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公开(公告)号：CN110914992A
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201880037340.8
申请日：2018-04-06
IPC: H01L27/146 , G02B5/20
Abstract: 根据一个方面，本发明涉及一种红外多光谱成像装置(20)，其适于检测至少一个第一和一个第二检测波长。其包括检测矩阵阵列(23)，包括形成给定尺寸图像场的一组预设尺寸基本检测器(23i)；和具有给定开口数量(N)和给定焦距(F)的成像光学器件(22)，该数量和焦距适于在图像场的每个点处形成覆盖一组至少并置的两个基本检测器的焦点。该装置还包括金属电介质导模共振基本滤光器矩阵阵列(24)，该矩阵阵列以小于光学器件(22)的焦深的距离设置在检测矩阵阵列(23)前方，基本滤光器尺寸选择为使得在图像场的每个点处形成的每个基本焦点覆盖至少两个基本滤光器；且基本滤光器针对以等于所述检测波长中的两个的两个不同中心波长为中心的光谱带中的带通透射优化。
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公开(公告)号：CN105981179A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201480075386.0
申请日：2014-12-17
IPC: H01L31/0232 , H01L31/0304 , H01L31/105 , H01L31/109
CPC classification number: H01L31/02327 , H01L31/0304 , H01L31/03046 , H01L31/035209 , H01L31/105 , H01L31/109 , Y02E10/544 , Y02P70/521
Abstract: 根据一个方面，本发明涉及一种用于对以中心波长λ0为中心的光谱带中的入射辐射进行量子光电探测的元件，具有旨在用于接收所述辐射的正面，且包括：半导体材料的层的堆叠，其形成PN或PIN结且包括由截止波长为λc>λ0的吸收半导体材料制成的至少一层，所述半导体材料的层的堆叠形成谐振光学腔；以及用于将入射辐射与所述光学腔耦合的结构，从而形成：所述中心波长λ0处的谐振，使得在所述中心波长处所述吸收材料层中的吸收大于80％；和在辐射波长λrad处不存在谐振，其中所述辐射波长λrad是在操作温度下辐射复合率最高的波长。
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公开(公告)号：CN101384888A
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：CN200780005898.X
申请日：2007-02-15
Applicant: ONERA(法国宇航院)
CPC classification number: G01J9/02 , G01J2009/0226
Abstract: 本发明与波前分析方法有关，该方法涉及采用频差的多侧干涉测量法。根据本发明，在待分析的光束的路径上放置具有二维网格的衍射光栅(GR)并且处理至少两种不同颜色的至少两个干涉图，每个干涉图是在一平面(PS)中从两个具有不同衍射级的子光束(R1，R2)获得的。本发明可用于分析和校正错位波前(S)。
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公开(公告)号：CN105452909B
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201480045295.2
申请日：2014-06-17
CPC classification number: G02B5/208 , G01J1/0492 , G01J5/20 , G01J2005/202 , G02B5/008 , G02B5/1809 , G02B5/201 , G02B5/203 , G02B5/22 , G02B5/26 , G02B5/281 , G02B5/288
Abstract: 根据一个方面，本发明涉及一种角度光过滤单元(Ei)，优化用于在给定光谱带中关于给定操作入射角(θi，i)的角度过滤。角度过滤单元(Ei)包括第一纳米结构带通光谱过滤器(11i，301)以及第二纳米结构带通光谱过滤器(12i，302)。第一和第二光谱过滤器的每一个分别在所述光谱带中包括第一和第二中心过滤波长，其分别具有基于在光过滤单元(Ei)上的入射角(θinc)而定义的第一和第二角度分散曲线，该角度分散曲线关于光过滤单元的操作入射角(θi，i)相割。本发明适用于生产选择性角度过滤设备以及多方向光检测系统。
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公开(公告)号：CN105026980A
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：CN201380068702.7
申请日：2013-11-29
Applicant: 法国宇航院
CPC classification number: G02B27/0087 , B82Y20/00 , G01J9/00 , G02B5/008 , G02B5/1809 , G02B27/58
Abstract: 根据一个方面,本发明涉及一种用于控制具有给使用光谱带中的波长的入射光学波阵面的相位的器件(20、50),该器件包括在所述光谱带中至少部分透明的基板(21)，以及被布置为与所述基板的表面基本垂直的片组(22i、23i、24i)，其特征在于：所述片组包括交替的并列片，所述并列片分别由金属材料(22i)、由第一电介质材料(23i)以及至少一种不同于所述第一电介质材料的第二电介质材料(24i)制成，以便形成亚波长宽度(wi)的并列的金属/多电介质/金属(MmultiDM)结构(Si)，每个结构形成具有一种或多种传播模式的腔体；-在每个所述MmultiDM结构中调整由第一电介质材料制成的片和由多种第二电介质材料制成的片各自的厚度，以引起所述波阵面的相位的局部偏移(ΔΦi)，所述局部相位偏移取决于能够在所述腔体中传播的所述一种模式或多种模式的有效指数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103930755A
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201280044662.8
申请日：2012-07-13
Applicant: 中央科学研究中心 , 法国宇航院 , 原子能和替代能源专员署
CPC classification number: G01J5/20 , G01J5/08 , G01J5/0853 , G01J2005/204 , H01L27/14685 , H04N5/33
Abstract: 本发明是有关对给定光谱带的光辐射进行热探测的微测热辐射计阵列，包括一个支撑衬底和给定规模的微测热辐射计阵列（300），排列成阵列。每一个上述的微测热辐射计包括一个悬挂于上述支撑衬底之上的隔膜（301），所述隔膜包括一个吸收入射辐射的元件（305）和一个与吸收器热接触的测温元件（304），与上述吸收元件电绝缘。吸收元件包括至少一个第一金属/绝缘体/金属（MIM）结构，包括多个三层亚微细粒厚度的膜，即，第一金属膜（311），电介质膜（310），和第二金属膜（309），上述MIM结构具有对上述光谱带中的至少一种波长的入射辐射的谐振吸收。微测热辐射计像素被上述隔膜（301）覆盖的区域小于或等于整个微测热辐射计像素区域的一半。
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公开(公告)号：CN101571423A
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200910133676.7
申请日：2009-04-22
Applicant: 法国宇航院(ONERA)
CPC classification number: G01J9/0215
Abstract: 本发明涉及用于对从源(S)到透镜(O1)的焦点的光束(F)的波面进行分析的方法。该束(F)照射分析平面(PD)上的且具有缺陷(D1)的样品(LA)。平面(PC)的衍射光栅(GR)通过聚焦系统(O2，O3，O4)与分析平面(PD)共轭。图像形成在距光栅平面(GR)距离(d)处的平面(PS)中并由处理装置(UT)来分析。本发明通过从两个相位函数的复合得到相位函数来对该光栅(GR)进行编码，第一排除函数定义以锥形光束的形式透射所要分析的束的有用区域的啮合，而第二相位基础函数生成来自排除光栅的相邻网格的两个锥形光束之间的相位移相。
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公开(公告)号：CN108136810B
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201680055752.5
申请日：2016-07-05
Applicant: 法国宇航院
IPC: B42D25/36 , G02B5/00 , B42D25/324 , B42D25/305
Abstract: 根据第一方面，本说明书涉及一种用于对图像进行光学编码的装置，该装置旨在在至少一个第一观察光谱带中进行观察。编码装置包括支撑结构和形成在所述支撑结构上的一组金属‑电介质‑金属等离激元天线，每个等离激元天线在包含于所述第一观察光谱带中的至少一个波长处谐振，所述等离激元天线在空间上布置在所述支撑结构上使得在所述第一观察光谱带中形成所述图像的至少一个第一空间编码。
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公开(公告)号：CN105981179B
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201480075386.0
申请日：2014-12-17
IPC: H01L31/0232 , H01L31/0304 , H01L31/105 , H01L31/109
CPC classification number: H01L31/02327 , H01L31/0304 , H01L31/03046 , H01L31/035209 , H01L31/105 , H01L31/109 , Y02E10/544 , Y02P70/521
Abstract: 根据一个方面，本发明涉及一种用于对以中心波长λ0为中心的光谱带中的入射辐射进行量子光电探测的元件，具有旨在用于接收所述辐射的正面，且包括：半导体材料的层的堆叠，其形成PN或PIN结且包括由截止波长为λc>λ0的吸收半导体材料制成的至少一层，所述半导体材料的层的堆叠形成谐振光学腔；以及用于将入射辐射与所述光学腔耦合的结构，从而形成：所述中心波长λ0处的谐振，使得在所述中心波长处所述吸收材料层中的吸收大于80％；和在辐射波长λrad处不存在谐振，其中所述辐射波长λrad是在操作温度下辐射复合率最高的波长。
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公开(公告)号：CN105026980B
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201380068702.7
申请日：2013-11-29
Applicant: 法国宇航院
CPC classification number: G02B27/0087 , B82Y20/00 , G01J9/00 , G02B5/008 , G02B5/1809 , G02B27/58
Abstract: 根据一个方面,本发明涉及一种用于控制具有给使用光谱带中的波长的入射光学波阵面的相位的器件(20、50),该器件包括在所述光谱带中至少部分透明的基板(21)，以及被布置为与所述基板的表面基本垂直的片组(22i、23i、24i)，其特征在于：所述片组包括交替的并列片，所述并列片分别由金属材料(22i)、由第一电介质材料(23i)以及至少一种不同于所述第一电介质材料的第二电介质材料(24i)制成，以便形成亚波长宽度(wi)的并列的金属/多电介质/金属(MmultiDM)结构(Si)，每个结构形成具有一种或多种传播模式的腔体；‑在每个所述MmultiDM结构中调整由第一电介质材料制成的片和由多种第二电介质材料制成的片各自的厚度，以引起所述波阵面的相位的局部偏移(ΔΦi)，所述局部相位偏移取决于能够在所述腔体中传播的所述一种模式或多种模式的有效指数。
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