质和构造；以及传感器，其配置于该基准框架，用于在CT扫描中逐次获取X射线源的焦点与X射线检测器的几何位置关系的校正值，其中，所述测量用X射线CT装置将该校正值用作CT重建的参数。
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公开(公告)号：CN112461165A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202010940511.7
申请日：2020-09-09
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04 , G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：前段特征位置计算工序，将配置于N个部位的球的平行移动进行多次，确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置；单独矩阵计算工序，针对球分别计算单独投影矩阵；单独位置计算工序，基于单独投影矩阵来计算球各自的移动位置；坐标统一工序，计算球的特定的相对位置间隔；后段特征位置计算工序；变换矩阵计算工序，计算投影变换矩阵；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而发生变形，也能够通过简单的工序容易地计算例如将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
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公开(公告)号：CN108007400A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201711062976.1
申请日：2017-11-02
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/00
CPC classification number: G01N23/046 , G01B5/0004 , G01B15/00 , G01B21/02 , G01B21/042 , G01N2223/303 , G01N2223/419 , G06T11/008
Abstract: 一种坐标对准工具，包括：基部，其具有至少两个接地面，以保持适于由坐标测量装置进行测量的姿态和适于由测量X射线CT设备进行测量的姿态，和固定器，其用以将测量对象固定到所述基部；以及布置在所述基部上的至少三个标准球。
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