硅化合物的制备方法及硅化合物

    公开(公告)号:CN111057088A

    公开(公告)日:2020-04-24

    申请号:CN201910984985.9

    申请日:2019-10-16

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种在产业上有用的、具有脂环结构(特别是降冰片烷环)与羰基的水解性硅化合物的高效的工业制备方法。一种硅化合物的制备方法,其为基于下述通式(1)所示的氢硅烷化合物与下述通式(2)所示的含羰基脂环烯烃化合物的氢化硅烷化反应的下述通式(3)所示的硅化合物的制备方法,其特征在于,在铂类催化剂的存在下,逐渐添加酸性化合物或酸性化合物前体,并同时进行氢化硅烷化反应。[化学式1]

    平坦度控制方法及装置、涂膜的形成方法及装置

    公开(公告)号:CN113552771B

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202110443868.9

    申请日:2021-04-23

    Inventor: 荻原勤

    Abstract: 本发明提供一种平坦度控制方法及装置、涂膜的形成方法及装置。本发明的平坦度控制方法,用于晶圆的平坦度控制,其包含以下步骤:准备具有包含多个区段的固持面,且该多个区段各自具备干式粘接性纤维构造物的固持构件的步骤;使晶圆吸附于该固持构件的该固持面,而使该晶圆固持于该固持构件的步骤;测量该晶圆的平坦度,而取得该晶圆的平坦度的信息的步骤;及基于该平坦度的信息,而在该固持构件的该固持面的该多个区段的一部分中,释放该干式粘接性纤维构造物对该晶圆所进行的吸附的步骤。

    图案形成方法
    49.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110515272B

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN201910420610.X

    申请日:2019-05-20

    Inventor: 渡边司 荻原勤

    Abstract: 本发明提供一种为高分辨率且为高感光度的薄膜抗蚀剂图案的形成方法。该方法的特征在于包含:(1)由包含具有被酸不稳定基保护的羟基和/或羧基的热固化性化合物及产酸剂的第一抗蚀剂材料形成第一抗蚀剂膜的工序;(2)在第一抗蚀剂膜上由包含(A)金属化合物及增敏剂的第二抗蚀剂材料形成第二抗蚀剂膜的工序;(3)通过高能射线或电子束的照射对第一抗蚀剂膜及第二抗蚀剂膜进行图案曝光,在第一抗蚀剂膜的图案曝光部对羟基和/或羧基进行脱保护,并同时在图案曝光部上形成(A)成分与已脱保护的羟基和/或羧基进行交联反应而成的交联部分的工序;以及(4)利用显影液对第二抗蚀剂膜进行显影,得到由交联部分构成的金属膜图案的工序。

    图案形成方法
    50.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110515266B

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN201910420669.9

    申请日:2019-05-20

    Inventor: 渡边司 荻原勤

    Abstract: 本发明提供一种为高分辨率且为高感光度的薄膜抗蚀剂图案的形成方法。该图案形成方法包含:(1)由包含热固化性化合物、产酸剂及增敏剂的第一抗蚀剂材料形成第一抗蚀剂膜的工序,所述热固化性化合物具有被酸不稳定基保护的羟基和/或羧基;(2)通过高能射线或电子束的照射对第一抗蚀剂膜进行图案曝光,在图案曝光部对羟基和/或羧基进行脱保护的工序;(3)在所述第一抗蚀剂膜上由包含(A)金属化合物的第二抗蚀剂材料形成第二抗蚀剂膜,并同时在图案曝光部上形成(A)成分与已脱保护的羟基和/或羧基进行交联反应而成的交联部分的工序;以及(4)利用显影液对第二抗蚀剂膜进行显影,得到由交联部分构成的金属膜图案的工序。

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