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公开(公告)号：CN115540730A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211235438.9
申请日：2022-10-10
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
Abstract: 本发明公开了一种高陡度或深凹复杂曲面的坐标测量系统及方法，系统在机床的B轴上设有电感式测头，电感式测头通过信号放大单元连接数据采集单元，数据采集单元还连接机床和控制单元，可以对机床的X轴及Z轴的位移信号与电感式测头示数信号进行同步，控制单元在电感式测头示数为零时采集对应的X轴及Z轴的位移信号。方法包括：将电感式测头与第一主轴的C轴旋转中心线对准；从当前采样点开始以第一速度沿Z轴方向移动电感式测头至下一采样点附近，然后以第二速度沿X轴方向移动电感式测头靠近下一采样点直到电感式测头示数为零，采集此时X轴及Z轴的位移信号。本发明将电感式测头与超精密机床组合，有效提升了复杂曲面坐标测量准确性。
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公开(公告)号：CN112469957B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN201980027915.2
申请日：2019-04-23
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor： 史蒂芬·爱德华·卢默斯 , M·J·A·赫姆斯
Abstract: 描述了一种表面光洁度触针(50)，该表面光洁度触针包括长形触针轴(52；100)、以及从该长形轴突出的用于接触待测量的表面的接触元件(56；102)。该接触元件(56；102)是可变形的，并且该触针轴包括用于固持该接触元件(56；102)的夹具，该接触元件(56；102)通过夹具而变形。该接触元件(56；102)可以包括金属，例如铬钢或镍钛诺。该接触元件(56；102)包括一个或多个弱化区域(82)，以在被夹具固持时引起所需要的变形。该表面光洁度触针(50)可以与表面光洁度测量测头(20)等一起使用。
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公开(公告)号：CN108139194B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201680058548.9
申请日：2016-08-11
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种传感器装置7，所述传感器装置具有：基础本体8；配对本体，其中所述配对本体以能够相对于所述基础本体8运动的方式来布置；多个用于输出传感器信号的传感器机构10，其中所述传感器机构10分别包括至少一个传感器13和至少一个目标区域14，其中所述传感器13布置在所述本体之一上并且所述目标区域14布置在另一个本体上，并且所述传感器13相应地构造用于探测所述目标区域14；测评机构11，其中所述测评机构11构造用于从传感器信号中确定所述配对本体与所述基础本体8之间的相对位置，其中所述测评机构11构造用于：在三个平移的自由度X、Y、Z中并且在三个旋转的自由度R1、R2、R3中确定所述相对位置。
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公开(公告)号：CN105408724B
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201480042192.0
申请日：2014-07-30
Applicant: 马波斯S.P.A.公司
CPC classification number: G01B7/012 , G01B5/012 , G01B21/047
Abstract: 一种探针(100)，包括框体(2)、可移动的臂组(3)和用于处理信号的处理电路(30；30')。处理电路能够独立地检测由臂组的机械组件和框体的机械组件之间的配合所限定的触点(13)的状态，即触点的闭合或断开，并且在其检测到不超过一个触点为断开时，提供指示探针的停留位置的信号。一种用于处理信号的方法，其使用上述电路以提供指示探针的停留位置的信号。电路和用于处理信号的方法被有利地实施，以用于处理接触式探针的输出信号，该接触式探针适于在坐标量测机和机械工具中检查工件的位置或尺寸。
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公开(公告)号：CN102859316B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201180020880.3
申请日：2011-04-28
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor： 戴维·罗伯茨·麦克默特里 , 史蒂文·保罗·亨特 , 雨果·乔治·戴瑞克
Abstract: 本发明涉及一种计量仪器，包括：本体（110，112）以及能围绕第一旋转轴线A3、A4相对于本体旋转的第一构件（118，116），所述第一轴线由第一轴承（120，128；122，129；124，130；126，132）限定；以及用于致动所述第一构件围绕第一旋转轴线相对于所述本体旋转的第一马达M3、M4。表面感测装置（102）能附接至所述第一构件，使得表面感测装置能相对于所述本体与第一构件一起运动。所述第一马达可以包括第一磁体（152，158）和至少一个金属线圈（154），所述第一磁体（152，158）和至少一个金属线圈（154）沿着第一轴线间隔开并且安装成使得所述第一磁体和至少一个金属线圈能相对于彼此移动。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103328919B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280005727.8
申请日：2012-01-19
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor： 大卫·科林伍德 , 约翰·罗伯特·布拉格
IPC: G01B5/012 , G01B7/00 , G01B7/012 , G05B19/404
CPC classification number: G01B5/012 , G01B7/00 , G01B7/012 , G05B19/182
Abstract: 一种用于机床设备的模拟探头，该模拟探头包括：探头本体；可移动地固定至所述探头本体的触针构件；和用于测量所述触针构件相对于所述探头本体的位移大小的传感器，其中所述传感器容纳在所述探头本体中的腔室内。该模拟探头进一步包括位于所述探头本体的外部和所述腔室之间的通气孔，该通气孔被构造成使得当该通气孔打开时所述腔室内的压力能够与所述模拟探头的操作环境压力平衡，并且被进一步构造成使得该通气孔的通向所述探头本体的外部的开口能够被关闭从而在所述模拟探头的操作过程中将所述腔室并因此将所述传感器从外部污染物密封。
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公开(公告)号：CN101310162B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN200680042639.X
申请日：2006-11-15
Applicant: 六边形度量衡股份公司
Inventor： B·彼得松
CPC classification number: G01B5/012 , G01B21/042
Abstract: 一种测量头的调节装置，特别是一种用于简化测量探针(3)的校准的调节装置，该测量探针由坐标测量仪中的测量头支承，其中调节装置包括用于确定探针珠子(7)的被测位置的装置，并且其中设有旋转或移动或旋转且移动探针珠子的装置以确定探针珠子的新被测位置，由此能够确定探针珠子(7)的偏移。
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公开(公告)号：CN103562672A
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201280005851.4
申请日：2012-01-19
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor： 戴维·罗伯茨·麦克默特里 , 大卫·科林伍德
IPC: G01B5/012 , G01B7/00 , G01B7/012 , G05B19/404
CPC classification number: G01B5/012 , G01B7/00 , G01B7/012 , G05B19/182
Abstract: 一种用于机床设备的模拟探头，该模拟探头包括：探头本体；以及借助悬架机构在悬浮休止位置可移动地固定至所述探头本体的触针构件。设置用于测量所述触针构件相对于所述探头本体从休止位置的位移大小的传感器。该模拟探头进一步包括在探头本体与触针构件之间延伸的第一柔顺密封构件，使得所述传感器包含在腔室中，所述腔室被密封以免于受到外部污染物的污染。所述模拟探头还具有抑制器，用于抑制由于腔室的内部压力的变化和/或模拟探头的操作环境的变化所引起的触针构件远离其悬浮休止位置的运动。
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公开(公告)号：CN103328919A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201280005727.8
申请日：2012-01-19
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor： 大卫·科林伍德 , 约翰·罗伯特·布拉格
IPC: G01B5/012 , G01B7/00 , G01B7/012 , G05B19/404
CPC classification number: G01B5/012 , G01B7/00 , G01B7/012 , G05B19/182
Abstract: 一种用于机床设备的模拟探头，该模拟探头包括：探头本体；可移动地固定至所述探头本体的触针构件；和用于测量所述触针构件相对于所述探头本体的位移大小的传感器，其中所述传感器容纳在所述探头本体中的腔室内。该模拟探头进一步包括位于所述探头本体的外部和所述腔室之间的通气孔，该通气孔被构造成使得当该通气孔打开时所述腔室内的压力能够与所述模拟探头的操作环境压力平衡，并且被进一步构造成使得该通气孔的通向所述探头本体的外部的开口能够被关闭从而在所述模拟探头的操作过程中将所述腔室并因此将所述传感器从外部污染物密封。
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公开(公告)号：CN101198836B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200680021141.5
申请日：2006-06-15
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor： 乔纳森·保罗·菲格 , 迈克尔·约翰·伍尔德里奇 , 杰米·约翰·白金汉 , 彼得·肯尼思·赫利尔
IPC: G01B7/012
CPC classification number: G01B7/012
Abstract: 一种尺寸测量探针(10)安装在机床(48)上，所述机床使所述探针相对于至少一个轴线A重新定向。当所述探针的触针(20)接触工件(50)时，应变仪(34)感应到，以产生触发信号。当所述探针重新定向时，可能产生错误的触发信号。为了克服这种问题，通过监测由所述触针振动导致的应变仪输出波动的变化来检测所述重新定向。
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