表面处理剂和表面处理体的制造方法

    公开(公告)号:CN114008538A

    公开(公告)日:2022-02-01

    申请号:CN202080042729.9

    申请日:2020-06-04

    Abstract: 本公开提供:在配液时能够在短时间内溶解原料、能表现出优异的赋予拒水性的效果的表面处理剂、及使用了该表面处理剂的表面处理体的制造方法。本公开的表面处理剂包含:(I)下述通式[1]和[2]所示的硅化合物中的至少1种;(II)下述通式[3]所示的含氮杂环化合物、下述通式[4]所示的含氮杂环化合物、及咪唑中的至少1种;(III)有机溶剂;及(IV)下述通式[5]和[6]所示的硅化合物中的至少1种。(R1)a(H)bSi[N(R2)C(=O)R3]4‑a‑b[1],(R4)c(H)dSi[OC(R5)=NSi(R6)e(H)3‑e]4‑c‑d[2],(R13)f(H)gSi[OC(=O)R14]4‑f‑g[5],(R15)h(H)iSiX4‑h‑I[6]

    拒水性保护膜形成用化学溶液、其制备方法和表面处理体的制造方法

    公开(公告)号:CN111742391A

    公开(公告)日:2020-10-02

    申请号:CN201980012863.1

    申请日:2019-02-05

    Abstract: 本发明提供一种包含具有各种碱度的新催化成分的新型拒水性保护膜形成用化学溶液及其制备方法、以及使用该化学溶液的表面处理体的制造方法。本发明的拒水性保护膜形成用化学溶液是用于在晶片的表面形成拒水性保护膜的拒水性保护膜形成用化学溶液,所述晶片的该表面包含硅元素,所述拒水性保护膜形成用化学溶液包含:(I)甲硅烷基化剂、(II)下述通式[1]和[2]所示的化合物之中的至少1种含氮化合物、以及(III)有机溶剂。[式[1]、[2]中,R1分别相互独立地选自氢原子、‑C≡N基、‑NO2基、以及一部分或全部氢元素任选被氟元素取代的烃基,前述烃基任选具有氧原子和/或氮原子,在包含氮原子的情况下,呈现非环状结构。R2选自氢原子、‑C≡N基、‑NO2基、烷基甲硅烷基、以及一部分或全部氢元素任选被氟元素取代的烃基,前述烃基任选具有氧原子和/或氮原子,在包含氮原子的情况下,呈现非环状结构。]

    晶圆的清洗方法及该清洗方法中使用的化学溶液

    公开(公告)号:CN107078041A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201580050387.4

    申请日:2015-09-11

    Abstract: 本发明提供在使用含有氯乙烯树脂作为液体接触构件的晶圆的清洗装置的晶圆的清洗中,在晶圆的凹凸图案表面形成拒水性保护膜而不使上述氯乙烯树脂劣化的拒水性保护膜形成用化学溶液、及使用该化学溶液的晶圆的清洗方法。一种晶圆的清洗方法,其是利用含有氯乙烯树脂作为液体接触构件的晶圆的清洗装置对表面具有微细的凹凸图案且该凹凸图案的至少一部分含有硅元素的晶圆进行清洗的方法,其中,将拒水性保护膜形成用化学溶液保持在前述凹凸图案的至少凹部,从而在该凹部表面形成拒水性保护膜,所述拒水性保护膜形成用化学溶液包含下述通式[1]所示的单烷氧基硅烷、下述通式[2]所示的磺酸、及稀释溶剂,该稀释溶剂相对于稀释溶剂的总量100质量%包含80~100质量%的醇。(R1)aSi(H)3‑a(OR2) [1][式[1]中,R1各自独立地为选自一部分或全部的氢元素任选被氟元素取代的碳数1~18的一价烃基中的至少1种基团,R2为一部分或全部的氢元素任选被氟元素取代的碳数1~18的一价烃基,a为1~3的整数。]R3‑S(=O)2OH [2][式[2]中,R3为选自由一部分或全部的氢元素任选被氟元素取代的碳数1~8的一价烃基、及羟基组成的组中的基团。]。

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