传感器组件和用于确定第一部分相对于第二部分的空间位置的方法

    公开(公告)号:CN103229024B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201180049003.9

    申请日:2011-08-04

    CPC classification number: G01B7/14 G01B7/012 G01D5/145 G01R33/0082

    Abstract: 本发明涉及确定第一部分(114)相对第二部分(112)的空间位置的传感器组件,其包括布置在第一部分(114)上的至少一磁体(74)。磁体(74)产生延伸至第二部分(112)的磁场。传感器组件还包括第二部分(114)上布置为彼此相隔空间距离(84)的第一和第二磁场传感器(80、82)。至少一个磁体(74)位于磁场传感器(80、82)之间的空间距离中。每个磁场传感器(80、82)产生依赖磁场的输出信号。两磁场传感器(80、82)的输出信号组合以形成依赖第一部分(114)沿限定的测量轴(96)相对第二部分(112)的空间位置的共同传感器信号。限定的测量轴(96)相对空间距离横向延伸且第一和第二磁场传感器(80、82)的输出信号本质上表示各磁场传感器(80、82)处的磁场方向。

    确定测量对象上的空间坐标的坐标测量机

    公开(公告)号:CN104704318A

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201380051250.1

    申请日:2013-08-07

    CPC classification number: G01B11/007 G02B15/167 G02B15/173

    Abstract: 本发明涉及一种坐标测量装置,其具有容纳测量对象的工件保持器(12)和可相对于工件保持器(12)移动的测量头(16)。测量头(16)支承光学传感器(18)。评估和控制单元(22)设计成根据测量头(16)相对于工件保持器的位置以及根据光学传感器(18)的传感器数据来确定测量对象的空间坐标。光学传感器(18)包含物镜(24)和相机(34)。物镜(24)具有孔径(52)和至少四个分离的透镜组(40,42,44,46),其中三个透镜组可沿物镜(24)的光轴(50)单独地移位。而且,孔径(52)也可沿光轴单独地移位。第一透镜组(40)以静止方式布置在物镜(24)的入光开口(28)的区域中。除了别的之外,具有所述物镜(24)的坐标测量装置使得可在广泛应用范围内改变放大率、聚焦和分辨率。

    具有位置变化传感器的坐标测量机器

    公开(公告)号:CN102686974B

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201080055093.8

    申请日:2010-10-06

    Inventor: T.恩格尔

    CPC classification number: G01B21/045 G01B21/047

    Abstract: 本发明在第一方面涉及一种坐标测量装置(12),所述测量装置具有一个用于测量物体(40)的传感器(36),及一个用于保持和定位传感器(36,37)的壳体结构(28,42,44,46,48),其中,一个位置变化传感器(54,56,58,60,72,74)被设置用于探测传感器(36,37)和壳体结构(28,42,44,46,48)的位置变化。根据第二方面,本发明涉及一种识别坐标测量装置(12)的碰撞的方法(80)。根据第三方面,本发明涉及一种校正位置测量装置(12)的非接触测量传感器(特别是光学传感器(37))的数据的方法(96)。根据第二和第三方面的方法能够在根据第一方面的坐标测量装置上实施。

    用于测量测量对象的测量装置、设备及方法

    公开(公告)号:CN104520669A

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201280075165.4

    申请日:2012-12-04

    CPC classification number: G01B11/007 G01B11/2509 G01B11/2513

    Abstract: 本发明涉及一种应用测量测量对象(12)的测量单元(10),包含:照明单元(14),用于以照明图案(46)照明所述测量对象(12);图案产生装置(16),具有至少一个图案产生元件(36,38;42),用于造成所述照明图案(46)的依赖于位置的强度分布;以及光学传感器布置(18),用于采集由所述测量对象(12)反射和/或散射的照明图案(46)。另外,所述测量单元(10)还具有至少在测量对象侧为远心的光学系统(44),所述光学系统布置在从所述照明装置(14)到所述测量对象(12)的光束路径(24)中,其中,所述光学传感器布置(18)布置为使得其通过所述远心光学系统(44)的至少一部分采集所述照明图案(46),以及其中具有所述至少一个图案产生元件(36,38;42)的所述图案产生单元(16)设计为使得所述照明图案(46)在所述测量对象侧具有依赖于位置和/或依赖于光谱的后焦距分布(52,54,56)。另外,本发明涉及一种包含这种测量单元的装置以及用于测量测量对象的方法。

    传感器组件和用于确定第一部分相对于第二部分的空间位置的方法

    公开(公告)号:CN103229024A

    公开(公告)日:2013-07-31

    申请号:CN201180049003.9

    申请日:2011-08-04

    CPC classification number: G01B7/14 G01B7/012 G01D5/145 G01R33/0082

    Abstract: 本发明涉及确定第一部分(114)相对第二部分(112)的空间位置的传感器组件,其包括布置在第一部分(114)上的至少一磁体(74)。磁体(74)产生延伸至第二部分(112)的磁场。传感器组件还包括第二部分(114)上布置为彼此相隔空间距离(84)的第一和第二磁场传感器(80、82)。至少一个磁体(74)位于磁场传感器(80、82)之间的空间距离中。每个磁场传感器(80、82)产生依赖磁场的输出信号。两磁场传感器(80、82)的输出信号组合以形成依赖第一部分(114)沿限定的测量轴(96)相对第二部分(112)的空间位置的共同传感器信号。限定的测量轴(96)相对空间距离横向延伸且第一和第二磁场传感器(80、82)的输出信号本质上表示各磁场传感器(80、82)处的磁场方向。

    具有位置变化传感器的坐标测量机器

    公开(公告)号:CN102686974A

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN201080055093.8

    申请日:2010-10-06

    Inventor: T.恩格尔

    CPC classification number: G01B21/045 G01B21/047

    Abstract: 本发明在第一方面涉及一种坐标测量装置(12),所述测量装置具有一个用于测量物体(40)的传感器(36),及一个用于保持和定位传感器(36,37)的壳体结构(28,42,44,46,48),其中,一个位置变化传感器(54,56,58,60,72,74)被设置用于探测传感器(36,37)和壳体结构(28,42,44,46,48)的位置变化。根据第二方面,本发明涉及一种识别坐标测量装置(12)的碰撞的方法(80)。根据第三方面,本发明涉及一种校正位置测量装置(12)的非接触测量传感器(特别是光学传感器(37))的数据的方法(96)。根据第二和第三方面的方法能够在根据第一方面的坐标测量装置上实施。

Patent Agency Ranking