基于红外光谱及热成像的人工智能故障定位方法及装置

    公开(公告)号:CN117538658A

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202311530095.3

    申请日:2023-11-16

    Abstract: 本发明涉及基于红外光谱及红外热成像的人工智能的故障定位方法即装置,方法包括:S1构建故障定位装置,故障定位装置包括上位机以及在传送方向上依次分布在传送带附近的上料区、红外光谱检测区、研磨区、热成像区和下料区;S2将IC载板从上料区进入,传送至红外光谱检测区进行载板通电,扫描完红外光谱后将红外光谱实时上传至上位机进行光谱异常识别;S3IC载板从红外光谱检测区传入研磨区,上位机仅对识别到的异常红外光谱的区域的载板进行研磨;S4将研磨完毕的故障IC载板传入热成像区,进行人工智能识别,完成故障定位。本发明实现了将研磨区域进一步精确化,对可疑故障的识别,以及研磨后故障区域进行精确定位。

    基于红外光谱及热成像的人工智能故障定位方法及装置

    公开(公告)号:CN117538658B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202311530095.3

    申请日:2023-11-16

    Abstract: 本发明涉及基于红外光谱及红外热成像的人工智能的故障定位方法即装置,方法包括:S1构建故障定位装置,故障定位装置包括上位机以及在传送方向上依次分布在传送带附近的上料区、红外光谱检测区、研磨区、热成像区和下料区;S2将IC载板从上料区进入,传送至红外光谱检测区进行载板通电,扫描完红外光谱后将红外光谱实时上传至上位机进行光谱异常识别;S3IC载板从红外光谱检测区传入研磨区,上位机仅对识别到的异常红外光谱的区域的载板进行研磨;S4将研磨完毕的故障IC载板传入热成像区,进行人工智能识别,完成故障定位。本发明实现了将研磨区域进一步精确化,对可疑故障的识别,以及研磨后故障区域进行精确定位。

    一种塑料卡扣断裂的失效分析方法

    公开(公告)号:CN113237909A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110498875.9

    申请日:2021-05-08

    Abstract: 本发明公开了一种塑料卡扣断裂的失效分析方法,该方法包括以下步骤:对塑料卡扣断裂部位的断面进行光学检查,是否有异物或是液体的化学试剂,判断是否是化学腐蚀导致断裂;对比卡扣断裂面与与未断裂件工业CT图片,卡扣是否在装配期间发生偏移,判断是否是装配不良导致断裂;拆下卡扣断裂部位,对卡扣断裂处的断面进行形貌观察,判断断面是否有疲劳纹路、应力纹路、塑性变形,从而判断断裂模式;通过X射线能谱仪分析步骤S3中断面,对比正常位置,是否含有异常元素,进一步分析元素存在的形式,确定异常元素的具体物质;判断化学成分是否一致;分析是否发生了降解;本发明能够对卡扣断裂进行有效的分析检测,分析速度快、检测准确性高。

    一种超细粉体的分散方法

    公开(公告)号:CN105675454A

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201511018958.4

    申请日:2015-12-30

    Inventor: 李军 杨振英

    CPC classification number: G01N15/0205 G01N1/38 G01N15/00

    Abstract: 本发明公开了一种超细粉体的分散方法,所述方法通过将甲基硅油与硬脂酸的混合物,加入到乙醇溶剂中,搅拌得到改性溶液;所述混合物与乙醇溶剂的重量比介于1:8至1:2之间;然后将超细粉体加入到所述改性溶液中,搅拌混合。通过化学改性使得超细粉体易于分散。可有效解决超细粉体团聚的问题,使得测试结果能够真实的反映超细粉体颗粒度的大小。

    扫描电镜扫描成像的演示装置和系统

    公开(公告)号:CN213277140U

    公开(公告)日:2021-05-25

    申请号:CN202021680807.1

    申请日:2020-08-11

    Abstract: 本申请提供了一种扫描电镜扫描成像的演示装置和系统,涉及扫描电子显微镜领域。该演示装置包括安装件、模拟样品和透光材料制成的光路模型,安装件开设有安装格,模拟样品设置于安装格内,光路模型安装于模拟样品的上方,光路模型包括用于演示电子束聚焦的上部光路和用于演示电子束偏转的下部光路,上部光路和下部光路固定连接。该演示装置不使用任何活动部件,直接将预先制造的光路模型安装在模拟样品的表面,可以直观的了解电子束的聚焦和偏转,进而能够实现直观地了解扫描电镜扫描成像的方法和原理。该演示系统能够清晰直观的演示扫描电镜扫描成像过程中大部分的部件以及部件之间的位置关系。

Patent Agency Ranking