用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法

    公开(公告)号:CN119827250A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202411989046.0

    申请日:2024-12-31

    Abstract: 本发明提供了一种用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法,涉及光学膜技术领域。本发明用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法包括:先将待测光学膜样品的微结构面覆上一层透明的PET保护膜,然后使用锋利的刀片对覆保后的光学膜进行切割,快速得到具有清晰完整的断面微结构形貌的样品。与传统金相制样方法相比,本申请通过利用透明PET保护膜对待测光学膜样品的微结构面进行制样,有效地缩短了制样时间,提升了作业和分析效率,缓解了现有金相分析中制样过程繁琐、耗时等问题,具有制样效率快、断面质量高的特点。

    一种保偏光学膜及一种解干涉保偏复合棱镜膜

    公开(公告)号:CN114114502B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202111002629.6

    申请日:2021-08-30

    Abstract: 本发明涉及一种解干涉保偏复合棱镜膜,尤其涉及一种应用于LCD线偏振背光源的保偏复合棱镜膜。为了解决传统背光中光学膜在偏振光源增效方案中会产生退偏的问题,本发明提供一种解干涉保偏复合膜及其制备方法。所述解干涉保偏复合棱镜膜包括上置保偏基体层、上置结构层、上置复合层、下置保偏基体层、下置结构层、下置背涂层。上置结构层位于上置基体层上表面,上置复合层位于上置基体层下表面。下置结构层为左右抖动棱镜层,位于下置保偏基体层上表面,下置背涂层位于下置基体层下表面。当LCD背光中的线偏振光通过该解干涉保偏复合棱镜膜时可以保留较高入射光偏振度,保偏度不低于85%,确保最终对LCD下偏光片的高度透过,进一步提高背光源的利用率。

    一种三棱镜结构及其制备方法、及一种三棱镜阵列

    公开(公告)号:CN107907927B

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN201711316266.7

    申请日:2017-12-12

    Abstract: 本发明涉及一种光学反射结构,尤其涉及一种三棱镜结构及其制备方法、及一种三棱镜阵列。为了解决传统反光三棱镜结构,在直线光源的平行光路入射到其反射面时,无法改变其平行反射光路的问题,本发明提供一种三棱镜结构及其制备方法、及一种三棱镜阵列。所述三棱镜结构的横截面为三角形,所述三角形的两个侧边为向三角形内凹的弧形,所述三棱镜的两个侧面为凹弧面,所述凹弧面为反光面。该三棱镜结构的反光面为凹弧面,可将直线光源修饰为非平行光路,使反射光路产生偏转角。

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