公开(公告)号：CN109564240A

公开(公告)日：2019-04-02

申请号：CN201780048266.5

申请日：2017-08-08

Applicant: 积水化学工业株式会社

Inventor： 笹平昌男 ,  王晓舸

IPC: G01R1/06 ,  G01R1/073 ,  G01R31/02 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R1/07307 ,  G01R1/06 ,  G01R1/073 ,  G01R31/02 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种导通检测装置用部件和具备该导通检测装置用部件的导通检测装置，其中，不易发生导电部的裂缝和空隙，即使反复进行导通检测，导通性能也不易劣化，并且不易在与检测对象部件接触的部分留下接触痕迹。本发明的导通检测装置用部件，其具备：基体13、通孔11和导电部12，其中，多个通孔11配置于基体13，导电部12收纳于通孔11内。导电部12含有导电性粒子2。导电性粒子2包括基材粒子21以及配置于基材粒子21表面上的导电层22。导电层22在其外表面上具有多个突起23。

公开(公告)号：CN104459332B

公开(公告)日：2018-03-13

申请号：CN201410465286.0

申请日：2014-09-12

Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司

Inventor： 斯特凡·布施纳科斯基 ,  亚历山大·舍夫林

IPC: G01N27/42

CPC classification number: G01R1/073 ,  B23K1/0016 ,  B23K1/20 ,  B23K2101/38 ,  B32B37/1284 ,  G01N27/07

Abstract: 用于接触至少两个金属电极的方法及装置。本发明涉及一种用于接触至少两个金属电极的方法，其中，金属电极位于烧结陶瓷的基体的空腔内，并且金属电极的前端面被布置与基体的外表面基本平行。该方法包括如下步骤：将焊料引入到基体的至少一个孔中，其中，孔被实现为使得其通向金属电极的远离该金属电极的前端面的后部，其中，焊料可润湿金属电极的后部，其中，金属电极在其纵向方向上短于基体，特别仅为基体长度的1/5；将导线引入到孔内至少直到导线延伸到焊料内；以及把带有焊料和导线的基体加热到高于焊料的凝固温度。本发明进一步涉及一种装置以及一种包括这种装置的电导率传感器。

公开(公告)号：CN105556765A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201480051358.5

申请日：2014-09-09

Applicant: 恩普乐股份有限公司

Inventor： 铃木悟

IPC: H01R33/76 ,  G01R1/073

CPC classification number: H01R13/2485 ,  G01R1/073 ,  H01R12/714 ,  H05K7/1069

Abstract: 本发明提供一种即使反复使用也能够维持电阻值的稳定性的电气元件用插座。电气元件用插座的触头具备：下侧接触部，其与基板的触点电导通；弹簧部，其比下侧接触部向上方延伸设置，在按压时弹性变形；直线部，其自弹簧部的上端向上方延伸设置；以及上侧接触部，其形成于直线部的上端侧，在按压时，该上侧接触部利用弹簧部的弹力被压接于电气元件的端子，该上侧接触部包括：第1接触突起，其配置在直线部的延长线上，在按压时，第1接触突起以顶端部压接于电气元件的端子；以及第2接触突起，其为多个，第2接触突起配置在偏离了直线部的延长线的位置，在按压时，第2接触突起以顶端部压接于电气元件的端子。

公开(公告)号：CN102449490B

公开(公告)日：2015-07-01

申请号：CN201080023671.X

申请日：2010-03-30

Applicant: 卡普雷斯股份有限公司

Inventor： 亨里克·班克博 ,  彼得·福尔默·尼耳森 ,  沙克尔·沙勒丰 ,  劳厄·盖米伽德 ,  汉斯·亨里克·杰恩克契尔 ,  拉斯·诺雷加德

IPC: G01R1/073 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R3/00 ,  G01R1/06733 ,  G01R1/073 ,  G01R31/2887

Abstract: 公开了一种尤其适用于自动操作的多点探针。还公开了一种包括所述多点探针和探针操作器头的自动化多点测量系统。此外，还披露了一种包括探针座和所述探针操作器头的自动化多点探针夹持系统。另外，还披露了一种加载的探针加载器，它包括探针加载器和用于处理多点探针的探针盒，其中探针盒装备有用于固定多点探针的探针座。

公开(公告)号：CN104508502A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201380031788.6

申请日：2013-05-07

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 沃尔特·H·约翰逊 ,  建瓯·石 ,  董兰生 ,  彭海鲸 ,  刘相华 ,  金凯文(家洲) ,  张卓贤 ,  朱南昌

IPC: G01R27/02 ,  G01R1/073

CPC classification number: G01R1/06711 ,  G01R1/06733 ,  G01R1/06794 ,  G01R1/073

Abstract: 本发明揭示一种连续可变间距探针装置，其包含第一探针及第二探针。所述第一探针及所述第二探针经配置以测量导电层的性质。在第一配置中，所述第一探针及所述第二探针包含经布置以接触所述导电层以测量所述性质的相应第一部分。在第二配置中，所述第一探针及所述第二探针包含经布置以接触所述导电层以测量所述性质的相应第二部分。每一相应第一部分的第一区域不同于每一相应第二部分的第二区域。

公开(公告)号：CN104395764A

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201380032710.6

申请日：2013-06-20

Applicant: 卡普雷斯股份有限公司

Inventor： L·希夫

IPC: G01R1/073

CPC classification number: G01R1/073 ,  G01R1/07307 ,  G01R3/00 ,  H05K3/007

Abstract: 一种用于建立测试装置和测试样品之间的电连接的多点探针，该多点探针包括限定顶表面的基部和提供在顶表面上的多个迹线，每个迹线单独使用于建立与测试样品的电连接的接触垫和接触电极互相连接，每个迹线包括连接到接触垫的宽部和连接到接触电极的窄部；第一顶表面包括第一中间表面，每个使一对相邻的迹线在其各自的宽部相互连接，和第二中间表面，每个使一对相邻的迹线在其各自的窄部互相连接，并且第一中间表面提供在第一层级上，且第二中间表面提供在相对于基部在第一层级上方的第二层级上。

公开(公告)号：CN102890168B

公开(公告)日：2015-02-11

申请号：CN201210247223.9

申请日：2012-07-17

Applicant: 旺矽科技股份有限公司

Inventor： 顾伟正 ,  何志浩 ,  高振国 ,  谢昭平

IPC: G01R1/28 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R1/06 ,  G01R1/067 ,  G01R1/06772 ,  G01R1/073

Abstract: 本发明涉及一种高频讯号路径调整方式及其测试装置，测试装置具有一电路板、一探针组以及一路径调整器，电路板布设多个传输线，探针组设有多个探针，路径调整器设有多个相同长度的第一导线，任一该第一导线可置换为其他长度的一第二导线，各该导线的两端分别与该电路板的传输线及该探针组的探针电连接，上述高频讯号从一该传输线传经该第一导线至一该探针与从另一该传输线传经该第二导线至另一该探针具有相同的传输时序。使本发明可弥补高频测试装置的模块工程所产生的制程误差，有效提升晶圆测试工程的高频传输带宽。

公开(公告)号：CN104198778A

公开(公告)日：2014-12-10

申请号：CN201410341798.6

申请日：2010-03-30

Applicant: 卡普雷斯股份有限公司

Inventor： 亨里克·班克博 ,  彼得·福尔默·尼耳森 ,  沙克尔·沙勒丰 ,  劳厄·盖米伽德 ,  汉斯·亨里克·杰恩克契尔 ,  拉斯·诺雷加德

IPC: G01R1/073 ,  G01R1/04 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R3/00 ,  G01R1/06733 ,  G01R1/073 ,  G01R31/2887

Abstract: 公开了一种尤其适用于自动操作的多点探针。还公开了一种包括所述多点探针和探针操作器头的自动化多点测量系统。此外，还披露了一种包括探针座和所述探针操作器头的自动化多点探针夹持系统。另外，还披露了一种加载的探针加载器，它包括探针加载器和用于处理多点探针的探针盒，其中探针盒装备有用于固定多点探针的探针座。

公开(公告)号：CN104160280A

公开(公告)日：2014-11-19

申请号：CN201280070377.3

申请日：2012-04-17

Applicant: 罗德施瓦兹两合股份有限公司

Inventor： 亚历山大·库恩泽 ,  马丁·佩斯克 ,  斯蒂芬·克泽尔

IPC: G01R1/067

CPC classification number: G01R1/06788 ,  G01R1/06738 ,  G01R1/06766 ,  G01R1/073 ,  G01R1/07307

Abstract: 本发明涉及一种用于差分信号测量的扫描头的适配器，包括两个导电的测量触点元件(5)，所述测量触点元件(5)分别用于检测所述差分信号的局部信号，且分别相对于旋转轴线偏心布置。此外，在所述适配器中提供两个设置部件(1；1’)，所述的每个设置部件(1；1’)可围绕所述两个旋转轴线中的一个旋转，用于设置所述两个测量触点元件(5)之间的可变距离。所述的两个设置部件(1；1’)通过压配被连接到彼此。

公开(公告)号：CN100516887C

公开(公告)日：2009-07-22

申请号：CN200510084702.3

申请日：2000-11-13

Applicant: 东丽工程株式会社

Inventor： 佐藤谦二 ,  和田浩光 ,  村井富士夫 ,  三村浩一 ,  秋田雅典

IPC: G01R1/073 ,  G01R31/02 ,  G01R31/28 ,  G02F1/1345

CPC classification number: G02F1/13452 ,  G01R1/06772 ,  G01R1/073 ,  G01R31/2886 ,  G02F1/1309 ,  Y10T29/49117

Abstract: 一种探测装置，它具备检测设备10、中间基板3以及探测基板4，检测设备10与中间基板3的基端侧电气连接，中间基板3的前端侧与探测基板4的基端侧电气连接，探测基板4的前端侧与检测对象基板电气连接，其中，对于一个中间基板3电气连接多个探测基板4。由于当特定的探测基板4损伤时，能够仅交换该特定的探测基板4而继续使用其他探测基板4，故很经济。