抗蚀剂下层膜材料、图案形成方法、及抗蚀剂下层膜形成方法

    公开(公告)号:CN108693713B

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN201810275797.4

    申请日:2018-03-30

    Abstract: 本发明提供一种具有优异的耐受碱性过氧化氢水的性能、良好的嵌入/平坦化特性、及干法蚀刻特性的抗蚀剂下层膜材料、使用了该抗蚀剂下层膜材料的图案形成方法、及抗蚀剂下层膜形成方法。其为用于多层抗蚀剂法的抗蚀剂下层膜材料,其含有:(A1)下述通式(X)表示的化合物中的一种或两种以上;以及,(B)有机溶剂。[化学式1]式中,n01表示1~10的整数,n01为2时,W表示亚硫酰基、磺酰基、醚基、或碳原子数为2~50的二价有机基团,n01为2以外的整数时,W表示碳原子数为2~50的n01价有机基团。此外,Y表示单键或碳原子数为1~10的可包含氧原子的二价连接基团。

    硅化合物的制备方法及硅化合物

    公开(公告)号:CN111057088A

    公开(公告)日:2020-04-24

    申请号:CN201910984985.9

    申请日:2019-10-16

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种在产业上有用的、具有脂环结构(特别是降冰片烷环)与羰基的水解性硅化合物的高效的工业制备方法。一种硅化合物的制备方法,其为基于下述通式(1)所示的氢硅烷化合物与下述通式(2)所示的含羰基脂环烯烃化合物的氢化硅烷化反应的下述通式(3)所示的硅化合物的制备方法,其特征在于,在铂类催化剂的存在下,逐渐添加酸性化合物或酸性化合物前体,并同时进行氢化硅烷化反应。[化学式1]

    平坦度控制方法及装置、涂膜的形成方法及装置

    公开(公告)号:CN113552771B

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202110443868.9

    申请日:2021-04-23

    Inventor: 荻原勤

    Abstract: 本发明提供一种平坦度控制方法及装置、涂膜的形成方法及装置。本发明的平坦度控制方法,用于晶圆的平坦度控制,其包含以下步骤:准备具有包含多个区段的固持面,且该多个区段各自具备干式粘接性纤维构造物的固持构件的步骤;使晶圆吸附于该固持构件的该固持面,而使该晶圆固持于该固持构件的步骤;测量该晶圆的平坦度,而取得该晶圆的平坦度的信息的步骤;及基于该平坦度的信息,而在该固持构件的该固持面的该多个区段的一部分中,释放该干式粘接性纤维构造物对该晶圆所进行的吸附的步骤。

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