三维测量装置以及方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112292577B

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN201980038668.6

    申请日:2019-03-08

    Inventor: 付星斗 苗林

    Abstract: 一面提高测量对象物的三维形状的测量精度,一面防止操作性以及处理效率降低。三维测量装置具备:投光拍摄部,至少具备第一单元和第二单元,第一单元具有第一投光部和第一拍摄部,第一投光部对测量对象物投影第一图案光,第一拍摄部从第一拍摄方向对测量对象物进行拍摄,第二单元具有第二投光部和第二拍摄部,第二投光部对测量对象物投影第二图案光,第二拍摄部从第二拍摄方向对测量对象物进行拍摄;以及计算部,基于测量对象物的拍摄图像中的规定图案和所存储的规定图案,计算目标像素的三维位置。于是,投光拍摄部对测量对象物分别单独地投影第一图案光及第二图案光,并通过第一拍摄部及第二拍摄部对分别被投影有各图案光的测量对象物进行拍摄。

    计测系统、计测装置、计测方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN111947568A

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN202010406289.2

    申请日:2020-05-14

    Inventor: 付星斗 苗林

    Abstract: 提供计测系统、计测装置、计测方法以及记录介质,缩短配准计测对象物的3D数据所需的时间。根据在机器人停止期间3D传感器在特定的计测点处计测出计测对象物的3D数据(110-1)的时刻的机器人各关节的位移以及在机器人动作期间3D传感器在特定的计测点以外的计测点处计测出计测对象物的3D数据(110-2)的时刻的机器人各关节的位移,将3D数据(110-2)向3D数据(110-1)配准。还将3D数据(110-2)向3D数据(110-1)配准,以使3D数据(110-1、110-2)的配准误差小于阈值。同样将3D数据(110-3、110-4、…、110-N)分别向3D数据(110-1)配准。

    计测系统、计测装置、计测方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN111947568B

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202010406289.2

    申请日:2020-05-14

    Inventor: 付星斗 苗林

    Abstract: 提供计测系统、计测装置、计测方法以及记录介质,缩短配准计测对象物的3D数据所需的时间。根据在机器人停止期间3D传感器在特定的计测点处计测出计测对象物的3D数据(110‑1)的时刻的机器人各关节的位移以及在机器人动作期间3D传感器在特定的计测点以外的计测点处计测出计测对象物的3D数据(110‑2)的时刻的机器人各关节的位移,将3D数据(110‑2)向3D数据(110‑1)配准。还将3D数据(110‑2)向3D数据(110‑1)配准,以使3D数据(110‑1、110‑2)的配准误差小于阈值。同样将3D数据(110‑3、110‑4、…、110‑N)分别向3D数据(110‑1)配准。

    三维测定装置、三维测定方法以及三维测定存储介质

    公开(公告)号:CN111566439B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN201980007537.1

    申请日:2019-01-31

    Abstract: 本发明提供一种三维测定装置、三维测定方法以及三维测定存储介质,可缩短摄像部的曝光时间,而缩短为了对测定对象物的三维形状进行测定所需要的时间。三维测定装置包括:投影部,向测定对象物投影图案光;摄像部,以规定的曝光时间来拍摄经投影图案光的测定对象物的图像;计算部,基于图像所含的多个特征点,计算表示测定对象物的三维形状的、三维点群的位置;以及决定部,以多个特征点的个数及三维点群的个数的至少一者成为基于任一者的最大值所规定的阈值以上,且曝光时间较针对最大值的曝光时间更短的方式,来决定曝光时间。

    三维测量装置、三维测量方法以及存储介质

    公开(公告)号:CN109751973A

    公开(公告)日:2019-05-14

    申请号:CN201811178513.6

    申请日:2018-10-10

    Abstract: 本发明提供一种三维测量装置、三维测量方法以及存储介质,测量对象物的三维点群数据的再现性和图像的清晰度比现有技术高。对于测量对象物投影具有混合图案(Ph)的图案光进行三维测量。混合图案(Ph)是在结构光图案(Ps)上重叠不规则图案(Pr)而形成的图案,并以不规则图案(Pr)与结构光图案(Ps)不会相互干涉的方式配置图案。由此,能够享受在图像清晰度这一点上优异的结构光图案、和在三维点群数据的再现性这一点上优异的不规则图案两者的优点。

    三维测定装置和三维测定方法

    公开(公告)号:CN109690241A

    公开(公告)日:2019-04-26

    申请号:CN201780054883.6

    申请日:2017-09-22

    Abstract: 三维测定装置的特征在于,具有:投影单元,其将具有二维编码图案的图案光投影到所述测定对象物上,所述二维编码图案是二维地配置分别具有不同的二维构造且能够相互区分的多个种类的字而成的;摄像单元,其拍摄被投影所述图案光的所述测定对象物;以及计算单元,其根据由所述摄像单元拍摄到的图像计算该图像的对象像素的三维位置,所述二维编码图案二次对称。优选二维编码图案是按照每列在列方向上重复规定的字而得到的图案,从一端起第k列的字与使从另一端起第k列的字旋转180°而得到的字相同。此外,优选投影单元通过衍射光学元件生成图案光。

    测量参数的优化方法和装置以及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN113386122B

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202110187293.9

    申请日:2021-02-18

    Inventor: 苗林 付星斗

    Abstract: 提供测量参数的优化方法和装置以及计算机可读存储介质,与以往相比,能够显著简化地调整和优化通过机器人搭载的测量装置测量对象物时的测量参数。测量参数的优化方法包含如下步骤:第1步骤,以第1测量参数取得多个对象物的多个张数N的拍摄图像;第2步骤,估计在假定以第2测量参数取得了多个对象物的多个张数N/j的拍摄图像的情况下的对象物的识别数Zi,并存储为第1数据;第3步骤,根据第1数据估计在假定以第3测量参数取得了多个对象物的多个张数N/j/k的拍摄图像的情况下的对象物的识别数Zi,并存储为第2数据;以及第4步骤,从第2数据中决定满足规定的判定基准的优化测量参数。

    测量参数的优化方法和装置以及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN113386122A

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN202110187293.9

    申请日:2021-02-18

    Inventor: 苗林 付星斗

    Abstract: 提供测量参数的优化方法和装置以及计算机可读存储介质,与以往相比,能够显著简化地调整和优化通过机器人搭载的测量装置测量对象物时的测量参数。测量参数的优化方法包含如下步骤:第1步骤,以第1测量参数取得多个对象物的多个张数N的拍摄图像;第2步骤,估计在假定以第2测量参数取得了多个对象物的多个张数N/j的拍摄图像的情况下的对象物的识别数Zi,并存储为第1数据;第3步骤,根据第1数据估计在假定以第3测量参数取得了多个对象物的多个张数N/j/k的拍摄图像的情况下的对象物的识别数Zi,并存储为第2数据;以及第4步骤,从第2数据中决定满足规定的判定基准的优化测量参数。

    三维测定装置、三维测定方法以及三维测定程序

    公开(公告)号:CN111566439A

    公开(公告)日:2020-08-21

    申请号:CN201980007537.1

    申请日:2019-01-31

    Abstract: 本发明提供一种三维测定装置等,可缩短摄像部的曝光时间,而缩短为了对测定对象物的三维形状进行测定所需要的时间。三维测定装置包括:投影部,向测定对象物投影图案光;摄像部,以规定的曝光时间来拍摄经投影图案光的测定对象物的图像;计算部,基于图像所含的多个特征点,计算表示测定对象物的三维形状的、三维点群的位置;以及决定部,以多个特征点的个数及三维点群的个数的至少一者成为基于任一者的最大值所规定的阈值以上,且曝光时间较针对最大值的曝光时间更短的方式,来决定曝光时间。

    机器人系统的控制装置、机器人系统的控制方法、计算机控制程序及机器人系统

    公开(公告)号:CN114901441B

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202080089435.1

    申请日:2020-12-21

    Abstract: 为抑制从例如容器取出工件等对象物的处理中断,提供一种具备机器人和设置于其机械手臂的测量装置的机器人系统的控制装置。控制装置生成测量对象物时的测量装置的位置姿势,确定测量装置的测量路径以使测量装置经由该位置姿势进行移动且测量对象物,指示所述机器人进行使测量装置沿着包含测量路径的移动路径进行移动的处理且指示测量装置进行测量装置在该位置姿势下测量对象物的处理,使用得到的测量数据识别对象物,并确定下次动作周期中的测量装置的测量路径。

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