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公开(公告)号：CN109464153A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201710805529.4
申请日：2017-09-08
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00
Abstract: 一种辐射成像系统包括辐射源，其位于所述检测目标的第一侧且用于发射多个射线；和探测器，其位于所述检测目标的第二侧且用于检测来自所述辐射源的多个射线。所述辐射成像系统还包括第一传感器，其位于所述检测目标的第一侧且用于获取所述检测目标的相关信息；和第二传感器，其位于所述探测器上且用于获取探测器位置的相关信息。所述辐射成像系统还包括控制器，其用于基于所述第一传感器获取的所述检测目标的相关信息和所述第二传感器获取的所述探测器位置的相关信息重建三维场景，且基于所述重建的三维场景去控制所述辐射源和所述探测器至少一个的操作。同时还公开了一种控制所述辐射成像系统的方法。
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公开(公告)号：CN104121872B
公开(公告)日：2018-04-13
申请号：CN201310150620.9
申请日：2013-04-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/30
CPC classification number: G01B11/303 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B11/306 , G01N21/47 , G01N21/55
Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置，该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上，还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤，用于接收该若干收集光纤收集的光线，及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。
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公开(公告)号：CN107726053A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201610666159.6
申请日：2016-08-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明公开了一种探头系统。该探头系统包括：发光单元，用来发射光；图案生成单元，用来投射至少一个参照结构光图案至物体表面以获得至少一个参照投影图案，所述图案生成单元包括振镜扫描单元，用来将发光单元发射的光反射至多个方向；及光强调制器，用来根据所述参照投影图案调制发光单元发射的光的强度，且提供调制光至所述振镜扫描单元来将调制光反射至多个方向，来投射至少一个调制结构光图案至物体表面，以获得至少一个调制投影图案。本发明还公开一种检测方法。
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公开(公告)号：CN102749332A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201110096267.1
申请日：2011-04-18
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/21 , G01N21/8803 , G01N21/954 , G02B5/3083 , G02B23/243 , G02B26/00 , G02B27/0075 , G02B27/286
Abstract: 本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测，该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件，在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件，及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测，该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。
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公开(公告)号：CN110026649B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN201810030753.5
申请日：2018-01-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明涉及增材制造的温度控制系统和方法。该温度控制系统包括：熔覆装置，用来将材料熔化并形成熔覆层，该熔覆装置包括第一能量源，设置来使能量束指向材料，以将至少部分材料熔化以形成熔覆层；微锻装置，耦接到熔覆装置来对熔覆层进行锻造；检测装置，用于检测熔覆层的锻造位置在微锻装置锻造作用下的第一内效应参数；控制模块，接收检测装置检测到的第一内效应参数，并基于第一内效应参数来计算锻造位置的第一计算温度值；调整模块，耦接至第一能量源和微锻装置中的至少一个，接收第一计算温度值，当锻造位置的第一计算温度值不在期望温度范围内时，通过调整第一能量源和微锻装置中的至少一个使第一计算温度值落在期望温度范围内。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108081605B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN201611035267.X
申请日：2016-11-22
Applicant: 通用电气公司
IPC: B29C64/20 , B29C64/268 , B22F3/105 , B33Y30/00
Abstract: 一种激光能量管理装置包括：分光装置、至少一个微弯装置和控制器。所述分光装置用于将来自激光发生器的输入激光束分成多个激光分束，且其包括用于分别传输所述多个激光分束的多个分光传输通道。所述至少一个微弯装置用于使所述多个分光传输通道产生微弯曲，以使该分光传输通道传输的相应激光分束发生衰减从而得到多个输出激光束。所述控制器用于控制所述每个分光传输通道的微弯曲程度。
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公开(公告)号：CN110026649A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201810030753.5
申请日：2018-01-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明涉及增材制造的温度控制系统和方法。该温度控制系统包括：熔覆装置，用来将材料熔化并形成熔覆层，该熔覆装置包括第一能量源，设置来使能量束指向材料，以将至少部分材料熔化以形成熔覆层；微锻装置，耦接到熔覆装置来对熔覆层进行锻造；检测装置，用于检测熔覆层的锻造位置在微锻装置锻造作用下的第一内效应参数；控制模块，接收检测装置检测到的第一内效应参数，并基于第一内效应参数来计算锻造位置的第一计算温度值；调整模块，耦接至第一能量源和微锻装置中的至少一个，接收第一计算温度值，当锻造位置的第一计算温度值不在期望温度范围内时，通过调整第一能量源和微锻装置中的至少一个使第一计算温度值落在期望温度范围内。
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公开(公告)号：CN105100682B
公开(公告)日：2018-12-25
申请号：CN201410180922.5
申请日：2014-04-30
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明涉及一种管道镜，具体为具有导航功能的管道镜，其包括设有探测头及传感器的探测管和至少一个传感器、第一图像处理器、模型存储单元、位姿计算器、第二图像处理器、导航图像计算器和显示器。传感器用于接收探测管的信号并生成对应的感应信号。第一图像处理器用于根据探测头捕获的第一图像信号计算得到第一图像。模型存储单元用于存储被检测机械装置的预设模型。位姿计算器用于根据感应信号计算得到探测头的初始位姿。第二图像处理器用于调整初始位姿至导航位姿，以满足第一图像和第二图像之间的偏差落入允许范围。导航图像计算器用于根据导航位姿和预设模型计算得到导航图像。显示器用于显示导航图像。本发明还揭示一种用于导航管道镜的探测头的方法。
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公开(公告)号：CN109986011A
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201810001883.6
申请日：2018-01-02
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 一种用于增材制造的锻造头，其特征在于，其包括基部和锻造部。所述锻造部从所述基部一端向下延伸，用于在增材制造形成熔覆层的过程中作用于所述熔覆层。所述锻造头还包括贯穿所述基部和所述锻造部的通孔，用于在形成所述熔覆层的过程中让能量束或者打印材料的至少一种通过。
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公开(公告)号：CN109702127A
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201711013952.7
申请日：2017-10-26
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明涉及增材制造系统及方法。所述系统包括材料输送器、能量源和微锻装置。所述材料输送器设置来输送材料。所述能量源设置来使能量束指向所述材料，该能量束将至少部分所述材料熔化以形成固化部分。所述微锻装置可与所述材料输送器一起移动来对所述固化部分进行锻造，其包括第一锻造锤头和第二锻造锤头，所述第一锻造锤头设置来对所述固化部分进行锤击并产生第一形变量，所述第二锻造锤头设置来对所述固化部分进行锤击并产生第二形变量，所述第二形变量大于所述第一形变量。
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