公开(公告)号：CN102017423A

公开(公告)日：2011-04-13

申请号：CN200980115148.7

申请日：2009-04-24

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 高山雅夫 ,  松川和生 ,  三谷阳介 ,  道正志郎

IPC: H03M1/36

CPC classification number: H03M1/002 ,  H03M1/208 ,  H03M1/361

Abstract: 本发明提供一种闪速AD变换器、闪速AD变换模块及德耳塔-西格马AD变换器。在本发明的闪速AD变换器中，预测器(102)基于来自AD变换器(101)的数字输出信号(111)，预测下一模拟输入数据，并输出预测数据(112)。控制器(104)基于来自所述预测器(102)的预测数据(112)，使得具有此预测数据附近的参考电压的多个比较器进行接通动作，并且，即使在其预测未料中时，例如通过使偶数序号的比较器(103.2a(a：0～7))进行接通动作，也能够确保一定程度的AD变换精度。这样，在4比特AD变换器中，即使当下一模拟输入数据的预测未料中时，也能够一边减少进行动作的比较器的个数，实现低功耗化，一边进行3比特精度的AD变换。

公开(公告)号：CN102067457B

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：CN200980113833.6

申请日：2009-03-16

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 道正志郎 ,  森江隆史 ,  松川和生 ,  三谷阳介 ,  高山雅夫

IPC: H03M3/02 ,  H03H7/06 ,  H03H11/04

CPC classification number: H03M3/454 ,  H03M3/404 ,  H03M3/43

Abstract: 本发明提供一种积分器(10)。该积分器(10)具有：运算放大器(11)；第1滤波器(12)，其与运算放大器的反相输入端连接；和第2滤波器(13)，其被连接在运算放大器的反相输入端和输出端之间。第1滤波器(12)具有串联连接的n个电阻元件(121)、以及一端与电阻元件的各连接点连接而另一端接地的n-1个电容元件(122)。第2滤波器(13)具有串联连接的n个电容元件(131)、以及一端与电容元件的各连接点连接而另一端接地的n-1个电阻元件(132)。

公开(公告)号：CN101779375A

公开(公告)日：2010-07-14

申请号：CN200880103170.5

申请日：2008-08-21

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森江隆史 ,  松川和生 ,  崎山史朗 ,  道正志郎 ,  德永祐介

IPC: H03M1/44 ,  H03M1/10

CPC classification number: H03M1/0678 ,  H03M1/0695 ,  H03M1/44

Abstract: 本发明提供一种流水线型AD转换器。该流水线型AD转换器(1)具有多个转换级(11、11、…)。在各转换级中，模拟/数字转换电路(101)将来自前一级的输入电压(Vin)转换为数字码(Dout)。数字/模拟转换电路(102)将由模拟/数字转换电路得到的数字码转换为中间电压(Vda)。电荷计算电路(103)具有：电容部(C1、C2)，对输入电压进行采样；放大部(104)，对由电容部采样的输入电压与由所述数字/模拟转换电路所得到的中间电压的混合电压进行放大。放大部(104)包括彼此具有相同的结构并且彼此并联连接的多个运算放大器(amp1、amp1、…)。

公开(公告)号：CN103609024A

公开(公告)日：2014-02-26

申请号：CN201180071572.3

申请日：2011-11-29

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 三谷阳介 ,  松川和生 ,  小畑幸嗣 ,  道正志郎

IPC: H03M1/08 ,  H03M3/04

CPC classification number: H03M3/422 ,  H03M3/44 ,  H03M3/454 ,  H04B1/44

Abstract: Δ∑调制器包括：具备具有运算放大器(104)的积分器的滤波器电路(100)；连接在滤波器电路(100)的输出部与量化器(101)的输入部之间且包括第1电阻元件(201)的第1加法电路(120)；以及具有包括第2电阻元件(202)的第1前馈电路(121)、及将由量化器(101)量化后的数字输出信号作为模拟信号反馈给量化器(101)的输入部的第1反馈电路(103)之中的至少任一方的第2加法电路(123)。而且，第1加法电路(120)及第1反馈电路(103)之中的至少任一方具备相位补偿单元(300)。

公开(公告)号：CN101523731A

公开(公告)日：2009-09-02

申请号：CN200780038155.2

申请日：2007-10-11

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 村木志穗 ,  井口直哉 ,  永野孝一 ,  松川和生 ,  高山雅夫

IPC: H03M3/02

CPC classification number: H03M3/364 ,  H03M3/424 ,  H03M3/454

Abstract: 本发明具备：溢出检测电路(5)，比较Δ∑型调制器(13)的至少一处的积分器的输出与规定值，输出溢出检测信号；溢出频率算出电路(6)，根据上述溢出检测信号算出上述积分器的输出为正常范围外的频率即溢出频率值，并输出该溢出频率值；振荡判定电路(7)，根据上述溢出频率值判定上述Δ∑型调制器(13)是否处于振荡状态；和振荡停止电路(8)，在由上述振荡判定电路(7)判定上述Δ∑型调制器处于振荡状态的情况下，使上述Δ∑型调制器(13)的振荡收敛，其中，通过求出积分器的输出为正常范围外的频率，确定积分器的输出是否因噪声等而临时为正常范围外、或者因振荡而在正常范围外，只在振荡的情况下使上述Δ∑型调制器(13)的振荡收敛。

公开(公告)号：CN101405610A

公开(公告)日：2009-04-08

申请号：CN200780009679.9

申请日：2007-03-22

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 松川和生 ,  藤田光俊

IPC: G01R31/3167 ,  H03M1/10

CPC classification number: G01R31/31932 ,  G01R31/3167

Abstract: 提供一种半导体装置、半导体试验测试装置和半导体装置的试验测试方法，解决了在具备多个DAC的半导体集成电路的合格品判别的测试中，存在测试时间因DAC的数目的增加或高解像度化而变长这样的问题。在测试两个DAC、即DAC1和DAC2的情况下，控制部(170)通过交替地增加DAC1和DAC2的数字输入值，被输入DAC1和DAC2的模拟输出值的比较部1的输出在“0”和“1”之间重复倒相。因在判断部(180)中判断上述比较部1的输出模式是否与期待值一致，所以可进行DAC的合格品判别。