测量处理装置及方法、基板处理系统、测量用工具

    公开(公告)号:CN105632976A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201510846534.0

    申请日:2015-11-26

    Abstract: 提供一种测量处理装置及方法、基板处理系统、测量用工具。能够不导致系统的大型化地在短时间内确认基板的膜去除的状态和包围构件的保持状态。利用设置于包围构件(302)的上方的第一摄像机~第三摄像机(601~603)来拍摄被去除了周缘部的处理膜的晶圆(W)和包围构件(302),在测量处理装置(800)中,通过对由这些摄像机得到的摄像图像进行处理来测量晶圆(W)的周缘部中不存在上述处理膜的切割宽度以及晶圆(W)的周缘端与包围构件(302)之间的间隙宽度。

    基板处理装置
    13.
    实用新型

    公开(公告)号:CN209804606U

    公开(公告)日:2019-12-17

    申请号:CN201920580555.6

    申请日:2019-04-25

    Abstract: 本实用新型提供一种基板处理装置,其能够减少对杯体进行抽吸的排气装置的负担,并有效地防止供给到基板的处理液从基板飞散后再次附着于基板的情况。该基板处理装置中,环状的覆盖部件(5)覆盖基板保持部(3)所保持的基板(W)的上表面的边缘部,比该边缘部靠径向内侧的基板(W)中央部未被覆盖部件(5)覆盖而显露。覆盖部件(5)的下表面(52)与基板(W)的上表面的边缘部之间形成有间隙(G),在对杯体(2)的内部空间进行排气时,在杯体(2)的内部空间的上方所存在的气体,从覆盖部件(5)的内周面(51)所包围的空间,穿过该间隙(G)被导入至杯体(2)的内部空间。

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