-
公开(公告)号：CN1297963C
公开(公告)日：2007-01-31
申请号：CN03104354.2
申请日：2003-02-08
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0901 , G11B7/094 , G11B7/0945 , G11B7/0953
Abstract: 本发明公开了一种跟踪控制装置，具有信号处理部(140)、透镜位置特性测定部(162)和最佳透镜位置求出部(164)。信号处理部(140)获得光盘(110)的第1地址和第2地址。透镜位置特性测定部(162)依次生成通过调节器(23)使聚束装置(22)的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在聚束透镜(22)移动的各个位置上，对共同获得的第1地址和第2地址的次数进行计数。最佳透镜位置求出部(164)求出获得地址的次数的最大值，根据获得次数为最大值时的偏置设定值，通过调节器(23)使聚束透镜(22)移动。即使是不使用相位差跟踪错误信号、没有相位差调整电路的装置，或具有单纯分割的光检测器的光拾取器，也能使透镜移动为零。
-
公开(公告)号：CN1251205C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03149106.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
-
公开(公告)号：CN1568517A
公开(公告)日：2005-01-19
申请号：CN03801279.0
申请日：2003-01-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B20/1403 , G11B7/005 , G11B2007/0006
Abstract: 一种光盘控制器，用于在光学上对第1信息记录介质以及记录密度比上述第1信息记录介质高的第2信息记录介质进行再生的光盘装置中，让从上述第1信息记录介质得到的RF再生信号的上述第1转送速度中的最大再生频率、和从上述第2信息记录介质得到的RF再生信号的上述第2转送速度中的最大再生频率基本一致。
-
公开(公告)号：CN1495732A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03149127.8
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
-
公开(公告)号：CN1495728A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03143044.9
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1437189A
公开(公告)日：2003-08-20
申请号：CN03104354.2
申请日：2003-02-08
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0901 , G11B7/094 , G11B7/0945 , G11B7/0953
Abstract: 本发明公开了一种跟踪控制装置，具有信号处理部(140)、透镜位置特性测定部(162)和最佳透镜位置求出部(164)。信号处理部(140)获得光盘(110)的第1地址和第2地址。透镜位置特性测定部(162)依次生成通过调节器(23)使聚束装置(22)的位置以给定的距离间隔移动的偏置设定值，在聚束透镜(22)移动的各个位置上，对共同获得的第1地址和第2地址的次数进行计数。最佳透镜位置求出部(164)求出获得地址的次数的最大值，根据获得次数为最大值时的偏置设定值，通过调节器(23)使聚束透镜(22)移动。即使是不使用相位差跟踪错误信号、没有相位差调整电路的装置，或具有单纯分割的光检测器的光拾取器，也能使透镜移动为零。
-
公开(公告)号：CN100418076C
公开(公告)日：2008-09-10
申请号：CN02145715.8
申请日：2002-10-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F13/14
Abstract: 一种数据传送装置、数据传送系统以及数据传送方法，传送开始结束检测部对DMARQ信号变成H、L电平的时刻进行检测，传送时间测量部对在预先设定的规定数的数据块被传送期间所进行的实际上数据传送的传送时间进行测量，传送字节数测量部对能够正常传送的数据的传送字节数进行测量，有效传送速度计算部、通过用传送时间除以所述传送字节数计算有效数据传送速度。传送速度比较部将所述有效数据传送速度与从可选择传送速度存储部输出的、比当前时刻的传送速度慢1级的传送速度进行比较，当前者慢时，传送速度切换部切换到所述慢1级的传送速度。由此，可防止由于数据错乱而导至的数据传送速度的大幅度降低。
-
公开(公告)号：CN100411048C
公开(公告)日：2008-08-13
申请号：CN03801279.0
申请日：2003-01-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 一种光盘控制器，用于在光学上对第1信息记录介质以及记录密度比上述第1信息记录介质高的第2信息记录介质进行再生的光盘装置中，让从上述第1信息记录介质得到的RF再生信号的上述第1转送速度中的最大再生频率、和从上述第2信息记录介质得到的RF再生信号的上述第2转送速度中的最大再生频率基本一致。
-
公开(公告)号：CN100354950C
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：CN200510074017.2
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
-
公开(公告)号：CN1324580C
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN03143046.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
22
records
(took 0.035 seconds)
