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公开(公告)号：CN111141767A
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201911061026.6
申请日：2019-11-01
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种测量用X射线CT装置和使用该装置的CT重建方法。该测量用X射线CT装置对配置于X射线源与X射线检测器之间的测定对象照射X射线来进行CT扫描，由此获取投影像，并且通过对该投影像进行CT重建来生成测定对象的三维像，该测量用X射线CT装置具备用于配置测定对象的固定台以及隔着该固定台且能够绕该固定台移动的移动型X射线源和移动型X射线检测器。
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公开(公告)号：CN1277368A
公开(公告)日：2000-12-20
申请号：CN00118327.3
申请日：2000-06-09
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01B11/005 , G01B11/306
Abstract: 提供了一种测量顺序文件生成方法和一种测量系统。即使待测对象具有复杂的形状或结构,这种方法和系统也能方便地设定测量路线或测量路径。还提供了一种存储媒体,其存储的程序可以生成测量顺序文件。测量顺序文件的生成方法是,拍摄对象,并合并拍摄得到的多个图像以生成整个对象的图像。对整个对角的生成图像指定一测量区,并根据指定的测量区生成测量路径。
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公开(公告)号：CN110286135A
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201910192542.6
申请日：2019-03-14
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046 , G01B15/04 , G01B15/00
Abstract: 在让测试目标旋转的同时对执行X射线照射的测量用X射线CT产生测量计划，且如此，获取投影图像数据，从投影图像数据重构体数据，且测量体数据中的目标测量部位，本发明基于包括在测试目标的CAD数据中的公差信息和通过测量操作者提前限定的测试目标上的测量部位而计算所需的测量准确性和测量视野范围，并从该信息自动产生使得测量次数最小化的优化测量计划。
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公开(公告)号：CN110057327A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910046411.7
申请日：2019-01-18
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供测量用X射线CT装置及其防干扰方法。测量用X射线CT装置一边使配置在旋转台上的被检体旋转一边照射X射线，对投影图像进行重构来得到被检体的断层图像，该测量用X射线CT装置具备：摄像单元，其对所述旋转台上的被检体从上方或侧方进行拍摄；一边使所述被检体旋转一边获取该被检体的图像的单元；使用获取到的被检体图像来计算被检体旋转时的最大外径的单元；以及基于该最大外径来设定所述旋转台的移动界限的单元。
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公开(公告)号：CN101871759B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201010153127.9
申请日：2010-04-20
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01B5/008
Abstract: 本发明提供一种三坐标测量机(1)，其包括三坐标测量机主体(2)和控制装置(3)。三坐标测量机主体(2)包括具有测量触头的探测器(4)和用于驱动探测器(4)的驱动机构(5)。探测器(4)包括用于驱动测量触头的驱动部(43)。控制装置(3)包括第1测量部(321)和第2测量部(322)。第1测量部(321)用于测量受驱动部(43)驱动的测量触头的移动量。第1测量部(322)用于测量探测器(4)的移动量。并且，第2测量部(322)的测量精度低于第1测量部(321)的测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102192714B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201110057679.4
申请日：2011-03-10
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B9/02068 , G01B9/02057 , G01B9/0209
Abstract: 一种光干涉测量装置，其包括：宽带光的光源；物镜部，其将宽带光的光路分成包括参照镜的参照光路和包括测量对象的测量光路，并且物镜部输出两个分支光的合成波；以及光路长度改变部，其改变参照光路的光路长度或改变测量光路的光路长度；其中，物镜部包括控制参照光和对象光之间的相位差以产生相消干涉条纹的相位差控制构件以及检测相消干涉条纹的最小辉度位置的最小辉度位置检测部。
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公开(公告)号：CN102192714A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110057679.4
申请日：2011-03-10
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B9/02068 , G01B9/02057 , G01B9/0209
Abstract: 一种光干涉测量装置，其包括：宽带光的光源；物镜部，其将宽带光的光路分成包括参照镜的参照光路和包括测量对象的测量光路，并且物镜部输出两个分支光的合成波；以及光路长度改变部，其改变参照光路的光路长度或改变测量光路的光路长度；其中，物镜部包括控制参照光和对象光之间的相位差以产生相消干涉条纹的相位差控制构件以及检测相消干涉条纹的最小辉度位置的最小辉度位置检测部。
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公开(公告)号：CN110261416B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN201910184960.0
申请日：2019-03-12
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明涉及一种测量用X射线CT设备和断层图像生成方法。在使用被配置为在使配置在旋转台上的样品转动的同时发射X射线、并且重构所述样品的投影图像以生成所述样品的断层图像的测量用X射线CT设备生成断层图像的情况下，预先获得并存储包含在所述投影图像中的几何误差量，使用所存储的几何误差量来校正所述投影图像，并且使用校正后的投影图像来重构断层图像。
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公开(公告)号：CN110261416A
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201910184960.0
申请日：2019-03-12
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明涉及一种测量用X射线CT设备和断层图像生成方法。在使用被配置为在使配置在旋转台上的样品转动的同时发射X射线、并且重构所述样品的投影图像以生成所述样品的断层图像的测量用X射线CT设备生成断层图像的情况下，预先获得并存储包含在所述投影图像中的几何误差量，使用所存储的几何误差量来校正所述投影图像，并且使用校正后的投影图像来重构断层图像。
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公开(公告)号：CN110057844A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910046385.8
申请日：2019-01-18
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明提供测量用X射线CT装置及其校正方法。测量用X射线CT装置一边使配置在旋转台上的被检体(8)旋转一边照射X射线(13)，对所得的投影图像进行重构来得到被检体的断层图像，该测量用X射线CT装置具备：X射线波动校正治具，其配置在X射线的视场内；检测单元，其使用该X射线波动校正治具的X射线投影像来检测X射线焦点位置(12D)的波动；以及校正单元，其使用检测出的波动来对被检体的X射线投影图像进行校正。
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