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公开(公告)号：CN102414604B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201080020038.5
申请日：2010-05-07
Applicant: 株式会社COWINDST
IPC: G02F1/1335 , G02F1/13
Abstract: 本发明涉及一种用于修复显示装置的亮点缺陷的设备，尤其是，涉及一种激光束的能量密度在整个激光束照射区域均匀的，用于修复显示装置的亮点缺陷的设备。根据本发明的修复亮点缺陷的设备包括：激光单元，其用于照射激光束至具有亮点缺陷的滤色器；扫描器，其用于在所述滤色器的照射区域中扫描所述激光束；及，光束处理面控制构件，其用于过滤扫描的激光束，以防止在加速区域或减速区域中照射至所述滤色器。
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公开(公告)号：CN101707897A
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200880020731.5
申请日：2008-06-17
Applicant: 株式会社COWINDST , 金一镐
Inventor： 金一镐
IPC: G02F1/1335
Abstract: 在此公开了修复显示器装置的亮点像素瑕疵的方法，该方法能够选择性地使用一波长范围的激光——该波长范围的激光关于具有亮点像素瑕疵的滤色器具有高吸收光谱，从而有效地修复该滤色器的亮点像素瑕疵。当修复有起偏振片附接到其上的显示器装置的亮点像素瑕疵时，该方法包括：当具有亮点像素瑕疵的滤色器是红色(R)区域时，照射具有400至550nm的波长的激光；当具有亮点像素瑕疵的滤色器是绿色(G)区域时，照射具有400至480nm的波长或600至750nm的波长的激光；和/或，当具有亮点像素瑕疵的滤色器是蓝色(B)区域时，照射具有520至750nm的波长的激光。
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公开(公告)号：CN101779157B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200880102671.1
申请日：2008-06-17
Applicant: 株式会社COWINDST
Inventor： 金一镐
IPC: G02F1/1335
Abstract: 在此公开了一种修复显示器装置的亮点像素瑕疵的方法，该方法能够使用激光有效地修复显示器装置的亮点像素瑕疵。当该显示器装置包括黑色基质时，该方法包括使用激光在具有亮点像素瑕疵的滤色器处或在该滤色器和玻璃之间形成一个间隙，并且使用激光分解与该滤色器相邻的黑色基质。
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公开(公告)号：CN102236248A
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201010153020.4
申请日：2010-04-20
Applicant: 株式会社COWINDST
Abstract: 本公开内容涉及一种用于修复半色调掩模的方法和系统，其可通过执行一个修复过程来确保修复部分均匀的透过率，且即便是在表层膜形成之后，也能提供除去缺陷这一功能，所述修复过程包括：使用激光束从半色调掩模中除去缺陷；在缺陷区域上有效地形成阻挡膜；调节阻挡膜的厚度；以及实时地调节透过率。
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公开(公告)号：CN101779157A
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN200880102671.1
申请日：2008-06-17
Applicant: 株式会社COWINDST , 金一镐
Inventor： 金一镐
IPC: G02F1/1335
Abstract: 在此公开了一种修复显示器装置的亮点像素瑕疵的方法，该方法能够使用激光有效地修复显示器装置的亮点像素瑕疵。当该显示器装置包括黑色基质时，该方法包括使用激光在具有亮点像素瑕疵的滤色器处或在该滤色器和玻璃之间形成一个间隙，并且使用激光分解与该滤色器相邻的黑色基质。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102779953B
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201210149047.5
申请日：2012-05-14
Applicant: 株式会社COWINDST , 乐金显示有限公司
IPC: H01L51/56 , B23K26/352
Abstract: 本发明涉及一种像素重新生成设备和使用该设备的像素重新生成方法。根据本发明的重新生成有机发光二极管的像素的方法，包括：第一步，将包括第一电极和第二电极的有机发光二极管排列在平台上，第一电极和第二电极形成于基板上，以将有机发光层置于其间，并彼此交叉；和第二步，通过使用像素重新生成设备将激光照射到第一电极和第二电极之间的有机发光层中存在的导电粒子的区域。本发明的优势在于由于导电粒子造成的AMOLED的像素的缺陷区域可通过将激光照射到该区域上而被重新生成，从而能够保证产品的可靠性，并提高生产量。
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公开(公告)号：CN102414604A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201080020038.5
申请日：2010-05-07
Applicant: 株式会社COWINDST
IPC: G02F1/1335 , G02F1/13
Abstract: 本发明涉及一种用于修复显示装置的亮点缺陷的设备，尤其是，涉及一种激光束的能量密度在整个激光束照射区域均匀的，用于修复显示装置的亮点缺陷的设备。根据本发明的修复亮点缺陷的设备包括：激光单元，其用于照射激光束至具有亮点缺陷的滤色器；扫描器，其用于在所述滤色器的照射区域中扫描所述激光束；及，光束处理面控制构件，其用于过滤扫描的激光束，以防止在加速区域或减速区域中照射至所述滤色器。
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公开(公告)号：CN101796453A
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN200880020871.2
申请日：2008-06-17
Applicant: 株式会社COWINDST , 金一镐
Inventor： 金一镐
IPC: G02F1/1335
Abstract: 在此公开了修复显示器装置的亮点像素瑕疵的方法，该方法能够使用一波长范围的激光非常有效地修复亮点像素瑕疵，该波长范围的激光关于相应像素具有高吸收光谱。当修复无起偏振片附接到其上的显示器装置的亮点像素瑕疵时，该方法包括：当具有亮点像素瑕疵的滤色器是红色(R)区域时，照射具有270至550nm的波长的激光；当具有亮点像素瑕疵的滤色器是绿色(G)区域时，照射具有270至480nm的波长或600至750nm的波长的激光；和/或，当具有亮点像素瑕疵的滤色器是蓝色(B)区域时，照射具有270至390nm的波长或520至750nm的波长的激光。
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公开(公告)号：CN101611339A
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200780048403.1
申请日：2007-12-24
Applicant: 株式会社COWINDST , 金一镐
Inventor： 金一镐
IPC: G02F1/13
CPC classification number: G02F1/1303 , B23K26/0006 , B23K26/066 , B23K26/354 , B23K2103/50 , C23C16/0263 , C23C16/06 , C23C16/483 , G02F2001/136263
Abstract: 本发明涉及一种形成金属薄膜的装置及方法，其中，当液晶显示器装置的金属图案为开路时，利用镭射在上部绝缘层中形成孔和在孔之间形成金属薄膜，进而连接所述开路金属图案的非连接部位。当沉积在基板上的金属图案(41)为开路时，所述金属薄膜形成方法连接开路金属图案的非连接部位。通过照射第一镭射清除金属图案上的绝缘层，可在其上沉积薄膜的第一和第二连接孔(44)形成于金属图案中。通过照射第二镭射，以金属薄膜(46)填充连接孔。通过照射第二镭射在孔之间形成金属薄膜。
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公开(公告)号：CN102939544A
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：CN201180018013.6
申请日：2011-04-06
Applicant: 株式会社COWINDST
IPC: G01R1/06 , H01L21/66 , G02F1/1345
CPC classification number: G02F1/1309 , G02F1/13458 , G02F1/136259 , H01L22/32
Abstract: 本发明涉及一种焊垫图案修复设备。本发明提供一种用于修复在配备成将信号施加于多个基板中的一者的焊垫电极中的缺陷的设备，包括：阶台，基板装载进阶台的参考面；腔室，第一排放口、保护气体出口及第二排放口关于激光发射孔而依序地形成在腔室的下表面中，腔室被装备在阶台上并移动至焊垫电极的缺陷位置，且腔室在激光发射孔的中间具有将净化气体及原料气体排出的结构；以及夹钳，被安装在阶台上并支撑紧密黏附于参考面的基板的相对面，其中基板及腔室的下表面之间的间隙在腔室的下表面的内部及外部变化。根据本发明的焊垫图案修复设备将在进行修复缺陷的区域中的压力维持于不变的层级，而改善工艺合格率。
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