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公开(公告)号：CN103644849A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201310675316.6
申请日：2013-12-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 一种可测竖直位移的三维光栅位移测量系统涉及一种光栅位移测量系统；该测量系统包括单频激光光源、分光部件、偏振分光棱镜、测量臂四分之一波片、测量臂折光元件、参考臂四分之一波片、参考臂折光元件、二维反射式参考光栅、光电探测及信号处理部件和二维反射式测量光栅；所述二维反射式测量光栅和二维反射式参考光栅表面形貌相同，二维反射式测量光栅和二维反射式参考光栅的x方向周期和y方向周期均为d；所述测量臂折光元件和参考臂折光元件的x方向折光角度和y方向折光角度均为θi，且满足2dsinθi=±mλ；本发明不仅能够同时测量沿x轴、y轴、z轴三个方向的直线位移，而且相比已有技术该系统的z向位移量程得到了极大的扩展。
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公开(公告)号：CN103531901A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310499218.1
申请日：2013-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于圆环形金属网栅的透红外辐射微带天线属于双模复合探测与识别技术；该天线包括介质基片（1），粘贴于介质基片（1）上表面的微带贴片（2），粘贴于介质基片（1）下表面的接地板（3），连接微带贴片（2）的馈线（6）；所述的介质基片（1）由透红外辐射材料制作而成，所述的微带贴片（2）为圆环形金属网栅，所述的接地板（3）为圆环形金属网栅；介质基片（1）、微带贴片（2）以及接地板（3）材料的选择，使得该天线具有红外光学透过率高、透射光高级次衍射能量分布均匀的优势，进而使得天线后方的红外光学成像系统能够均匀清晰成像。
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公开(公告)号：CN103515711A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310500207.0
申请日：2013-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于随机金属网栅的透红外辐射微带天线属于双模复合探测与识别技术；该天线包括介质基片（1），粘贴于介质基片（1）上表面的微带贴片（2），粘贴于介质基片（1）下表面的接地板（3），连接微带贴片（2）的馈线（6）；所述的介质基片（1）由透红外辐射材料制作而成，所述的微带贴片（2）为随机金属网栅，所述的接地板（3）为随机金属网栅；介质基片（1）、微带贴片（2）以及接地板（3）结构及材料的选择，使得该天线具有红外光学透过率高、透射光高级次衍射能量分布均匀的优势，进而使得天线后方的红外光学成像系统能够均匀清晰成像。
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公开(公告)号：CN103515709A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310500208.5
申请日：2013-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于随机网栅及透红外半导体的透红外辐射微带天线属于双模复合探测与识别技术；该天线包括介质基片（1），粘贴于介质基片（1）上表面的微带贴片（2），粘贴于介质基片（1）下表面的接地板（3），连接微带贴片（2）的馈线（6）；所述的介质基片（1）由透红外辐射材料制作而成，所述的微带贴片（2）为随机金属网栅，所述的接地板（3）由透红外辐射半导体材料制作而成；介质基片（1）、微带贴片（2）以及接地板（3）结构及材料的选择，使得该天线不仅具有效率高的优势，而且具有红外光学透过率高、透射光高级次衍射能量分布均匀的优势，进而使得天线后方的红外光学成像系统能够均匀清晰成像。
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公开(公告)号：CN103515701A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310499203.5
申请日：2013-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H01Q1/38
Abstract: 基于圆环形金属网栅及透红外半导体的透红外微带天线属于双模复合探测与识别技术；该天线包括介质基片（1），粘贴于介质基片（1）上表面的微带贴片（2），粘贴于介质基片（1）下表面的接地板（3），连接微带贴片（2）的馈线（6）；所述的介质基片（1）由透红外辐射材料制作而成，所述的微带贴片（2）为圆环形金属网栅，所述的接地板（3）由透红外辐射半导体材料制作而成；介质基片（1）、微带贴片（2）以及接地板（3）材料的选择，使得该天线不仅具有效率高的优势，而且具有红外光学透过率高、透射光高级次衍射能量分布均匀的优势，进而使得天线后方的红外光学成像系统能够均匀清晰成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101493809A
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200910071475.9
申请日：2009-03-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F15/80
Abstract: 一种基于FPGA的多核心星载计算机，属于航天航空的数据处理技术领域。本发明的目的是解决采用ASIC软件实现方式的星载计算机处理速度慢的问题。本发明包括基于SRAM的FPGA、n个PROM、n个SRAM、反熔丝FPGA和配置NOR型闪存，基于SRAM的FPGA构建成具有n个处理器的多核结构，反熔丝FPGA包括回读刷写接口电路、监测电路和控制电路，监测电路监测n个处理器的健康状态，如异常部分重构，回读刷写接口电路按固定速度读基于SRAM的FPGA的配置文件，并与原始配置文件比较，如不同，则重构错误部分。本发明多核心星载计算机可根据卫星任务、通过FPGA硬件编程实现自动切换系统功能。
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公开(公告)号：CN107101593B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201710307950.2
申请日：2017-05-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明一种基于靶标轨迹跟踪的主轴径向回转误差测量方法属于精密仪器制造及测量技术领域；该方法依次执行以下步骤：步骤a、点亮标准器；步骤b、调整X向位移导轨，Y向位移导轨和Z向位移导轨，使得图像采集器件能够对靶标回转圆周完整成像；步骤c、控制待测主轴在额定转速下转动；步骤d、在图像采集器件的曝光时间T1、待测主轴的转动周期T2之间满足T1＝T2或T1＝kT2的关系时，图像采集器件对标准器成像，获得靶标轨迹图像；步骤e、对靶标轨迹图像进行预处理和靶标轨迹提取；步骤f、评定靶标轨迹的圆度误差；本发明不仅不需要高采样频率电容传感器，降低了测量成本，而且能够实现高转速主轴径向回转误差的高精度测量。
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公开(公告)号：CN107917758B
公开(公告)日：2019-10-29
申请号：CN201711393236.6
申请日：2017-12-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于wollaston棱镜的扫描式成像光谱仪及其成像方法，属于光谱成像技术领域。本发明专利的技术特点是：包括依次设置的镜头，起偏器，wollaston棱镜I，半波片HWP，wollaston棱镜II，检偏器，探测器。入射光经过起偏器得到线偏振光，经过棱镜组得到两束分开的光束，再经过检偏器得到两束光在同一方向的振动分量且有一定的光程差。本发明利用wollaston棱镜组得到存在光程差的两束相干光束，相干光束在探测器上叠加，不同的目标点成像在探测器的不同位置上，不存在动镜，提高了系统的稳定性和抗震性。本发明省略了前置平行光路，避免了狭缝，光路简单，采用推扫的方式得到某一目标点在不同光程差下的干涉图。
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公开(公告)号：CN106052569B
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201610656320.1
申请日：2016-08-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 一种外差式一/二维光栅位移粗/细测量系统，包括单频激光光源、电光调制器、一维反射式测量光栅、分光棱镜、五个一维透射式测量光栅、六个平面反射镜、四个偏振分光棱镜、八个偏振片及八个光电探测及信号处理部件，单频激光光源发射的是线偏振单频激光，偏振方向与x轴呈45度，经快轴方向与x轴平行的电光调制器调制后输出外差式激光，该外差式激光由偏振方向沿z轴的s波分量和偏振方向沿x轴的p波分量构成，并且s波分量和p波分量之间存在一个随电光调制器所加载的调制电压变化而变化的相位差；本发明不仅能够克服测量环境温度、湿度变化等造成的误差，而且能够有效实现一/二维方向上位移测量分辨力的粗/细转换，充分满足不同测量需求。
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公开(公告)号：CN108168461A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201810027452.7
申请日：2018-01-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明一种基于衍射光栅的主轴径向回转误差测量装置与方法属于精密仪器制造及测量技术领域；该装置包括待测主轴，光栅，装夹装置，激光器，凸透镜，折光元件，光电转换器，信号处理电路和上位机；该方法首先确定等分角半径位置，再调整激光器、凸透镜与折光元件的位置，调整光电转换器与凸透镜之间距离，将获得的干涉信号转换为电学信息，对接收到的信号进行辨向计数及矢量合成并解调出光栅的位移信息，最后评定待测主轴的径向回转误差；本发明利用衍射光栅将主轴的径向回转误差转化为衍射干涉光斑的位移，利用光电转换器获取光斑的位移信息，从而规避了高采样频率的电容传感器难以获得的困境，实现了高速主轴径向回转误差的精密测量。
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