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公开(公告)号：CN105675929A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610107841.1
申请日：2016-02-26
Applicant: 上海华力微电子有限公司
IPC: G01R1/073
CPC classification number: G01R1/073
Abstract: 一种兼容不同规格之探针的探针卡，包括：基板，基板上间隔设置用于与外界测试仪器电连接的电导体，电导体之异于基板外侧的一端设置焊点；卡环，固定设置在所述基板之内侧，且卡环上设置的金属触点与基板之焊点电连接；探针卡板，活动式设置在卡环上，且探针卡板上固定设置的探针与电导体电连接。本发明兼容不同规格之探针的探针卡在进行不同规格晶圆的电气性能测试过程中，仅需更换具有相应数量和间距的探针卡板，便可分别完成各晶圆的测试，不仅操作简单，而且减少了基板的更换，降低了生产成本。
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公开(公告)号：CN105628987A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201510836524.9
申请日：2015-11-26
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
IPC: G01R1/073
CPC classification number: G01R31/2891 , G01R1/067 , G01R1/06716 , G01R1/06733 , G01R1/06738 , G01R1/07314 , G01R1/073 , G01R1/07357
Abstract: [解决的问题]提供探针与接触检查装置，探针能够使探针与电路板之间的电连接稳定化，接触检查装置装配有该探针。[解决方案]一种探针，其具有第一端和第二端，所述第一端与测试对象接触和分离，所述第二端与电路板接触，以对所述测试对象执行检查，其中所述第二端设置有转动被限制部，所述转动被限制部限制所述探针绕着所述探针的轴线方向的转动。所述第一端与所述第二端之间设置有可伸缩部，所述可伸缩部能够沿所述探针的轴线方向自由伸缩并具有至少一个螺旋槽。所述第二端由管状构件形成。而且，所述第一端与所述第二端之间设置有至少两个所述可伸缩部，并且所述可伸缩部之间形成有中间部。
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公开(公告)号：CN105606994A
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201610134433.5
申请日：2016-03-08
Applicant: 恒银金融科技股份有限公司
Inventor： 江浩然
CPC classification number: G01R31/2801 , G01R1/073
Abstract: 本发明公开了一种金融自助设备SIU模块的测试装置，包括，机架，其上设置有用以将SIU模块夹紧的压紧机构，与所述的机架固定连接的探针固定板，设置有多个一一与所述的SIU模块被测试点对应的测试探针，当SIU模块被压紧机构定位压紧后，所述的被测试点与测试探针对应一一接触。测试模块，包括主控单元和动作执行元件，以及与所述的主控单元通讯连接的输出单元。本发明便于SIU模块生产测试和故障检查，将SIU模块的I/O接口通过爪型探头的探针可靠转接到测试模块，并模拟了传感器和开关输入信号，读取被测SIU模块唯一ID，并输出检测结果，合格产品用于整机生产，实现了模块测试与金融自助设备上机测试的无缝对接。
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公开(公告)号：CN103293771B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201310260939.7
申请日：2013-06-26
Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司
IPC: G02F1/1337 , G02F1/13
CPC classification number: G09G3/006 , G01R1/073 , G02F1/1309 , G02F1/133788 , G09G3/36
Abstract: 一种液晶配向检测方法，包括步骤：将待检测的液晶阵列基板与液晶配向检测机连接，其中，该液晶阵列基板包括若干信号输入端，该液晶配向检测机包括探针治具、电压印加装置以及阻抗检测装置，该探针治具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二探针，该若干探针端分别与液晶阵列基板的若干信号输入端连接；通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查；通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值而判断信号输入端两两之间是否发生短路。本发明还提供一种液晶配向检测机。本发明的液晶配向检测机及方法，无需停机，可完成对液晶配向检查以及基板信号输入端的短路检查。
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公开(公告)号：CN104459332A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410465286.0
申请日：2014-09-12
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
Inventor： 斯特凡·布施纳科斯基 , 亚历山大·舍夫林
IPC: G01R27/22
CPC classification number: G01R1/073 , B23K1/0016 , B23K1/20 , B23K2101/38 , B32B37/1284 , G01N27/07
Abstract: 用于接触至少两个金属电极的方法及装置。本发明涉及一种用于接触至少两个金属电极的方法，其中，金属电极位于烧结陶瓷的基体的空腔内，并且金属电极的前端面被布置与基体的外表面基本平行。该方法包括如下步骤：将焊料引入到基体的至少一个孔中，其中，孔被实现为使得其通向金属电极的远离该金属电极的前端面的后部，其中，焊料可润湿金属电极的后部，其中，金属电极在其纵向方向上短于基体，特别仅为基体长度的1/5；将导线引入到孔内至少直到导线延伸到焊料内；以及把带有焊料和导线的基体加热到高于焊料的凝固温度。本发明进一步涉及一种装置以及一种包括这种装置的电导率传感器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103858218A
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201280041706.1
申请日：2012-07-06
Applicant: 塞莱敦体系股份有限公司
CPC classification number: G01R1/07364 , G01R1/0466 , G01R1/073 , G01R31/26 , G01R31/2889
Abstract: 本发明的一种探针装置在一侧上具有带有接触结构的探针导线。该接触结构用于接触另一测试设备或组件（例如一电路板）上对应的接触结构。该探针导线具有探测期望接受测试的一器件的尖端。信号通过来自探针卡的该探针导线（例如，通过一电路板）被传输到其他诊断设备。该探针卡与该电路板的该接触允许信号通过该探针导线传送到该其他诊断设备。在该探针卡的另一侧上为一连接器结构。该连接器结构包括一固位体，该固持器可允许自一测试系统替换该探针卡，例如允许该探针卡自一固持器连接及断开连接。
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公开(公告)号：CN103293771A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310260939.7
申请日：2013-06-26
Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司
IPC: G02F1/1337 , G02F1/13
CPC classification number: G09G3/006 , G01R1/073 , G02F1/1309 , G02F1/133788 , G09G3/36
Abstract: 一种液晶配向检测方法，包括步骤：将待检测的液晶阵列基板与液晶配向检测机连接，其中，该液晶阵列基板包括若干信号输入端，该液晶配向检测机包括探针治具、电压印加装置以及阻抗检测装置，该探针治具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二探针，该若干探针端分别与液晶阵列基板的若干信号输入端连接；通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查；通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值而判断信号输入端两两之间是否发生短路。本发明还提供一种液晶配向检测机。本发明的液晶配向检测机及方法，无需停机，可完成对液晶配向检查以及基板信号输入端的短路检查。
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公开(公告)号：CN103261899A
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN201180059081.7
申请日：2011-10-07
Applicant: 萨蒂莫工业公司
IPC: G01R29/08
CPC classification number: G01R1/073 , G01R1/0408 , G01R29/0821
Abstract: 本发明涉及一种用于对象的电磁测试的设备，包括电磁探针（2）的阵列、用于支撑探针的阵列（2）的结构（3）以及用于支撑经受测试的对象的支撑件（4）。根据本发明，结构（3）通过至少一个形成法拉第笼的导电壁（31），在三维空间中围绕用于经受测试的对象的支撑件（4）完全闭合，其中所述法拉第笼利用位于探针（2）之间的空隙中的消声电磁吸收器（5）设置在导电壁（31）的内侧。
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公开(公告)号：CN100580466C
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200580012175.3
申请日：2005-04-08
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
IPC: G01R31/02
CPC classification number: G01R1/0491 , G01R1/073 , G01R31/3025
Abstract: 设置在测试匣中的基本控制器接收用于测试多个电子器件的测试数据。基本控制器将测试数据无线地发送到多个无线测试控制芯片，后者将测试数据写入每一电子器件。无线测试控制芯片然后读取由电子器件生成的响应数据，并且无线测试控制芯片将响应数据无线地发送到基本控制器。
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公开(公告)号：CN101203767A
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：CN200680022671.1
申请日：2006-06-21
Applicant: 佛姆法克特股份有限公司
IPC: G01R31/02
CPC classification number: G01R31/2886 , G01R1/073 , G01R31/31905 , Y10T29/49128 , Y10T29/4913 , Y10T29/49133 , Y10T29/49147 , Y10T29/49208 , Y10T29/49222
Abstract: 一种探针卡组件包括多个连接着安装组件的探针基片。各个探针基片包括一组探针，并且探针基片上的多个探针组一起构成探针阵列，用于连接着被测器件。调整机构构成对各个探针基片施加力，从而相对于安装组件单独移动各个基片。调整机构可以在“x”、“y”和/或“z”方向上平移各个探针基片，并且还可以围绕着上述方向中的任一或者多个方向旋转各个探针基片。调整机构还可以改变一个或者多个探针基片的形状。于是，探针可以相对于被测器件上的触点来对准和/或平整化。
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