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公开(公告)号:CN102136498B
公开(公告)日:2016-05-11
申请号:CN201010620963.3
申请日:2010-12-21
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L29/786 , H01L29/10 , H01L27/12 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/78678 , H01L29/66765 , H01L29/78618 , H01L29/78648
Abstract: 本发明名称为“薄膜晶体管”。提供一种具有有利电特性和高生产率的薄膜晶体管。该薄膜晶体管包括覆盖栅电极的栅绝缘层、与栅绝缘层接触的半导体层、与部分半导体层接触并充当源区和漏区的杂质半导体层及与杂质半导体层接触的布线。半导体层包括具有凹凸形状且在栅绝缘层侧上形成的微晶半导体区和与微晶半导体区接触的非晶半导体区。在半导体层与布线之间提供势垒区。
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公开(公告)号:CN101409216B
公开(公告)日:2012-11-07
申请号:CN200810166535.0
申请日:2008-10-10
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L21/00 , H01L21/20 , H01L21/762 , H01L21/84
CPC classification number: H01L21/76254 , H01L21/02532 , H01L21/02686 , H01L21/268 , H01L21/302 , H01L21/3065 , H01L21/84
Abstract: 本发明提供一种半导体衬底的制造方法,该半导体衬底具备即使是在使用玻璃衬底等耐热温度低的衬底的情况下、也可以实际使用的单晶半导体层。通过激发源气体产生等离子体,从单晶半导体衬底的一个表面添加等离子体中所包含的离子种,从而形成损伤区域;在单晶半导体衬底的一个表面上形成绝缘层;以中间夹着绝缘层的方式而将支撑衬底与单晶半导体衬底紧贴,以使其面对单晶半导体衬底;通过加热单晶半导体衬底,在损伤区域中进行分离,将它分离成贴合有单晶半导体层的支撑衬底和单晶半导体衬底;对贴合在支撑衬底上的单晶半导体层的表面进行干法刻蚀;通过对单晶半导体层照射激光束,使单晶半导体层的至少一部分熔化,从而使单晶半导体层再单晶化。
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公开(公告)号:CN101479777B
公开(公告)日:2011-07-06
申请号:CN200780024166.5
申请日:2007-05-25
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G02B1/118 , C09K11/06 , C09K2211/1011 , C09K2211/1029 , C09K2211/185 , G02F1/133502 , G02F2201/38 , H01L27/3244 , H01L51/5281 , H05B33/22
Abstract: 一种显示设备,其包括抗反射膜,该抗反射膜具有在显示屏幕表面之上的多个凸起,由该多个凸起中的每个凸起的基底与斜面所成的角度为大于等于84度且小于90度。
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公开(公告)号:CN101409216A
公开(公告)日:2009-04-15
申请号:CN200810166535.0
申请日:2008-10-10
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L21/00 , H01L21/20 , H01L21/762 , H01L21/84
CPC classification number: H01L21/76254 , H01L21/02532 , H01L21/02686 , H01L21/268 , H01L21/302 , H01L21/3065 , H01L21/84
Abstract: 本发明提供一种半导体衬底的制造方法,该半导体衬底具备即使是在使用玻璃衬底等耐热温度低的衬底的情况下、也可以实际使用的单晶半导体层。通过激发源气体产生等离子体,从单晶半导体衬底的一个表面添加等离子体中所包含的离子种,从而形成损伤区域;在单晶半导体衬底的另一个表面上形成绝缘层;以中间夹着绝缘层的方式而将支撑衬底与单晶半导体衬底紧贴,以使其面对单晶半导体衬底;通过加热单晶半导体衬底,在损伤区域中进行分离,将它分离成贴合有单晶半导体层的支撑衬底和单晶半导体衬底;对贴合在支撑衬底上的单晶半导体层的表面进行干法刻蚀;通过对单晶半导体层照射激光束,使单晶半导体层的至少一部分熔化,从而使单晶半导体层再单晶化。
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