公开(公告)号：CN113495277A

公开(公告)日：2021-10-12

申请号：CN202110280215.3

申请日：2021-03-16

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 中村健翔 ,  仲村忠司 ,  岸和田润 ,  安部一成

IPC: G01S17/04 ,  G01S17/48

Abstract: 本发明涉及物体检测装置和移动体，其目的在于光扫描装置中的偏转面的小型化。本发明的物体检测装置(100)具备用于发光的发光装置(11)；使得用来偏转光的偏转面转动以扫描光的光扫描装置(13)；经由光扫描装置向检测区域(500)投射光的投射光学系统(12)；会聚受到检测区域中存在的物体反射的反射光和散射光之中至少一方的光的聚光光学系统(14)；以及输出经过聚光光学系统会聚的反射光和散射光之中至少一方的光的受光信号的受光装置(15)，聚光光学系统的聚光中心轴(14a)与投射光学系统的投射中心轴(12a)不平行。

公开(公告)号：CN105934648B

公开(公告)日：2018-08-10

申请号：CN201580005397.6

申请日：2015-01-28

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 青木伸 ,  菊池直树 ,  长尾景洋 ,  岸和田润

IPC: G01C3/00 ,  G01C3/06

CPC classification number: H04N13/246 ,  B60R11/04 ,  B60R2011/0026 ,  G06T7/521 ,  G06T7/70 ,  G06T7/85 ,  G06T2207/10012 ,  G06T2207/10021 ,  G06T2207/10028 ,  G06T2207/30208 ,  G06T2207/30252 ,  H04N13/239

Abstract: 一种校准方法用于校准立体相机。所述校准方法包括：测量在所述立体相机与为了落入所述立体相机的图像捕获区域内而放置的对象之间的相对位置；获取由所述立体相机捕获的并且包括所述对象的捕获的图像；以及基于所述相对位置和所述捕获的图像，确定用于校准所述立体相机的校准参数。

公开(公告)号：CN106104196A

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201580012037.9

申请日：2015-02-24

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 岸和田润 ,  青木伸 ,  菊池直树 ,  长尾景洋

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/245

Abstract: 一种校准方法，该校准方法用于透过透明体拍摄对象的拍摄设备。校准方法包括：通过不插入透明体拍摄对象来获取第一拍摄图像；通过透过透明体拍摄对象来获取第二拍摄图像；基于第一拍摄图像上对象的图像的坐标和第二拍摄图像上对象的图像的坐标，计算绝对位置偏差，该绝对位置偏差指示由于透明体而引起的对象的图像的坐标上的偏差；计算用于校准绝对位置偏差的修正参数；以及将修正参数存储于拍摄设备中。