基于红外光谱及热成像的人工智能故障定位方法及装置

    公开(公告)号:CN117538658A

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202311530095.3

    申请日:2023-11-16

    Abstract: 本发明涉及基于红外光谱及红外热成像的人工智能的故障定位方法即装置,方法包括:S1构建故障定位装置,故障定位装置包括上位机以及在传送方向上依次分布在传送带附近的上料区、红外光谱检测区、研磨区、热成像区和下料区;S2将IC载板从上料区进入,传送至红外光谱检测区进行载板通电,扫描完红外光谱后将红外光谱实时上传至上位机进行光谱异常识别;S3IC载板从红外光谱检测区传入研磨区,上位机仅对识别到的异常红外光谱的区域的载板进行研磨;S4将研磨完毕的故障IC载板传入热成像区,进行人工智能识别,完成故障定位。本发明实现了将研磨区域进一步精确化,对可疑故障的识别,以及研磨后故障区域进行精确定位。

    扫描电镜扫描成像的演示装置和系统

    公开(公告)号:CN213277140U

    公开(公告)日:2021-05-25

    申请号:CN202021680807.1

    申请日:2020-08-11

    Abstract: 本申请提供了一种扫描电镜扫描成像的演示装置和系统,涉及扫描电子显微镜领域。该演示装置包括安装件、模拟样品和透光材料制成的光路模型,安装件开设有安装格,模拟样品设置于安装格内,光路模型安装于模拟样品的上方,光路模型包括用于演示电子束聚焦的上部光路和用于演示电子束偏转的下部光路,上部光路和下部光路固定连接。该演示装置不使用任何活动部件,直接将预先制造的光路模型安装在模拟样品的表面,可以直观的了解电子束的聚焦和偏转,进而能够实现直观地了解扫描电镜扫描成像的方法和原理。该演示系统能够清晰直观的演示扫描电镜扫描成像过程中大部分的部件以及部件之间的位置关系。

    X射线衍射仪模拟装置
    14.
    实用新型

    公开(公告)号:CN212365303U

    公开(公告)日:2021-01-15

    申请号:CN202022131410.3

    申请日:2020-09-24

    Abstract: 一种X射线衍射仪模拟装置,涉及材料科学表征方法演示仪器技术领域。该X射线衍射仪模拟装置包括基座、光源、样品模拟器和光接收装置;样品模拟器的外壁上具有多个反射镜,且反射镜与样品模拟器发生衍射的晶面一一对应,样品模拟器通过转轴与基座转动连接,光源、光接收装置和转轴设于同一平面上,且样品模拟器位于光源和光接收装置的中间位置,光源和光接收装置可围绕样品模拟器以相同预设半径进行相向或者相背转动,光源发射的光束可用于照射反射镜,以使光束经反射镜反射至光接收装置,光接收装置用于显示反射光的强度信息。该X射线衍射仪模拟装置有助于师生通过抽象、深奥的理论学习X射线衍射技术的方法和粉末衍射仪的原理。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    扫描电镜探测器的成像效果演示装置

    公开(公告)号:CN213635019U

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN202022290098.2

    申请日:2020-10-14

    Abstract: 本实用新型提供一种扫描电镜探测器的成像效果演示装置,属于演示教具技术领域。扫描电镜探测器的成像效果演示装置,包括:第一箱体、第二箱体、第一光源以及第二光源,第一箱体的一侧表面开设有第一通孔,第二箱体通过第一通孔与第一箱体连通设置,第二箱体背离第一箱体的一侧表面开设有第二通孔,第二通孔与第一通孔同轴设置,第一箱体内用于设置对应于第一通孔的演示样品,第一光源设置于第一箱体内,第二光源设置于第二箱体内,第一光源和第二光源分别向演示样品出射光束,用于模拟扫描电镜内不同探测器的成像效果。该申请能够对不同位置的扫描电镜探测器的成像效果进行模拟和演示,便于比较分析不同位置的扫描电镜探测器的成像特点。

Patent Agency Ranking