使用激光喷雾电离的质谱法

    公开(公告)号:CN102741965A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201080024695.7

    申请日:2010-06-03

    CPC classification number: H01J49/044 H01J27/24 H01J49/0468 H01J49/164

    Abstract: 本文揭示用于使用激光喷雾电离(laserspray ionization,LSI)的质谱法的系统和方法。LSI可在大气压下产生多电荷离子以用于分析并且允许分析高分子量分子,包括超过4000道尔顿(Dalton)的分子。所述分析可以是基于溶剂或无溶剂分析。在LSI之后进行无溶剂分析允许改进的空间分辨率,其有利于表面和/或组织成像。

    质谱分析方法及使用其的质谱仪

    公开(公告)号:CN101865879A

    公开(公告)日:2010-10-20

    申请号:CN200910247047.7

    申请日:2009-12-25

    CPC classification number: H01J49/145 H01J49/0468

    Abstract: 本发明涉及质谱分析方法及使用其的质谱仪。本发明保持来自发射体的稳定发射量。在本发明的实施方案中,加热固体样品或液体样品,从而使包含于所述固体样品或液体样品中的待测对象气化,由此形成中性气相分子,从具有氧化表面的发射体发射的金属离子被附着至所述中性气相分子,从而使进行质谱分析的所述中性气相分子离子化。所述固体样品或液体样品为通过加热放出还原性气体的样品。用于使待测对象气化的加热在低于所述固体样品或液体样品的气化温度但不低于所述待测对象的气化温度的温度下进行,并向所述发射体提供氧化性气体。

    具有降低平均流速的质谱仪入口

    公开(公告)号:CN108807131A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201810311325.X

    申请日:2014-07-07

    Inventor: V·贝尔库特

    CPC classification number: H01J49/0495 H01J49/0031 H01J49/0422 H01J49/0468

    Abstract: 本发明提供了一种在或接近大气压条件下转移产生的离子进入用于质量分析的质谱仪中的设置的接口。所述接口包括设置有接收含有离子的流体的入口和设置有引导含有离子的流体进入质谱仪中的出口的第一管道,所述第一管道限定了从所述入口延伸至所述出口的第一流动路径,所述接口包括泵,所述接口包括第二管道。第二管道包括入口。所述第二管道限定了从第一管道的入口与出口之间的位置延伸至所述第二管道的出口的第二流动路径。设置所述泵以转移一部分第一流动路径中移动的含有离子的流体至所述第二流动路径。

    具有降低平均流速的质谱仪入口

    公开(公告)号:CN105493227B

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:CN201480041000.4

    申请日:2014-07-07

    Inventor: V·贝尔库特

    CPC classification number: H01J49/0495 H01J49/0031 H01J49/0422 H01J49/0468

    Abstract: 本发明提供了一种在或接近大气压条件下转移产生的离子进入用于质量分析的质谱仪中的设置的接口。所述接口包括设置有接收含有离子的流体的入口和设置有引导含有离子的流体进入质谱仪中的出口的第一管道,所述第一管道限定了从所述入口延伸至所述出口的第一流动路径,所述接口包括泵,所述接口包括第二管道。第二管道包括入口。所述第二管道限定了从第一管道的入口与出口之间的位置延伸至所述第二管道的出口的第二流动路径。设置所述泵以转移一部分第一流动路径中移动的含有离子的流体至所述第二流动路径。

Patent Agency Ranking